способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов электровакуумных приборов

Классы МПК:H01J9/04 термокатодов 
H01J9/42 измерения или испытания в процессе изготовления 
Автор(ы):,
Патентообладатель(и):Акционерное общество открытого типа "Плутон"
Приоритеты:
подача заявки:
1992-07-23
публикация патента:

Использование: в электронной технике, а именно в способах анализа и контроля качества катодов при разработке и производстве электровакуумных приборов для оценки неоднородности плотности тока эмиссии по эмиттирующей поверхности катода. Сущность изобретения: измеряют одно значение тока в режиме насыщения и соответствующее этому току анодное напряжение: Определяют полный ток эмиссии JA и измеряют катодный ток JB при напряжении Uа, соответствующем точке перехода из режима пространственного заряда в режим насыщения; а затем определяют коэффициент вариации плотности тока по формуле

способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

СПОСОБ КОНТРОЛЯ ЭМИССИОННОЙ НЕОДНОРОДНОСТИ ТЕРМОКАТОДОВ ЭЛЕКТРОВАКУУМНЫХ ПРИБОРОВ, включающий измерение токов и напряжений в режимах насыщения и переходном, определение показателя эмиссионной неоднородности и составление суждения об эмиссионной неоднородности, отличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости способа, измеряют одно значение тока в режиме насыщения и соответствующее этому току анодное напряжение, затем, используя эти измеренные значения и значения первеанса и коэффициента Шоттки, определяют величину тока IA и величину напряжения UA, соответствующие точке перехода из режима пространственного заряда в режим насыщения, после чего измеряют при этом напряжении значение тока IB, а в качестве показателя эмиссионной неоднородности используют коэффициент вариации плотности тока по эмиттирующей поверхности Ki, величину которого определяют из выражения

способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к электронной технике, а именно к способам анализа и контроля качества термокатодов электровакуумных приборов, и предназначено для оценки неоднородности плотности тока эмиссии по эмиттирующей поверхности катода эмиссионной неоднородности (ЭН) катодов.

Известен способ анализа ЭН катодов с помощью эмиссионных микроскопов [1] При использовании эмиссионных микроскопов наблюдают локализацию центров эмиссии по поверхности катода.

Однако указанный способ не позволяет получить количественной оценки ЭН и, следовательно, не может быть использован для контроля качества катодов в технологическом процессе.

Наиболее близким к предлагаемому является способ определения ЭН катодов по вольт-амперным характеристикам [2] Сущность этого способа заключается в следующем. Первоначально измеряют токи и соответствующие им напряжения в режимах пространственного заряда, переходном и насыщения, т.е. получают вольт-амперную характеристику (ВАХ) I f(U). Причем интервалы изменения напряжения при измерении должны быть возможно меньшими, а количество измерений возможно большим. Затем зависимость тока от напряжения I f(U) пересчитывают и перестраивают в координаты I f(U)3/2. Далее путем графического или численного дифференцирования характеристики I f(U)3/2 определяют ее первую и вторую производные во всем диапазоне изменения напряжения. Затем, используя эти данные, определяют функцию распределения плотности тока термоэмиссии. После этого, аппроксимируя полученную функцию распределения нормальным законом и нормируя ее определенным образом, вычисляют безразмерный параметр ЭН, который и используют в качестве количественного критерия для оценки ЭН катодов.

Недостатком данного способа является его значительная трудоемкость, обусловленная большим объемом измерений и сложностью вычислительных работ, что делает невозможным эффективное его использование в процессе серийного изготовления и обработки катодов.

Целью изобретения является снижение трудоемкости способа в процессе измерений и математической обработки.

Для этого по способу, включающему измерение токов и напряжений в режимах насыщения и переходном, определение показателя ЭН и составление суждения о ней, измеряют одно значение тока в режиме насыщения и соответствующее этому току анодное напряжение, затем, используя измеренные значения тока и напряжения и значения первеанса и коэффициента Шоттки, определяют величину тока IA и величину напряжения, соответствующие точке перехода из режима пространственного заряда в режим насыщения, после чего измеряют при этом напряжении значение тока IB. В качестве показателя ЭН используют коэффициент вариации плотности тока по эмиттирующей поверхности, величину которого определяют из выражения Ki= способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860 способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860

Известных технических решений, содержащих сходные отличительные признаки, не обнаружено.

