способ определения диэлектрической проницаемости и толщины верхнего слоя грунта планеты

Классы МПК:G01N22/00 Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Институт радиотехники и электроники РАН
Приоритеты:
подача заявки:
1992-12-29
публикация патента:

Относится к планетарной радиофизике и разведочной геофизике, а именно, к активным способам дистанционного (бесконтактного) определения электрических характеристик (комплексной диэлектрической проницаемости) подповерхностных слоев грунта планеты.

Способ определения диэлектрической проницаемости и толщины верхнего слоя грунта планеты заключается в зондировании с борта искусственного спутника планеты, движущегося по круговой или эллиптической орбите, поверхности планеты гармоническим сигналом с частотой f1, модулированным по амплитуде, с периодом повторения модулирующего сигнала Тм, приеме и измерении отраженных сигналов, измерении времени задержки отраженного сигнала, определении диэлектрической проницаемости грунта и толщины верхнего слоя грунта, при этом дополнительно зондируют поверхность планеты гармоническими сигналами на N-1 частотах fN, модулированными по амплитуде с периодом повторения модулирующего сигнала Тм, при этом зондирование осуществляют последовательно во времени, а частоты fN выбирают из соотношения fcn<f<f, где fcn и fcd - критические частоты ночной и дневной ионосферы планеты соответственно: Nminспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048Nmax; Nmin = 6 - 7, Nmaxспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 207104815, fк+1= fк+способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048f K = 1,2,...N; способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048f = (fN-f1)/N ; TM= Qспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048tспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 20710482ds/c+способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048t способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048tспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 207104810/f ; где способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048t - длительность гармонического сигнала; ds - расстояние от искусственного спутника планеты до поверхности планеты; с - скорость света, Q = TM/способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048t - скважность сигналов; Q способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 20710481 - 3, прием и измерение отраженных сигналов осуществляют в промежутках времени между зондированием двумя последовательными сигналами в N участках орбиты, при этом измеряют отдельно амплитуды Ui(fN) и Us(fN) и время задержки способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048i и способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048s отраженных дневной ионосферой и поверхностью планеты в условиях ночной ионосферы сигналов соответственно, а диэлектрическую проницаемость для грунта без потерь определяют по зависимости

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

где Rmax и Rmin - максимальный и минимальный коэффициенты отражения зависимости R(fN)=g2NU2S(fN)/U2i(fN), gN= способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048s/способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048i,, а толщину верхнего слоя грунта планеты определяют по формуле способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048, где f1min - значение частоты, на которой коэффициент отражения с ростом частоты достигает первого относительного минимума. 6 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6

Формула изобретения

Способ определения диэлектрической проницаемости и толщины верхнего слоя грунта планеты, заключающийся в зондировании с борта искусственного спутника планеты, движущегося по круговой или эллиптической орбите, поверхности планеты гармоническим сигналом с частотой F1, модулированным по амплитуде с периодом повторения модулирующего сигнала Tм, приеме и измерении отраженных сигналов, измерении времени задержки отраженного сигнала, определении диэлектрической проницаемости грунта и толщины верхнего слоя грунта, отличающийся тем, что дополнительно зондируют поверхность планеты гармоническими сигналами на N 1 частотах fn, модулированными по амплитуде с периодом повторения модулирующего сигнала Тм, при этом зондирование осуществляют последовательно во времени, а частоты fn выбирают из соотношения

fcn < fN < fcd,

где fcn и fcd критические частоты ночной и дневной ионосферы планеты соответственно:

Nmin способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 N способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 Nmax;

Nmin= 6 7;

Nmax способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 15;

fk+1=fk + способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048f;

k=1,2.N;

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048f = (fN-f1)/N;

TM= Qспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048tспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048(2ds/c)+способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048t;

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048tспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 207104810/f1,

где способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048t длительность гармонического сигнала;

ds расстояние от искусственного спутника планеты до поверхности планеты;

с скорость света;

Q = TM/способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048t скважность сигналов;

Q способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 1 3,

прием и измерение отраженных сигналов осуществляют в промежутках между зондированием двумя последовательными сигналами в N участках орбиты, при этом измеряют отдельно амплитуды Ui(fN) и US(fN) и время задержки способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 и способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 отраженных дневной ионосферой и поверхностью планеты в условиях ночной ионосферы сигналов соответственно, а диэлектрическую проницаемость для грунта без потерь определяют по зависимости

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

где Rmax и Rmin максимальный и минимальный коэффициенты отражения зависимости

R(fN)=g2NU2S(fN)/U2i(fN);

gN= способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048s/способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048i,

а толщину верхнего слоя грунта планеты определяют по формуле

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

где f1min значение частоты, на которой коэффициент отражения с ростом частоты достигает первого относительного минимума.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к планетной астрофизике и разведочной геофизике, а именно, к активным способам дистанционного (бесконтактного) определения электрических характеристик (комплексной диэлектрической проницаемости способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 = способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048(1+itgспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048) подповерхностных слоев грунта планеты в зависимости от глубины на основе электромагнитного зондирования и приема отраженных радиоволн с борта искусственного спутника планеты.

