способ регистрации спектров при эмиссионном спектральном анализе

Формула изобретения

СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ СПЕКТРОВ ПРИ ЭМИССИОННОМ СПЕКТРАЛЬНОМ АНАЛИЗЕ, заключающийся в том, что в плазму источника возбуждения спектров вводят исследуемую пробу, возбуждают спектр, излучение источника разлагают в спектр и регистрируют его путем экспонирования и накопления сигнала на равномерно перемещаемый светочувствительный материал, отличающийся тем, что регистрируют спектр высотой менее 0,2 мм, а светочувствительный материал перемещают со скоростью более 1 мм/с.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области измерения интенсивности, скорости или спектрального состава и может быть использовано при геологических, технологических и других исследованиях порошкового материала.

Известен способ анализа фазового состава порошка твердого вещества [1] включающий введение пробы в плазму источника возбуждения, возбуждение спектра, пропускание излучения от источника возбуждения через спектрограф и регистрацию спектра путем дробного экспонирования и накопления сигнала на движущуюся фотопластину.

Наиболее близким по технической сущности к предложению является способ регистрации спектров при эмиссионном спектральном анализе [2] заключающийся в том, что в плазму источника возбуждения спектров вводят исследуемую пробу, возбуждают спектр, излучение источника разлагают в спектр и регистрируют его путем экспонирования и накопления сигнала на равномерно перемещаемый светочувствительный материал.

Недостатком известных технических решений является невозможность регистрации отдельных спектров, когда излучение вещества исследуемой пробы, попадающей в плазму источника возбуждения спектров, составляет миллисекунды, например, при сцинтилляционном элементном или фазовом анализах.

Технической задачей предложения является повышение отношения сигнал/шум и эффективности анализа.

Поставленная задача достигается за счет того, что по способу регистрации спектров при эмиссионном спектральном анализе, заключающемуся в том, что в плазму источника возбуждения спектров вводят исследуемую пробу, возбуждают спектр, излучение источника разлагают в спектр и регистрируют его путем экспонирования и накопления сигнала на равномерно перемещаемый светочувствительный материал, регистрируют спектр высотой менее 0,2 мм, а светочувствительный материал перемещают со скоростью более 1 мм/с.

Сущность данного способа заключается в следующем. Берут порошковую пробу и просыпают ее через плазму источника возбуждения. В зависимости от типа частиц минералов исследуемой пробы, попадающих в источник возбуждения, меняется его излучение. Излучение источника возбуждения пропускают через спектрограф так, чтобы получить узкий по высоте (менее 0,2 мм) спектр. Разложившееся в спектр излучение попадает на эмульсию, например фотопластинку, которая равномерно перемещается со скоростью более 1 мм/с. Получают пространственно разделенные спектры отдельных частиц исследуемой пробы, регистрируемые на эмульсии фотопластинки. Далее спектры по известной методике используют для проведения фазового или элементного эмиссионного спектрального анализа.

Пример конкретной реализации способа. Берут порошковую пробу, например, крупностью 40-22 мкм, размещают ее на ленточном транспортере установки типа "Полюс-2", применяющейся для выполнения эмиссионного спектрального анализа методом просыпки вдувания, узкой дорожкой. Включают транспортер и просыпают частицы пробы через плазму дуги, например четырехполюсную постоянного тока. Излучение от плазмы дуги направляют с помощью оптической системы на щель спектрографа типа, например, ИСП-30. Высота щели 0,1 мм. Одновременно с включением транспортера включают движение кассеты спектрографа, в которой установлена, например, фотопластинка (или фотопленка) с чувствительностью 1500 ед. ГОСТа. Скорость движения кассеты 3 мм/с. Регистрация частиц пробы длится 30 с. Далее останавливают транспортер и отключают дуговой разряд и движение кассеты, вынимают фотопластинки, проявляют их и получают пространственно разделенные спектры отдельных частиц пробы, излучение которых составляет 0,5-2 мс. Полученные спектры используют затем для проведения фазового или элементного спектрального анализа по известным методикам.

Таким образом, за счет кратковременности регистрации спектра каждой частицы повышается отношение сигнал/шум, исключается наложение спектральных линий различных элементов в спектре за счет пространственного разделения спектров частиц и повышается эффективность анализа.