На чертеже показаны результаты измерений предлагаемым способом, необходимые для контроля ЭН катода.

В примере токи и напряжения измеряют в диоде одиночными импульсами длительностью 70 мкс при температуре катода 940оС. Первеанс диода имеет значение р 2,5 способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 205286010-5 А В-3/2, а коэффициент Шоттки способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860= 1,03 способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 205286010-2 В-1/2.

Измеряют в режиме насыщения ток и напряжение. Они имеют значения: Iн 0,8 А; Uн 2000 В (точка Н на чертеже).

Величину тока IA и напряжения UA определяют решением системы уравнений

способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860 способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860 способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860 способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860 способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860 которая после подстановки численных значений р, способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860, Iн и Uн имеет вид

способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860 способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860

Решение дает численные значения тока IA и напряжения UA в точке перехода из режима пространственного заряда в режим насыщения: IA 0,688 А; UA 911,3 В (точка А на чертеже).

Измеренная при этом напряжении (UA 911,3 В) величина тока составляет IB 0,566 А (точка В на чертеже).

Показатель ЭН равен

Ki= способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860 способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860 способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860 способ контроля эмиссионной неоднородности термокатодов   электровакуумных приборов, патент № 2052860 0,445 что позволяет составить суждение о соответствии катода требованиям нормативной документации.

Снижение трудоемкости контроля ЭН катодов по сравнению с прототипом обусловлено существенным уменьшением объема измерений, а также уменьшением объема и сложности вычислительных работ. В отличие от прототипа, в котором для обеспечения возможности математической обработки (двойного дифференцирования ВАХ) интервалы изменения напряжений при измерении ВАХ должны быть возможно меньшими, а количество измерений соответственно возможно большим, в предлагаемом способе показатель ЭН определяется по результатам измерения тока и напряжения только в двух точках ВАХ.

Класс H01J9/04 термокатодов 

способ изготовления металлопористого катода -  патент 2527938 (10.09.2014)
состав материала для изготовления электродов генераторов низкотемпературной плазмы -  патент 2505882 (27.01.2014)
способ обработки эмиттирующей поверхности металлопористого катода -  патент 2459306 (20.08.2012)
способ изготовления металлопористого катода -  патент 2449408 (27.04.2012)
способ изготовления катода для свч-прибора -  патент 2446505 (27.03.2012)
состав материала электродов генератора низкотемпературной плазмы -  патент 2381590 (10.02.2010)
способ изготовления металлопористого катода -  патент 2338291 (10.11.2008)
способ изготовления металлопористого катода -  патент 2333565 (10.09.2008)
способ изготовления металлопористых катодов из вольфрамового порошка -  патент 2297068 (10.04.2007)
способ изготовления металлопористых катодов из вольфрамового порошка -  патент 2293395 (10.02.2007)

Класс H01J9/42 измерения или испытания в процессе изготовления 

способ неразрушающего контроля количества ртути в трубчатой люминесцентной лампе и устройство для его осуществления -  патент 2410791 (27.01.2011)
способ определения расстояния между электродами вакуумированного электровакуумного прибора (варианты) -  патент 2395864 (27.07.2010)
способ проведения испытаний на долговечность генераторных ламп -  патент 2383961 (10.03.2010)
способ контроля термоэмиссионного состояния поверхностно- ионизационного термоэмиттера ионов -  патент 2262697 (20.10.2005)
способ контроля внутренних электрических цепей электродов электровакуумного прибора -  патент 2201598 (27.03.2003)
способ определения давления в разрядных лампах -  патент 2199791 (27.02.2003)
способ определения сопротивления экрана вакуумного флуоресцентного дисплея -  патент 2192066 (27.10.2002)
способ вакуумной обработки малогабаритных моноблочных газоразрядных лазеров -  патент 2155410 (27.08.2000)
способ измерения рассеиваемой мощности электролюминесцентного индикатора -  патент 2152101 (27.06.2000)
способ определения сопротивления люминофора вакуумного индикатора -  патент 2136012 (27.08.1999)
Наверх