Известен способ, суть которого заключается в следующем [1] с борта искусственного спутника Луны излучают в направлении поверхности планеты (в надир) импульсные радиолокационные сигналы на одной частоте, принимают отраженные поверхностью планеты и отраженные подповерхностной границей раздела слоев на глубине L радиосигналы, измеряют время задержки способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048t между сигналом, отраженным поверхностью планеты, и сигналом, отраженным подповерхностной границей раздела слоев, определяют электрическую толщину верхнего слоя грунта способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048, где способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 диэлектрическая проницаемость грунта, с скорость света в вакууме.

Недостатками этого способа является: 1) для реализации способа обязательно наличие подповерхностной границы раздела слоев на глубине L (в противном случае не будет второго отраженного сигнала для измерений времени задержки); 2) сигнал, отраженный от границы раздела слоев, может быть достаточно слабым, что предъявляет повышенные требования к чувствительности приемника и его динамическому диапазону; 3) выбор диапазона частот в сильной степени зависит от наличия априорной информации о глубине залегания границы раздела слоев L, 4) в результате измерений определяется только электрическая толщина верхнего слоя грунта способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 (значение диэлектрической проницаемости способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 не определяется).

Прототипом предлагаемого изобретения является способ [2] суть которого заключается в следующем: с борта воздушного судна (самолет, вертолет и т.п.) антенной апертурой 1 излучают в направлении поверхности планеты (в надир) радиолокационные сигналы на одной из высоких радиочастот, принимают и сравнивают мощности отраженного от поверхности планеты радиолокационного сигнала и излученного радиосигнала. Определяют расстояние ds до отражающей поверхности грунта планеты, определяют коэффициент усиления апертуры 1 и производят взвешивание результатов сравнения мощностей отраженного поверхностью грунта планеты и излученного радиосигналов. По результатам сравнения этих мощностей с учетом взвешивания вычисляют коэффициент отражения радиоволн по формуле Френеля и по его значению оценивают электрические характеристики грунта планеты.

Недостатком этого способа являются: 1) отсутствие оценки толщины верхнего слоя грунта, которому следует сопоставить измеряемые электрические характеристики, что связано с трудностью получения такой оценки при одночастотном способе измерений, 2) необходимость предварительной калибровки аппаратуры, включая антенно-фидерный тракт, для определения коэффициента усиления, что является технически сложной задачей. Кроме того, 3) одночастотный способ измерений не позволяет измерить распределение электрических характеристик грунта по глубине; 4) определяется только диэлектрическая проницаемость способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 верхнего слоя грунта на относительно высоких частотах.

Целью настоящего изобретения является расширение функциональных возможностей за счет определения зависимости от глубины диэлектрических характеристик (параметров) слоисто-неоднородного грунта планеты и снижение экономических затрат за счет упрощения процедуры калибровки аппаратуры.

Указанная цель достигается тем, что в известном способе при движении искусственного спутника планеты (ИСП) по круговой или эллиптической орбите дополнительно последовательно во времени с периодом амплитудной модуляции Тм излучают гармонические сигналы на (N-1) частотах fN= WN/2способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048, удовлетворяющих условию fcn<f<f, где fcn критическая частота ночной ионосферы планеты, fcd критическая частота дневной ионосферы планеты, Nminспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048Nспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048Nmax, Nmin=6 7, Nmaxспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 207104815, частоты последовательных сигналов связаны соотношением способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 скважность сигналов, Qспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 20710481 3, c= 3способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048108 м/с скорость света в вакууме, в промежутках между излучением двух последовательных сигналов на N участках орбиты измеряют отраженные дневной ионосферой амплитуды сигналов Ui(fN), измеряют время задержки отраженного сигнала способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048i, результаты измерений запоминают, измеряют отраженные поверхностью грунта амплитуды сигналов Us(fN) в N участках орбиты на ночной стороне поверхности зондирования планеты, измеряют время задержки отраженного сигнала способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048s, запоминают результаты измерений, проводят взвешивание принятых сигналов Us(fN) в соответствии с коэффициентами gN= способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048s/способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048i по результатам измерений определяют модуль коэффициента отражения R на частотах fN по формуле R(fN)=g2NU2S(fN)/U2i(fN) определяют частоты fmnin, n 1,2,3, n<N, на которых R как функция частоты имеет минимумы Rmin и частоты fmnax n 1,2,3. n<N, на которых R как функция частоты имеет максимумы, по результатам определения минимумов и максимумов коэффициента отражения составляет кусочно-непрерывную функцию распределения диэлектрических параметров грунта планеты по глубине по формулам: для грунта без потерь с непрерывным изменением значений диэлектрической проницаемости от значения способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 а по значению частоты f1min, на которой коэффициент отражения с ростом частоты достигает впервые относительного минимума, определяют толщину верхнего слоя грунта

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048.

