способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев легированных твердых растворов типа а*994в*996

Классы МПК:H01L21/203 физическим осаждением или напылением, например вакуумным распылением или разбрызгиванием
Автор(ы):, , , ,
Патентообладатель(и):Черновицкое отделение Института проблем материаловедения АН Украины (UA)
Приоритеты:
подача заявки:
1991-10-09
публикация патента:

Использование: в электронной промышленности для получения полупроводниковых пленочных фоточувствительных элементов, а именно технология получения монокристаллических эпитаксиальных слоев легированных твердых растворов типа А4B6 на изолирующих монокристаллических подложках из фторида бария. Сущность изобретения: способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев легированных твердых растворов типа A4B6 включает в себя испарение материала при температуре испарителя 508 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 2oC и его осаждение на монокристаллическую подложку из фторида бария, находящегося при температуре 457способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 20652232oC в квазизамкнутом объеме в вакууме. Для испарения берут материал состава (Pb1-xSnxTe1-y+Sey)1-z (InTe)z, где 0,29 меньше/равно х меньше равно 0,31, 0,24 меньше/равно y меньше/равно 0,26, 0,012 меньше/равно z меньше/равно 0,016, 10-4 меньше/равно способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 меньше/равно 10-3. 1 ил., 1 табл.
Рисунок 1, Рисунок 2

Формула изобретения

Способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев легированных твердых растворов типа A4B6, включающий испарение материала при температуре испарителя (508+2)oC и его осаждение на монокристаллическую изолирующую подложку из фторида бария, находящуюся при температуре (457+2)oC в квазизамкнутом объеме в вакууме, отличающийся тем, что для испарения используют материал состава

(Pb1-xSnxTe1-y+способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 )1-z(InTe)z

где 0,29 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 х способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 0,31;

0,24 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 у способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 0,26;

0,012 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 z способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 0,017;

10-4способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 10-3

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к технологии получения монокристаллических эпитаксиальных слоев легированных твердых растворов типа А4B6 на изолирующих монокристаллических подложках из фторида бария и может быть использовано в электронной промышленности для получения полупроводниковых пленочных фоточувствительных элементов, работающих при комнатной температуре в диапазоне длин волн 7-8,5 мкм.

Известен способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев твердых растворов A4B6, в частности Pb1-xSnxTe (х=0,17), состоящий из испарения вышеуказанного материала с последующей конденсацией на сколах фторида бария. Эпитаксиальные слои обладали фоточувствительностью при температуре Т=77 К вплоть до длины волны способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 = 10 мкм [1]

К недостаткам этого известного способа получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев следует отнести отсутствие фоточувствительности при комнатной температуре.

В качестве прототипа выбран способ получения эпитаксиальных слоев твердых растворов A4B6, в частности РbSxSe1-x, фоточувствительных при комнатной температуре в диапазоне длин волн 1-3,5 мкм [2] В этом способе эпитаксиальные слои получены в квазизамкнутом объеме в вакууме путем испарения материалов с различным содержанием сульфида свинца с последующей конденсацией на подложках из фторида бария.

К недостаткам этого способа получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев следует отнести отсутствие фоточувствительности при комнатной температуре в диапазоне длин волн 7-8,5 мкм.

Соответствие критерию "новизна" предлагаемого способа обеспечивается тем, что для испарения берут материал состава (Pb1-x Snx Te1-y+ Sey)1-z (InTe)z, где 0,29 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 x способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 0,31, 0,24 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 Y способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 0,26, 0,012 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 Z способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 0,017, способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223

Сравнение заявляемого решения с известными решениями в данной области техники не позволило выявить в них признаки, отличающие заявляемое техническое решение от прототипа, что позволяет сделать вывод о соответствии критерию "существенные отличия".

Технический результат достигается за счет совокупного действия всех существенных признаков.

Сущность предложенного способа заключается в следующем. На изолирующие подложках из фторида бария методом горячей стенки в квазизамкнутом объеме выращены эпитаксиальные слои составов (Pb1-x Snx Te1-y+ Sey)1-z (InTe)z, где 0,29 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 x способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 0,31, 0,24 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 Y способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 0,26, 0,012 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 Z способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 0,017, 10-4способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 206522310-3. обладающие фоточувствительностью при комнатной температуре в диапазоне длин волн 7-8,5 мкм. Температура источника пара составляла 508 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 2 o C, температура подложки 457 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 2 o C. Время выращивания эпитаксиального слоя не менее 10 мин и зависит от необходимости получения слоя определенной толщины.

Примеры. Выращены эпитаксиальные слои из материалов источника пара (Рb1-x Snx Te1-y+ Sey)1-z (InTe)z, состав которых вольт-ваттная чувствительность при комнатной температуре с точностью способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 0,005 В/Вт и длина волны способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 с точностью способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 0,05 мкм, при которой наблюдается максимальная фоточувствительность, приведены в нижеследующей таблице.

На чертеже приведена типичная спектральная зависимость фотопроводимости при комнатной температур для эксперимента N 7.

Таким образом, использование в методе горячей стенки в качестве испаряемого материала (Pb1-x Snx Te1-y+ Sey)1-z (InTe)z, где 0,29 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 x способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 0,31, 0,24 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 Y способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 0,26, 0,012 способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 Z способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223 0,017, 10-4способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 2065223способ получения фоточувствительных эпитаксиальных слоев   легированных твердых растворов типа а*994в*996, патент № 206522310-3, позволяет получать эпитаксиальные слои, фоточувствительные при комнатной температуре в диапазоне длин волн 7-8,5 мкм.

Класс H01L21/203 физическим осаждением или напылением, например вакуумным распылением или разбрызгиванием

способ получения тонких эпитаксиальных слоев -sic на кремнии монокристаллическом -  патент 2524509 (27.07.2014)
способ изготовления изделий, содержащих кремниевую подложку с пленкой из карбида кремния на ее поверхности и реактор для осуществления способа -  патент 2522812 (20.07.2014)
способ напыления в вакууме структур для приборов электронной техники, способ регулирования концентрации легирующих примесей при выращивании таких структур и резистивный источник паров напыляемого материала и легирующей примеси для реализации указанного способа регулирования, а также основанный на использовании этого источника паров способ напыления в вакууме кремний-германиевых структур -  патент 2511279 (10.04.2014)
способ получения массивов наноколец -  патент 2495511 (10.10.2013)
способ создания мелкоблочных пленок с совершенной структурой блоков -  патент 2474005 (27.01.2013)
установка вакуумного напыления -  патент 2473147 (20.01.2013)
способ получения монокристаллических пленок и слоев теллура -  патент 2440640 (20.01.2012)
способ формирования упорядоченных наноструктур на подложке -  патент 2421394 (20.06.2011)
исследовательский комплекс для формирования и изучения наноструктур и способ формирования наноструктур -  патент 2417156 (27.04.2011)
способ выращивания кремний-германиевых гетероструктур -  патент 2407103 (20.12.2010)
Наверх