способ анализа волновых фронтов светового поля

Классы МПК:G02B26/10 сканирующие системы
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Безуглов Дмитрий Анатольевич,
Мищенко Евгений Николаевич,
Мищенко Сергей Евгеньевич
Приоритеты:
подача заявки:
1992-07-14
публикация патента:

Использование: в оптическом приборостроении. Сущность изобретения: по способу анализа волновых фронтов светового поля регистрируют интенсивность исходного излучения на участке примесной апертуры, осуществляют Фурье-преобразование исходного светового поля и регистрируют его интенсивность, осуществляют амплитудное преобразование исходного светового поля N2 раз путем экранирования непрозрачным экраном участков исходного светового поля и производят N2 раз регистрацию интенсивности Фурье-спекторов этих преобразований на участке приемной апертуры, определяют фазовое распределение светового поля путем расчета фазы в каждой точке участка приемной апертуры. 3 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3

Формула изобретения

СПОСОБ АНАЛИЗА ВОЛНОВЫХ ФРОНТОВ СВЕТОВОГО ПОЛЯ, заключающийся в том, что регистрируют интенсивность исходного светового поля по координатным направлениям, осуществляют Фурье-преобразование исходного светового поля, амплитудное преобразование светового поля по координатным направлениям и определяют фазовое распределение светового поля, отличающийся тем, что регистрируют интенсивность светового поля после его Фурье-преобразования (I(u, v)) в Фурье-плоскости, осуществляют амплитудное преобразование исходного светового поля N2 раз путем экранирования непрозрачным экраном участков исходного светового поля с размерами способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397s=способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397xспособ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397y с координатами центров этих участков x, yk, где, k-1,2, N, производят n2 раз регистрацию интенсивности Фурье-спектров этих преобразований I(u,v,x,способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397x,yk,способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397y) на участке приемной апертуры с координатами центра участка x, yk в Фурье-плоскости, при этом интенсивность исходного излучения (I (xl, yk)) регистрируют на участке приемной апертуры с координатами xl, yk, а фазовое распределение светового поля определяют путем расчета фазы способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397(xl,yk) в каждой l, k-й точке участка приемной апертуры с координатами центра участка xl, yk по формуле

способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397

где u, v текущие координаты Фурье-плоскости, заданной в границах [-u1, u1] u[-v1, v1] соответственно;

способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397x,способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397y линейные размеры элементарной площади приемной апертуры по соответствующим координатным направлениям.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к обработке оптической информации, адаптивной оптике и может быть использовано для решения задачи измерения нестационарных искажений лазерного пучка при распространении его в турбулентной атмосфере.

Известен способ анализа волнового фронта с помощью датчика гартмановского типа [1] Он основан на измерении степени отклонения центра изображения пучка с помощью квадратного фотоприемника.

Недостатками этого способа являются низкая точность и необходимость дальнейшей обработки результатов измерений, так как гартмановский датчик позволяет измерять только локальные наклоны фазового фронта.

Наиболее близким по технической сущности к заявляемому является способ анализа волновых фронтов светового поля [2] заключающийся в том, что регистрируют интенсивность исходного светового поля по координатным направлениям, осуществляют Фурье-преобразование исходного светового поля, амплитудное преобразование светового поля по координатным направлениям и определяют фазовое распределение светового поля. ю Недостатком такого способа является низкая точность определения фазы, так как в силу некорректности задачи восстановления происходит неизбежное усиление шумов.

Одним из существенных источников шумов когерентных оптических систем является светорассеяние на царапинах, пылинках и внутренних дефектах оптических элементов (линз, зеркал, фотопластинок и т.д.). Поэтому желательно конструировать оптические устройства восстановления фазы входного пучка с минимальным количеством оптических элементов на измерительный канал. В устройствах, реализующих известный способ, предполагается минимум четыре оптических элемента на измерительный канал. Дополнительное усиление шумов в этом случае происходит также за счет используемого способа восстановления фазового распределения по измеренным локальным наклонам. Задача поиска фазового распределения всегда сводится к необходимости решения системы дифференциальных уравнений в частных производных [1, c. 245] Существует много различных алгоритмов численного интегрирования таких систем как в цифровом, так и в аналоговом виде. Однако в любом случае при решении этой системы неизбежно накопление ошибок [1]

Предлагаемый способ направлен на решение задачи повышения точности анализа и расширение функциональных возможностей за счет уменьшения количества оптических элементов на измерительный канал и прямого определения фазы без промежуточных вычислений локальных наклонов фазового фронта.