В результате проведенных патентных исследований не установлено наличия технических решений, содержащих отличительные признаки предложенного технического решения. Таким образом, предложенное техническое решение удовлетворяет критерию "существенных отличий".

Рассмотрим физическую сущность предлагаемого способа. Для его реализации измерения проводят в три этапа. Первый этап калибровка аппаратуры. С этой целью при движении космического аппарата искусственного спутника планеты (ИСП) над освещаемой Солнцем дневной стороны ее поверхности выше максимума электронной концентрации ионосферы Nmспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048ax(Zm) (фиг. 1), где Zm - высота максимума электронной концентрации над поверхностью планеты, c борта ИСП в перпендикулярном к поверхности планеты направлении (в надир) излучают радиоволны разных частот fN, N=1,2,3, Nminспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048Nспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048Nmax; Nmin 6 7; Nmaxспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 207104815, при этом fN<f, где fcd критическая частота дневной ионоcферы при ее зондировании в надир, способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 максимум ионизации дневной ионосферы. Излучаемые на этих частотах радиоволны отражаются от ионосферы в обратном направлении с коэффициентом отражения Ri(fN) 1. Отражаемые мощности радиосигналов Pi(fN) принимают на борту ИСП и измеряют соответствующие им средние напряжения сигналов способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 где Ia то на клеммах антенны, Za входное сопротивление антенны. Одновременно измеряют время задержки принимаемого отражательного сигнала на частоте fN по отношению ко времени излучения радиосигнала той же частоты fN, запоминают результаты измерений.

На втором этапе измеряют отражаемые поверхностью грунта планеты радиолокационные сигналы. С этой целью при движении ИСП над неосвещенной Солнцем ночной поверхностью планеты с борта ИСП в надир излучают радиоволны тех же частот fN, N 1,2,3, Nminспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048Nспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048Nmax, Nmin 6 7; Nmaxспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 207104815 при этом fN>fcn, способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 максимум ионизации ночной ионосферы. Излучаемые радиоволны проходят через ионосферу и отражаются в обратном направлении от поверхности планеты. Отражаемые мощности радиосигналов Ps(fN) принимают на борту ИСП и измеряют соответствующие им средние напряжения сигналов способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 принимаемого отраженного поверхностью планеты сигнала относительно излученного радиосигнала той же частоты. Несмотря на то, что измерения на дневной и ночной сторонах планеты происходит со сдвигом по времени, это не сказывается на конечных результатах измерений, поскольку они выполняются в течение движения ИСП на одном витке орбиты, т. е. сдвиг по времени не превосходит нескольких часов в это время технические характеристики измерительного радиолокационного комплекса контролируют и результаты калибровки аппаратуры по отраженным от дневной ионосферы радиосигналам сохраняют свое значение для решения основной задачи. Такая калибровка, осуществляемая непосредственно перед измерениями, повышает качество измерений и существенно снижает экономические затраты на ее проведение, а в ряде случае она является единственно возможной при применении способа на удаленных от Земли планетах калибровка аппаратуры на земной поверхности затруднительна в силу отсутствия адекватных эксперименту условий. Проводят взвешивание отношения напряжений Us/Ui сигналов, отраженных поверхностью планеты и ее ионосферой, в соответствии с коэффициентами gN, вычисляемыми следующим образом.

Результат отражения радиоволн от поверхности планеты описывается известной формулой (3) для мощности Ps(fN),

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

где Pt мощность излучаемого сигнала,

Gt абсолютный коэффициент направленного действия антенн

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 расстояние от ИСП до поверхности планеты ds=r -a (фиг. 1,а);

R коэффициент отражения монохроматических радиоволн от поверхности планеты (по мощности).

Результат отражения радиоволн от ионосферы описывается аналогичной формулой

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 -

расстояние от ИСЗ до отражающей области ионосферы, di r-(a+Zm) (фиг. 1, а), Ri(fN) 1, fN<f. Мощность излучения Pt должна быть такой, чтобы значения принимаемых мощностей сигналов Ps и Pi обеспечивали превышение уровня сигнала над заданным пороговым уровнем Pmin. В качестве порогового значения Pmin обычно принимают значения, превышающие уровень мощности теплового шума способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048,

где k 1,38способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 207104810-23 Вт/Гцспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048град постоянная Больцмана, Т - абсолютная температура, способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048f полоса частот приемника.

Тогда условия Psспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048Pmin, Piспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048Pmin обеспечивают возможность приема и регистрации сигналов на выходе радиолокатора.

