устройство измерения атомарной топографии поверхности

Классы МПК:G01B7/34 для измерения шероховатости или неровностей поверхностей 
Автор(ы):, , ,
Патентообладатель(и):Санкт-Петербургский государственный технический университет
Приоритеты:
подача заявки:
1994-07-18
публикация патента:

Устройство измерения атомарной топографии поверхности, содержащее зонд, устройство перемещения зонда по оси Х, устройство перемещения зонда по оси Y, устройство перемещения зонда по оси Z, высоковольтный усилитель, блок управления сканированием, блок предварительного усиления, отличающееся тем, что в устройство дополнительно введены компаратор, блок управления зондом по оси Z, фиксатор выходного сигнала, при этом один вход компаратора соединен с выходом блока предварительного усиления, а второй предназначен для подачи опорного значения туннельного тока, выход компаратора соединен с первым входом блока управления зондом по оси, второй вход которого предназначен для поступления сигнала, задающего расстояние отвода зонда от поверхности, а третий вход соединен с дополнительно введенным выходом блока управления сканированием, первый выход блока управления зондом по оси Z соединен с входом высоковольтного усилителя и первым входом фиксатора выходного сигнала, второй выход связан с вторым входом фиксатора выходного сигнала, а третий - с дополнительно введенным входом блока управления сканированием.

Описание изобретения к патенту

Класс G01B7/34 для измерения шероховатости или неровностей поверхностей 

устройство автоматического контроля прямолинейности сварных стыков рельсов и способ его использования -  патент 2520884 (27.06.2014)
способ определения кинетики износа поверхностей деталей машин -  патент 2494342 (27.09.2013)
способ обнаружения дефектов поверхности катания колес железнодорожных транспортных средств в движении -  патент 2480711 (27.04.2013)
способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной обработки -  патент 2475700 (20.02.2013)
профилометр для контроля микрогеометрии коллекторов электрических машин -  патент 2422767 (27.06.2011)
сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством измерения массы и диссипативных свойств -  патент 2407021 (20.12.2010)
сканирующий зондовый микроскоп с контролируемой средой измерения -  патент 2401983 (20.10.2010)
устройство для измерения шероховатости наружной сферической поверхности детали (варианты) -  патент 2392583 (20.06.2010)
способ контроля плоскостности поверхностей трубопроводной арматуры и устройство для его осуществления -  патент 2386104 (10.04.2010)
нутромер -  патент 2381440 (10.02.2010)
Наверх