Предлагается способ анализа волновых фронтов светового поля, заключающийся в том, что регистрируют интенсивность исходного светового поля по координатным направлениям, осуществляют Фурье-преобразование исходного светового поля, амплитудное преобразование светового поля по координатным направлениям. В отличие от прототипа регистрируют интенсивность светового поля после его Фурье-преобразования (I(U, V)) в Фурье-плоскости, осуществляют амплитудное преобразование исходного светового поля N2 раз путем экранирования непрозрачным экраном участков исходного светового поля с размерами S X Y с координатами центров этих участков Xl, Yk, где l, k 1,2,N, производят N2 раз регистрацию интенсивности Фурье-спектров этих преобразований (I(U, V, Xl, X, Yk, Y) на участке приемной апертуры с координатами центра участка Xl, Yk в Фурье-плоскости, при этом интенсивность исходного излучения (I(Xl, Yk)) регистрируют на участке приемной апертуры с координатами Xl, Yk, а фазовое распределение светового поля определяют путем расчета фазы способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397(Xl, Yk) в каждой l-, k-й точке участка приемной апертуры с координатами центра участка Xl, Yk по формуле

способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397(Xl, Yk) способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397arccosспособ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397dudv, где U и V текущие координаты Фурье-плоскости, заданной в границах [-U1,U1] и (-V1,V1] соответственно; способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 Х, способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 Y линейные размеры элементарной площадки приемной апертуры по соответствующим координатным направлениям.

На фиг.1 поясняются система координат и геометрия задачи, где 1 линза, 2 непрозрачный экран, 3 фотоприемник большой апертуры; на фиг.2 приведен первый вариант структурной схемы устройства, реализующего способ, где 4 и 5 полупрозрачные зеркала, 6 устройство регистрации интенсивности, 7 управляемый амплитудный транспарант, 8 и 9 линзы, 10 и 11 фотоприемники большой апертуры, 12 блок электронной обработки; на фиг.3 приведен второй вариант структурной схемы устройства, реализующего способ, где 4, 5 и 13 полупрозрачные зеркала, 6 устройство регистрации интенсивности, 8 и 9 линзы, 7 амплитудный транспарант, 10 и 11 фотоприемники большой апертуры, 12 блок электронной обработки.

Для подтверждения возможности осуществления изобретения рассматривают математическое обоснование способа анализа волновых фронтов.

Вводят обозначения для распределения комплексной амплитуды по апертуре входного оптического пучка:

F(X, Y) A(X,Y)exp(-j способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 (X,Y), (2) где А и способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 соответственно распределение амплитуды и фазы, и его образа в фокальной плоскости линзы:

G(U, V) B(U,V)exp(-j способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397(U,V)), (3) где В и способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 соответственно распределение амплитуды и фазы.

Используя известную функциональную связь между F(X,Y) и G(U,V), можно записать

B(U, V) способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 A(X,Y)exp[-j(способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397(X,Y)+(UX+VY)+способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397(U,V))]dXdY, (4) где S площадь входной апертуры.

Производят формальное дифференцирование правой и левой частей выражения (4) по параметру S. В результате получают

способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 A(Xl,Yk)exp[-j(способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397(Xl,Yk)+(UXl+VYk)+способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397(U,V)] (5) где Xl, Yk координаты элементарной площадки (участка апертуры).