При заданных параметрах орбиты (высота круговой орбиты ds r-a над поверхностью планеты или значения перигея dp rp-a и апогея da ra-a эллиптической орбиты) и вычисленном значении Pmin из (1) и (2) определяют необходимую мощность излучения Pt и, cоответственно, амплитуду излучаемого гармонического сигнала способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 Амплитуда излучаемого сигнала постоянна для круговой орбиты ИСП и зависит от положения ИСП (дальности до планеты) на эллиптической орбите.

При построении радиолокатора технически целесообразно излучать постоянную мощность Pt как на круговой, так и на эллиптической орбите. Тогда при заданной мощности Pt (из условия технической реализуемости передатчика) из соотношения Ps Pmin и Pi Pmin определяют предельные значения высоты круговой орбиты dlim, при которой возможна реализация способа. При Ps Pmin и Pi Pmin имеем:

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

коэффициент пропорциональности, на который умножают отношение уровней сигналов, отраженных поверхностью планеты Us и ионосферой Ui. В дальнейшем будем называть их коэффициентами взвешивания. Из вычисляют по формуле (4) на основе измеренных значений способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048i и способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048s.

На третьем этапе результаты измерений по линии космической связи передают с борта искусственного спутника исследуемой планеты на Землю для определения коэффициента отражения R(fN) и характеристик подповерхностной структуры ее грунта. С этой целью решается обратная задача подповерхностного радиолокационного зондирования. Этот этап может быть реализован и на борту ИСП. Задача решается следующим образом.

Электрические характеристики грунта описывают комплексной диэлектрической проницаемостью способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 тангенс угла потерь. Для слоисто-неоднородной подповерхностной структуры грунта планеты распределение способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 по глубине представляют в виде кусочно-непрерывной функции способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 L толщина верхнего слоя грунта,

Z глубина от поверхности планеты Z=0.

Используют зависимость коэффициента отражения радиоволн от частоты fN, электрических характеристик грунта способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 Здесь R представляет собой коэффициент отражения радиоволн по мощности как отношение средних плотностей потоков энергии радиоволн, отраженных от поверхности планеты S1 и падающих на нее S0 (отношение модулей вектора Умова-Пойнтинга). Электрические свойства грунта, описываемые комплексной диэлектрической проницаемостью способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048, обуславливают ослабление поля радиоволн при распространении в толще грунта [4] формула (6) пригодна для грунтов с малым ослаблением радиоволн, т.е. малыми значениями тангенса угла потерь tgспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 20710481способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 I; tgспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 20710482способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 I. Это позволяет реализовать дистанционное зондирование при условии способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 Результат вычисления по формуле (7) схематически показан на фиг. 2. Как видно из (7) и фиг. 2 функция R(f) является осциллирующей и кроме того, она зависит от способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 и L, которые следует определить. Аналогичный вид имеет результат вычисления R(f) по формуле (6) с учетом множителя ослабления способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

Авторы показали, что на основе теоремы Ферма можно сформировать систему 3-х уравнений для определения 3-х неизвестных величин способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 и L для слоя грунта без потерь:

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

Решение системы уравнений

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

Таким образом, измерив экспериментально зависимость модуля коэффициента отражения от грунта как функцию частоты R R(f), можно определить толщину верхнего слоя L, его диэлектрическую проницаемость способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 по глубине в форме кусочно-непрерывной функции.

Авторы показали также, что при наличии потерь в грунте tgспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 20710481,2способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 0 система уравнений (8) сохраняет свой смысл, т.е. коэффициент отражения R в формуле (6) имеет минимумы и максимумы при тех же значениях частот fnmin и fmnax, но значения Rmax и Rmin в этом случае равны

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

Ослабление радиоволн (потери) в грунте обусловлены наличием электропроводимости грунта способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

На основе теории Дебая [5] известно, что диэлектрические потери на частотах f, превышающих частоту релаксации (инерционность процесса поляризации диэлектрика) fr, обратно пропорциональны частоте

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

в соответствии с их определением в (6) не зависят от частоты для грунтов с описанными свойствами. Известны эмпирические связи диэлектрической проницаемости способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

где способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 в г/см3. В итоге авторы получили следующее решение обратной задачи дистанционного радиолокационного зондирования грунта планеты, обладающего малыми потерями:

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

Таким образом, измерив экспериментально зависимость коэффициента отражения как функцию частоты R=R(f) от грунта, обладающего малыми потерями в верхнем слое, можно определить толщину верхнего слоя L, его диэлектрическую проницаемость способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

Диэлектрические характеристики неоднородного слоя грунта с непрерывным изменением значений диэлектрической проницаемости от способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 на глубине L (фиг. 3,а) можно определить следующим образом. На основе теории отражения радиоволн от слоисто-неоднородной среды и теории обыкновенных дифференциальных уравнений 2-го порядка можно получить общее выражение для коэффициента отражения на границе раздела "атмосфера поверхность планеты" при Z 0:

