способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре при нагревании

Классы МПК:G01R31/28 испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигнала
Патентообладатель(и):Щербаков Вадим Викторович
Приоритеты:
подача заявки:
1990-08-23
публикация патента:

Сущность изобретения: способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре заключается в том, что одновременно подают температурные воздействия, напряжение питания и входное тестовое воздействие, измеряют выходные электрические реакции, которые сравнивают с эталоном. Отличительной особенностью способа является нагрев всего объекта контроля до наступления восстановимого отказа, а затем его поэлементное охлаждение до восстановления рабочего состояния объекта контроля с последующей регистрацией отказавшего элемента. 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

СПОСОБ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ВЕРОЯТНОГО МЕСТА ОТКАЗА В РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЕ ПРИ НАГРЕВАНИИ, в соответствии с которым на объект контроля подают температурные воздействия, напряжение питания и входное тестовое воздействие, снимают выходные электрические реакции, которые сравнивают с эталоном, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности прогнозирования, при отказе одного из элементов объекта контроля за счет выявления вероятного места отказа осуществляют температурные воздействия, состоящие в том, что производят нагрев всего объекта до наступления восстановимого отказа, а затем его поэлементное охлаждение до восстановления рабочего состояния всего объекта контроля, а затем регистрируют номер отказавшего элемента.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к контролю и прогнозированию отказов.

Наиболее близким к предлагаемому является способ температурных испытаний, при котором в камеру нагнетается воздух, который нагревает контролируемый аппарат.

Недостатком этого способа является невозможность определить вероятное место отказа в радиоэлектронной аппаратуре.

Целью изобретения является повышение достоверности прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре.

Цель достигается тем, что в способе прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре производят нагрев аппарата до наступления восстановимого отказа, а затем поэлементное охлаждение, при этом подают напряжение питания и входное тестовое воздействие, измеряют электрические параметры и контролируют их величину, сравнивая с эталоном. При охлаждении ненадежного элемента, вызывающего отказ, происходит восстановление рабочего состояния аппарата.

Предлагаемый способ отличается от прототипа тем, что после нагрева до появления восстановимого отказа производят поэлементное охлаждение до восстановления работоспособности.

На чертеже показано устройство, с помощью которого осуществляют предлагаемый способ.

Устройство содержит клапан 2 для впуска остронаправленной струи охладителя, камеру 3 с горячим воздухом, испытуемый аппарат 4, устройство 5 контроля параметров и блок 1 питания.

Устройство работает следующим образом.

Аппарат 4 помещают в камеру 3 и производят нагрев до появления восстанавливаемого отказа. Затем производят поэлементное охлаждение до обнаружения виновного в отказе. При этом аппарат восстанавливает рабочее состояние, которое регистрируется устройством 5 контроля параметров.

Использование изобретения позволяет прогнозировать и вовремя выявлять могущие отказать элементы в радиоэлектронных аппаратах, за счет чего улучшается качество выпускаемых изделий, кроме того, ранний процесс нахождения некачественных изделий намного дешевле, чем выявление и устранение дефектов в процессе эксплуатации.

Класс G01R31/28 испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигнала

способ испытания на коррозионную стойкость интегральных схем -  патент 2527669 (10.09.2014)
способ и устройство для измерения переходных тепловых характеристик светоизлучающих диодов -  патент 2523731 (20.07.2014)
способ определения теплового импеданса сверхбольших интегральных схем - микропроцессоров и микроконтроллеров -  патент 2521789 (10.07.2014)
способ контроля работоспособности многоточечной измерительной системы с входной коммутацией датчиков -  патент 2515738 (20.05.2014)
способ определения теплового импеданса цифровых кмоп интегральных микросхем -  патент 2504793 (20.01.2014)
способ испытаний полупроводниковых бис технологии кмоп/кнд на стойкость к эффектам единичных сбоев от воздействия тяжелых заряженных частиц космического пространства -  патент 2495446 (10.10.2013)
способ регулирования сопротивления твердотельных приборов и резистивная матрица памяти на основе полярнозависимого электромассопереноса в кремнии -  патент 2471264 (27.12.2012)
способ определения теплового импеданса кмоп цифровых интегральных микросхем -  патент 2463618 (10.10.2012)
устройство для измерения технических параметров аварийных радиомаяков/радиобуев -  патент 2453860 (20.06.2012)
способ разбраковки кмоп микросхем, изготовленных на кнд структурах, по радиационной стойкости -  патент 2444742 (10.03.2012)
Наверх