Представляют левую часть выражения (5) в виде разностной схемы и, отбросив мнимые члены, получают

способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 2[I(Xl,Yk)способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397I(U,V)]1/2.

cos[-(способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 Xl, Yk)+(UXl+VYk)+ способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397(U,V))] (6)

Из уравнения (6) нетрудно получить выражение для значения фазы поля в точке с координатами Xl, Yk:

способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397(Xl,Yk) arccosспособ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397

-(UXl+VYk)-способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397(U,V). (7)

Ввиду неоднозначности, вносимой вторым и третьим членами этого выражения, оно не может использоваться как расчетное. Чтобы разрешить проблему, интегрируют обе части выражения (7) по переменным U, V с учетом симметрии измерительной схемы. Очевидно, что интеграл от второго члена правой части выражения (7) равен нулю, а интегрирование последнего члена дает константу.

При измерении фазы выбор точки отсчета может быть произведен произвольно, так как в данном случае имеет смысл только относительное состояние фаз. Отсюда расчетное соотношение в непрерывной форме иметь вид (1).

С учетом выражения (1) способ анализа волновых фронтов реализуется следующим образом.

Регистрируют распределение интенсивности исходного поля I(Xl, Yk); l,k способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397. Затем регистрируют распределение интенсивности спектра исходного поля I(U, V). Площадь входной апертуры разбивают на N2 площадок способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 S способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397Xспособ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 Y, заданных координатами Xl, Yk (фиг.1). Последовательно на каждую из элементарных площадок укладывают непрозрачную маску и регистрируют интенсивности I(U, V,Xl, способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 X, Yk, способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397Y) в фокальной плоскости линзы. Затем производят расчет в соответствии с выражением (1). Указанная последовательность действий над оптическим полем может осуществляться как последовательно, так и параллельно. Рассматривают соответственно два варианта устройства, реализующих заявляемый способ.

На фиг.2 представлена функциональная схема устройства, реализующего способ анализа волновых фронтов светового поля по схеме с последовательной во времени обработкой информации. Оптическим входом на фиг.2 является оптический вход зеркала 4, первый оптический выход которого связан с оптическим входом устройства 6 регистрации интенсивности. Электрический выход последнего связан с первым электрическим входом блока 12. Второй оптический выход зеркала 4 связан с оптическим входом зеркала 5. Первый оптический выход последнего связан с оптическим входом транспаранта 7, второй оптический выход с оптическим входом линзы 8 прямого преобразования Фурье оптический выход которой связан с оптическим входом фотоприемника 10. Электрический выход фотоприемника 10 связан с вторым электрическим входом блока 12. Оптический выход транспаранта 7 связан с оптическим входом линзы 9 прямого преобразования Фурье, оптический выход которой связан с оптическим входом фотоприемника 11, а электрический выход фотоприемника 11 связан с третьим электрическим входом блока 12. Первый электрический выход блока 12 связан с электрическим входом транспаранта 7, а второй электрический выход блока 12 является выходом устройства для анализа волновых фронтов.

На фиг. 3 представлена функциональная схема устройства, реализующего способ анализа волновых фронтов светового поля по схеме с параллельной во времени обработкой информации. Оптическим входом устройства является оптический вход зеркала 4, первый оптический выход которого связан с оптическим входом зеркала 5, а второй оптический выход с оптическим входом устройства 6 реализации интенсивности. Электрический выход последнего связан с первым электрическим входом блока 12. Первый оптический выход зеркала 5 связан с оптическим зеркалом 13, а второй оптический выход с оптическим входом линзы 8 прямого преобразования Фурье. Оптический выход линзы 8 связан с оптическим входом фотоприемника 10, электрический выход которого связан с вторым электрическим входом блока 12. Первый оптический выход линзы 13 служит для подключения N2 измерительных каналов, а второй последовательно связанных транспаранта 7, линзы 9 прямого преобразования Фурье, фотоприемника 11. Оптические входы (l+1), k канала и l, (k+1) канала связаны соответственно с оптическими выходами l, k канала и N, k канала, а выходы этих каналов связаны с 2+N2 электрическими входами блока 12, где l и k изменяются от 1 до N.

Устройство 6 регистрации интенсивности на фиг.2 и 3 представляет собой матрицу из N2 фотоприемников и служат для регистрации исходного распределения интенсивности. Транспарант 7 на фиг.2 может представлять собой зеркало с основой на жидких кристаллах, в котором участки площадью S создаются за счет управления изменением поглощающих свойств кристаллов. Линзы 8 и 9 прямого преобразования Фурье служат для осуществления математической операции Фурье-преобразования.