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

путем сшивания линейно-независимых решений Ф1(Z),Ф2(Z) дифференциального уравнения 2-го порядка

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

и их первых производных способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 чтобы удовлетворить условию непрерывности этих величин [7] на поверхностях раздела "атмосфера поверхность планеты" при Z 0 и "слой грунта нижнее полупространство" при Z -L. Здесь способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 20710482

диэлектрическая проницаемость на глубине L, отсчитываемой от поверхности. Учитывая физические представления о механизме отражения радиоволн и взяв в первом приближении в качестве решений

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

авторы получили выражения для предельных значений коэффициента отражения на низких частотах способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 которые подтверждаются результатами численного моделирования (фиг. 3,б). Откуда следуют формулы для определения диэлектрических постоянных грунта способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 Толщина верхнего слоя грунта L определяется по значению частоты fm1in из которой коэффициент отражения R(f), убывая с ростом частоты, впервые достигает минимума

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

На фиг. 1,а,б представлены схемы эксперимента по радиолокационному зондированию грунта планеты с борта ее искусственного спутника. На фиг. 1,а орбита круговая: Zm высота максимума электронной концентрации ионосферы, а радиус планеты, r расстояние от центра планеты до спутника. На фиг. 16 орбита эллиптическая: Zm высота максимума электронной концентрации ионосферы, а радиус планеты, ra,п расстояние от центра планеты до апогея орбиты А и перигея орбиты П, соответственно, rlim - предельная дальность рабочей зоны проведения эксперимента (rп<r), rs, rR расстояние от центра планеты до точек орбиты S и R, пересекающих границу "свет-тень" при входе ИСП в область тени rs и выходе из нее rR, соответственно.

На фиг. 2,а показана модель диэлектрической проницаемости способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 в зависимости от глубины Z, соответствующая подповерхностной структуре грунта планеты в виде однородного слоя грунта толщиной L с диэлектрической проницаемостью способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 на уходящем в глубь планеты полубесконечном слое с диэлектрической проницаемостью способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048. Эта модель описана формулой (5). На фиг. 2,б показана зависимость коэффициента отражения радиоволн от поверхности планеты с диэлектрической проницаемостью грунта способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048(Z), описываемой формулой (5) и фиг. 2,а, как функция частоты f. На фиг. 3,а показаны модели 1 5 неоднородного слоя грунта L с непрерывным изменением диэлектрической проницаемости по координате слоя -L<Z<0. На фиг. 3,б показана частотная зависимость коэффициента отражения радиоволн от поверхности планеты с непрерывной зависимостью диэлектрической проницаемости грунта способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048(Z) в слое -L<Z<0 для модели 5, характерным является убывание коэффициента отражения с ростом частоты. На фиг. 4 представлена схема устройства для реализации предложенного способа. На фиг. 5 представлена временная циклограмма последовательного излучения гармонических сигналов на N частотах. На фиг. 5: t время, Ut амплитуда излучаемых сигналов, Тм период амплитудной модуляции, способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048t длительность излучаемого сигнала, tk моменты начала излучения последовательных сигналов (К 1,2,3,N), tк+способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048t моменты окончания сигналов. Длительность излучения способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048tк= tк+1-tк,, для гармонических сигналов связана с частотой сигнала соотношением способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

Период модуляции Тм учитывает наличие паузы между излучением двух последовательных сигналов для приема отраженного сигнала и удовлетворяют соотношению Tм= Qспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048tспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048(2ds/c)+способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048t, где Q = Tм/способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048t скважность радиолокационных сигналов Qспособ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 20710481 3, ds расстояние от ИСП до поверхности планеты. По результатам наземных траекторных измерений при формировании рабочей орбиты спутника до проведения измерений по радиолокационному зондированию известны моменты времени и точки орбиты пересечения спутником границы освещенной Солнцем (дневной) и теневой (ночной) стороны планеты при заходе в солнечную тень и выходе из нее ИСП.

При осуществлении предложенного способа происходят в три этапа следующие операции. На первом этапе измерений осуществляют калибровку аппаратуры при движении спутника над дневной стороной планеты.

1.1 Излучают последовательно во времени с периодом модуляции м гармонические сигналы на N разных частотах fN при помощи реализуемых передатчика и антенны. Циклограмма излучения сигналов показана на фиг.5.

1.2. В паузе между излучением двух последовательных сигналов измеряют уровни напряжения радиосигналов способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048, отражаемых от разных по высоте ZN над поверхностью планеты областей ионосферы где ZN определяют из условия равенства нулю диэлектрической проницаемости ионосферы способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

1.3. Измеряют задержку способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048iк, К 1,2,3,N времени прихода отраженного сигнала tiк+1 относительно времени злучения сигнала tiк известным способом. В дальнейшем обозначаем способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048iк = способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048i.

1.4. Результаты измерений запоминают для последовательности известных частот fN при помощи стандартного запоминающего устройства (бортового магнитофона).

На втором этапе измерений осуществляют измерение коэффициента отражения радиоволн R от поверхности грунта планеты как функцию частоты f при движении спутника над ночной стороной планет.

2.1. Излучают последовательно во времени с периодом модуляции Тм гармонические сигналы на N разных частотах fN, используя те же передатчики и антенну.

2.2. В паузе между излучением двух последовательных сигналов измеряют уровни напряжения радиосигналов способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048, отражаемых от поверхности грунта планеты.

2.3. Измеряют задержку способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048sк времени прихода отраженного от поверхности сигнала tk+1 относительно времени излучения сигнала tk, т.е. способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048sк = tsк+1-tsк. В дальнейшем обозначаем способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048sк = способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048s.

2.4. Результаты измерений запоминают для последовательности известных частот fN при помощи стандартного запоминающего устройства.

2.5. Сформированный массив чисел по линии космической связи передают на Землю для решения обратной задачи радиолокационного зондирования поверхности планеты определения характеристик подповерхностной структуры грунта.

На третьем этапе осуществляют следующие операции

3.1. Определяют коэффициенты взвешивания gN в виде отношения gN= способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048s(fN)/способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048i(fN) и возводят в квадрат путем перемножения двух значений gN.

3.2. Определяют отношение уровней сигналов Us(fN)/Ui(fN) и возводят это отношение в квадрат путем перемножения.

3.3. Определяют последовательность значений модуля коэффициента отражения радиоволн R(fN) поверхностью грунта планеты перемножением R(f1) = g2N(Us/U1)2. В результате формируют функцию R R(f) в виде массива чисел, что соответствует табличному заданию функции.

3.4. Воспроизводят функцию R(f) в графическом виде для ее идентификации с модельными представлениями, определяют частоты максимумов fmnax и минимумов fmnin, где n номер максимума или минимума, соответственно.

3.5. Определяют значение максимума модуля коэффициента отражения Rmax путем перебора значений R(fN) и их сравнения по критерию оценки наибольшего значения.

3.6. Определяют значение минимума модуля коэффициента отражения Rmin путем перебора измеренных значений R(fN) и их сравнения по критерию оценки наименьшего значения.

3.7. Определяют значение диэлектрической проницаемости верхнего слоя грунта

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 3) для грунта без потерь с непрерывным изменением значений диэлектрической проницаемости от значений способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

3.8. Определяют разность частот способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048f = fmnax-fmnin и частоту fmiin

3.9. Определяют толщину верхнего слоя грунта планеты: для случаев 1) и 2) по формуле способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

Операции (1.1) (1.2), (2.1) (2.2), (3.1) (3.9) являются новыми, операции (1.3 1.4) (2.3 2.5) являются усовершенствованными.

Устройство реализующее предложенный способ изображено на фиг. 4, оно состоит из модуля измерений и модуля параметров. Модуль измерений содержит антенну 1 для излучения и приема радиолокационных сигналов, коммутатор 2 подключает к антенне попеременно передатчик 4 или приемник 5, блок 3 управления и синхронизации, 6 синтезатор частот, 7 регистратор отраженного радиолокационного сигнала, блок 8 измерения времени задержки отраженных сигналов, блок 9 запоминающее устройство. Модуль параметров содержит наземное запоминающее устройство 10, блоки умножения 11 14 для определения квадратов задержки способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 блока определения коэффициента отражения 17, блока 18 идентификации (индикации) коэффициента отражения и определения частот его максимумов (первого минимума в случае 3), блока 19 определения минимума коэффициента отражения, блока 20 определения максимума коэффициента отражения и блоков решения обратной задачи: блока 21 определения толщины верхнего слоя грунта L, блока 22 определения диэлектрической проницаемости способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 на поверхности планеты, блока 23 определения диэлектрической проницаемости грунта на глубине L.