Фотоприемники 10 ии 11 на фиг.2 и 3 служат для регистрации интенсивности поля в фокальной плоскости линзы. Блок 12 на фиг.2 и 3 представляет собой ЭВМ, совмещенную с АЦП. Транспарант 7 на фиг.3 представляет собой непрозрачную маску площадью S, устанавливаемую перед линзой в точках Xl, Yk; l, k способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397.

С помощью вышеописанных устройств способ анализа волновых фронтов реализуется следующим образом.

Интенсивность исходного светового поля регистрируют с помощью устройства 6. Интенсивность спектра Фурье-образа исходного поля регистрируют с помощью линзы 8 и фотоприемника 10 (фиг.2 и 3). В дальнейшем работа первого и второго вариантов устройства несколько различаются. Рассмотрим фиг.2, на которой изображено устройство, обеспечивающее реализацию способа последовательно во времени.

С блока 12 на транспарант 7 поступают управляющие сигналы, которые обеспечивают последовательно во времени затемнение участка способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 Sспособ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 X способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397Y с координатами центра Xl, Yk; l, k способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397. При этом последовательность выбора точки Xl, Yk не играет роли и может быть произвольной. Появление такого затемненного участка эквивалентно маске с непрозрачным участком способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397S способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 X способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397Y. Поле, отраженное от транспаранта 7, после Фурье-преобразования в линзе 9 регистрируют с помощью фотоприемника 11. Затем в блоке 12 обрабатывают результаты измерения в соответствии с выражением (1).

При реализации способа с помощью устройства, работающего параллельно, с выходов зеркал 131-13 N2 пучок делителя на N2параллельных каналов. В каждом из каналов имеется транспарант 71-7N2, представляющий собой маску с непрозрачным участком способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397 S X Y с координатами Xl, Yk; l, k способ анализа волновых фронтов светового поля, патент № 2051397. После амплитудного преобразования на транспарантах 7l-7N" осуществляют Фурье-преобразование с помощью линз 9l-9N2. Результаты Фурье-преобразования регистрируют в фотоприемниках 11l-11N2. В блоке осуществляют вычисления согласно соотношению (1).

Таким образом, предлагаемый способ позволяет получить непосредственные значения фаз по результатам измерения в каждом измерительном канале для устройства, изображенного на фиг.3, и по каждому изменению состояния управляемого амплитудного транспаранта для устройства, изображенного на фиг.2. Количество оптических элементов на канал в устройствах, реализующих предлагаемый способ, меньше на один элемент в сравнении с прототипом. Отсутствует линза обратного преобразования Фурье, что потенциально снижает уровень шума в устройствах, реализующих предлагаемый способ. Измеренные значения фаз независимы, и потому не происходит накопление ошибок при восстановлении фазового фронта в отличие от прототипа где каждое восстановление значение на i-м участке является опорным при восстановлении фазы на (i+1)-м участке.

Класс G02B26/10 сканирующие системы

способ сканирования поля яркости и фотооптическая система для его осуществления -  патент 2524054 (27.07.2014)
способ сканирования поля яркости и фотооптическая система для его осуществления -  патент 2516610 (20.05.2014)
сканирующее устройство для дистанционного получения изображений -  патент 2498365 (10.11.2013)
лазерная сканирующая система на основе резонансного сканера -  патент 2492514 (10.09.2013)
способ изготовления устройств на основе микроэлектромеханических систем, обеспечивающих регулирование воздушного зазора -  патент 2484007 (10.06.2013)
устройство сканирования и стабилизации оптического изображения -  патент 2471211 (27.12.2012)
устройства мэмс, имеющие поддерживающие структуры, и способы их изготовления -  патент 2468988 (10.12.2012)
блок оптического сканирования, проектор изображений, включающий в себя его, автомобильное устройство отображения на ветровом стекле и мобильный телефон -  патент 2464603 (20.10.2012)
дефлектор света -  патент 2453876 (20.06.2012)
устройство диффузионной флуоресцентной томографии -  патент 2441582 (10.02.2012)
Наверх