При этом устройство работает следующим образом. Работа начинается по сигналу бортового "командного модуля". Антенна (1) через коммутатор (2) соединена с передатчиком (4) и приемником (5). Передатчик может излучать радиосигналы всех частот как последовательно, так и параллельно. На вход передатчика (4) поступают сигналы N радиочастот с первого выхода блока управления и синхронизации (3), со второго выхода которого сигналы управления и синхронизации подаются на вход синтезатора частот (6), а с третьего и четвертого выходов сигналы поступают, соответственно на первый вход передатчика (4) и на первый вход регистратора отраженных сигналов (7), с первого выхода синтезатора (6) сигналы поступают на вход блока управления и синхронизации (3), а со второго, третьего и четвертого выходов блока (6) сигналы поступают, соответственно, на второй вход приемника (5), на первый вход которого поступают отраженные сигналы с коммутатора (2), на второй вход регистратора отраженных сигналов (7) и на второй выход блока измерения времени задержки (8), на первый вход которого поступают отраженные сигналы с выхода приемника (5), с выходов блоков (7) и (8) сигналы поступают в запоминающее устройство (ЗУ) (9), в котором хранятся до передачи на Землю по линии космической связи для последующего анализа. Анализ осуществляется в модуле параметров путем реализации алгоритма решения обратной задачи радиолокационного подповерхностного зондирования. Модуль параметров может быть установлен на борту АМС (ИСП), либо по линии космической связи результаты измерений передаются на Землю и сосредотачиваются в ЗУ модуля параметров (блок 10). Из блока 10 результаты измерений поступают на два параллельных входа блоков (11 14), представляющих собой арифметические устройства для выполнения операции перемножения. Выходы блоков (11 12) соединены с первым и вторым входами блока (15), а выходы блоков (13 14) соединены с первым и вторым входами блока (16). С выходов блока (15) и блока (16) данные поступают на первый и второй входы блока (17). Блоки (15) и (16) арифметические устройства для выполнения операции деления, блок (17) арифметическое устройство для выполнения операции умножения на основе формулы (3) и определения коэффициента отражения радиоволн от поверхности планеты R последовательно на N частотах, что позволяет получить численно заданную функцию R R(fN). С выхода блока (17) N значений радиочастот и соответствующие им значения R(fN) поступают: на вход блока (18) для идентификации вида функции R(fN) и определения частот способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 Первый выход блока (19) соединен с первым входом блока (22), а первый выход блока (20) соединен со вторым входом блока (22). Второй выход блока (19) соединен с первым входом блока (23), а второй выход блока (20) со вторым входом блока (23). В блоке (22) определяют значения диэлектрической проницаемости верхнего слоя грунта способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 в блоке (23) определяются значения диэлектрической проницаемости грунта способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 на глубине L. Выходы блоков (18) и (22) соединены с первым и вторым входами блока (21), в котором определяется толщина верхнего слоя грунта L.

Все элементы устройства являются известными. Модуль параметров в нашем проекте будет реализован на отечественном компьютере ДВК-4.

Пример реализации предложенного способа.

В качестве примера реализации предложенного способа рассмотрим его применение для зондирования подповерхностной структуры криолитосферы Марса. При теоретическом анализе в пределах области пространственного разрешения радиолокатора поверхность планеты считаем плоской и ровной, а структуру грунта по глубине рассматриваем как слоисто-неоднородную среду.

Вариант модели подповерхностной структуры диэлектрической проницаемости грунта Марса выберем следующий

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

где толщина верхнего слоя L изменяется в диапазоне значений L=10 40 м в верхних широтах и L=300 400 м вблизи экватора. Такая модель диэлектрической проницаемости соответствует верхнему слою измельченных горных пород с пористостью 40% а в нижнем слое горные породы перемешиваются со льдом при весовом содержании льда способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 = 0,75. Это одна из возможностей геологического строения марсианского грунта [8] Измерение характеристик подповерхностной структуры грунта с борта искусственного спутника при помощи радиолокации даст возможность определить зональное строение криолитосферы Марса по меридианному разрезу экватор-полюс и по пространственному распределению. Модель диэлектрической проницаемости необходима для выбора диапазона радиочастот при реализации предлагаемого выше способа зондирования планеты. В соответствии с (7) найдем частоты способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

f1 (5,3- 1,326) МГц для L (10 40) м и

f1 (0,1768 0,1326) МГц для L (300 4000) м.

Для оценки диапазона частот сверху fmax будет считать задачу измерений решенной, если удастся зарегистрировать кривую R(f), например, до второго минимума n 2, способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

Одновременно это позволяет оценить минимальное число излучаемых радиосигналов Nmin, оно соответствует минимальному количеству точек для воспроизведения функции R(f). Для воспроизведения одного периода осцилляций считается достаточным брать отсчеты через четверть периода с шагом способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048f = способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048f/4 = f1/2 и тогда необходимое число частот для воспроизведения одного периода осцилляций

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

получим, что для воспроизведения коэффициента отражения как функции частоты R(f) при сформулированном выше условии (регистрация R(f) до второго минимума (n 2) необходимо минимальное число частот Nmin= (способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048f/способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048f)+1 = (5способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 20710486)способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 20710481=6способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 20710487. С учетом принятого шага измерений по частоте способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048f найдет необходимое число частот N в диапазоне fcn<f<f. Будем считать, что осцилляции кривой R(f) начинаются на частоте f1 и это значение частоты совпадает с fcn: f1 fcn. Число периодов осцилляций (n-1), определяемое интервалом между минимумами коэффициента отражения, зависит от ширины диапазона частот. Поскольку граничные значения диапазона частот fcn и fcd пропорциональны значениям максимумов электронной концентрации, то

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

Для ионосфер планет земной группы отношение способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

Откуда при fcd/dcn= 3 имеем простое соотношение 2n 1 3 и n 2. В соответствии со сказанным выше в диапазоне частот fcn<f укладывается один период осцилляций и, следовательно, N Nmin.

Диапазон част от снизу ограничим значением fmin, отстоящим от f1 на полпериода способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 тогда Df 2,5. На основании полученных выше оценок f1 имеем

Df fmax (15,9 3,978) МГц для L (10 40) м,

Df fmax (0,53 0,3978) Мгц для L (300 400) м

Оценку числа необходимых частот сверху Nmax получим на основе следующего анализа. Приведенное выше отношение способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 соответствует средним условиям, сложная динамика ионосферных процессов обусловливает вариации этого отношения (их называют аномалиями [9]) в 2 3 раза: способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 и, соответственно, из соотношения (2n-1) 5, имеем n 3. Это соответствует увеличению до двух числа периодов осцилляций коэффициента отражения R(f) и увеличению числа частот до N (n-1)l 2l 10. Кроме того, как отмечалось выше, диапазон частот снизу также следует продлить в сторону нижних частот f<f по крайней мере на полпериода или, округляя до целого значения, на период. Это приводит к увеличению n еще на единицу; n 4. Тогда в качестве оценки сверху числа необходимых частот можно принять Nmax (n-1)l 15.

Заметим, что полученная оценка Nmax соответствует отсчетам с шагом в четверть периода осцилляций R(f). Для повышения качества измерений этот шаг следует уменьшить, что приведет к увеличению Nmax (в 2,3 и т.д. раз при шаге 1/8, 1/16 периода и т.д. соответственно). Предельное значение Nmax будет зависеть от технических возможностей при реализации способа. С методической точки зрения примем в качестве оценки Nmax=15.

Далее напомним критические частоты ночной fcn и дневной fcd ионосферы Марса. По современным данным они равны способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048 соответственно [10] Диапазон излучаемых частот должен удовлетворять условию fcn<f<f, а именно, (0,4-0,5) МГц. Сравнивая эти значения с оценками диапазона радиочастот Df, можно отметить, что этому условию удовлетворяют радиочастоты, позволяющие осуществлять радиолокационное зондирование верхнего слоя грунта в пределах его толщины от L=40 м до L=300 - 400 м.

Оценим возможные временные задержки при отражении радиоволн от ионосферы и поверхности планеты. Высота орбиты спутника над поверхностью Марса может изменяться примерно от Zs 500 км до Zs 6000 км, высота максимума ионизации Zm 120 135 км, дальность до точки отражения от ионосферы составит di Zs-Zm и задержка способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048i = 2di/c. при Zm 120 км, с 3способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 207104810o м/с ее значения приведены в таблице. Там же приведены значения задержки способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048s при отражении радиоволн от поверхности планеты способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048s=2ds/c=2Zs/c и отношения ds/di= способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048s/способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048i В случае грунта с потерями модель диэлектрической проницаемости в соответствии с (5) имеет вид:

способ определения диэлектрической проницаемости и толщины   верхнего слоя грунта планеты, патент № 2071048

n 1,2,3, n<N. Оценки остальных величин совпадают с вышеприведенными для грунта без потерь.

Для реализации данного способа в настоящее время разрабатывается радиолокационный комплекс РЛК-М, планируется установка комплекса в составе научных приборов на АМС "Марс 94" в 1994 г. в рамках Государственной научно-технической программы "Марс".

Класс G01N22/00 Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот

резонансное устройство для ближнеполевого свч-контроля параметров материалов -  патент 2529417 (27.09.2014)
устройство для измерения свойства диэлектрического материала -  патент 2528130 (10.09.2014)
контрольное устройство миллиметрового диапазона -  патент 2521781 (10.07.2014)
система и способ досмотра субъекта -  патент 2517779 (27.05.2014)
способ определения электропроводности и толщины полупроводниковых пластин или нанометровых полупроводниковых слоев в структурах "полупроводниковый слой - полупроводниковая подложка" -  патент 2517200 (27.05.2014)
способ определения электропроводности и энергии активации примесных центров полупроводниковых слоев -  патент 2516238 (20.05.2014)
антенна-аппликатор и устройство для определения температурных изменений внутренних тканей биологического объекта путем одновременного неинвазивного измерения яркостной температуры внутренних тканей на разных глубинах -  патент 2510236 (27.03.2014)
способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости жидких и сыпучих веществ -  патент 2509315 (10.03.2014)
свч способ обнаружения и оценки неоднородностей в диэлектрических покрытиях на металле -  патент 2507506 (20.02.2014)
способ обнаружения и идентификации взрывчатых и наркотических веществ и устройство для его осуществления -  патент 2507505 (20.02.2014)
Наверх