устройство для выявления деформированных участков поверхности электропроводящих тел
Классы МПК: | G01N23/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения H01J37/00 Разрядные приборы с устройствами для ввода объектов или материалов, подлежащих воздействию разряда, например с целью их исследования или обработки |
Патентообладатель(и): | Шелякин Лев Борисович |
Приоритеты: |
подача заявки:
1993-12-22 публикация патента:
20.10.1995 |
Использование: для выявления напряженных участков на строительных конструкциях, крупногабаритных деталях машин, скрытых знаков на поверхности металлических изделий, а также в криминалистике. Сущность изобретения: устройство содержит корпус с расположенной на его торцовой поверхности вакуумной прокладкой, систему подвода и откачки газа и источник высоковольтного напряжения. Отрицательный полюс источника подключен непосредственно к твердотельному объекту исследуемой поверхности. Положительный полюс источника подключен либо к корпусу, либо к электроду, введенному в корпус, приэтом корпус с вакуумной прокладкой, выполненной из электроизоляционного материала, помещен непосредственно на поверхности исследуемого объекта. 3 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3
Формула изобретения
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ ДЕФОРМИРОВАННЫХ УЧАСТКОВ ПОВЕРХНОСТИ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ТЕЛ, содержащее корпус с расположенной на его торцевой поверхности вакуумной прокладкой, систему подвода газа и его откачки и источник высоковольтного постоянного напряжения, отличающееся тем, что корпус выполнен в виде колпака, а вакуумная прокладка из электроизоляционного материала, отрицательный выход источника подключен непосредственно к исследуемому телу, а положительный выход либо непосредственно к колпаку, выполненному в этом случае из электропроводящего материала, либо к электроду, встроенному в колпак, при это колпак накладывают на исследуемую часть поверхности образца.Описание изобретения к патенту
Изобретение относится к технической физике, а именно радиационным методам исследования твердых тел, и может применяться, например, для выявления напряженных участков на строительных конструкциях, крупногабаритных деталях машин, скрытых знаков на поверхности металлических изделий, а также в криминалистике. Известны устройства для выявления деформированных участков поверхности твердых тел [1] представляющие собой ванночку, дно которой образует поверхность исследуемого образца. В эту ванночку наливается раствор травителя, например азотная кислота, который воздействует на исследуемую поверхность, различно протравливая ее участки. В результате наблюдают кристаллографическую структуру исследуемой поверхности твердого тела. Известны также электрохимические устройства для выявления деформированных участков поверхности твердых тел [2] аналогичные вышеописанным, но здесь химическое травление осуществляется при дополнительном наложении электрического поля, что усиливает эффект травления. Известны также устройства для выявления деформированных участков поверхности твердых тел с использованием магнитной суспензии [3] когда в вышеописанную ванночку вместо травителя заливается раствор с мелкодисперсным магнитным материалом, осаждение которого происходит преимущественно по границам сильно деформированных участков только магнитных материалов. Недостатками этих устройств являются невозможность выявлять деформированные участки поверхности всех материалов, в частности коррозионно-стойких, трудности в подборе травителя, невозможность их использования при расположении исследуемой поверхности не горизонтально, высокая токсичность некоторых травителей, а следовательно, опасность работы с ними (например, плавиковая кислота, царская водка и др.). Кроме того, устройства, использующие магнитную суспензию, пригодны только для магнитных материалов и дают только приближенную (грубую) информацию. Известны также устройства для выявления деформированных участков твердых тел, использующие рентгено- и гамма-спектроскопию [4]Эти устройства применимы только для исследования всего объема твердого тела (или достаточно толстого слоя) и непригодны для исследования его поверхностных слоев ввиду большой проникающей способности этого вида излучения. К тому же определение деформаций, например, рентгеновским методом является достаточно сложным. Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому устройству является устройство для выявления деформированных участков поверхности твердых тел [5] содержащее корпус с расположенной на его торцовой поверхности вакуумной прокладкой, систему подвода газа и его откачки и источник высоковольтного напряжения. В этом устройстве внутри корпуса (вакуумной камеры) расположен стеклянный цилиндр, в котором находятся катод и анод. На катоде размещают маленький исследуемый образец. При работе устройства в стеклянном цилиндре загорается тлеющий разряд, в протоке инертного газа происходит ионное травление образца, в результате чего выявляется структура его поверхности. Недостатками устройства-прототипа являются невозможность выявления деформированных участков поверхности твердых тел в их естественных положениях и условиях, т. е. необходимо использование только отдельных образцов из исследуемых объектов, которые и помещают внутрь вакуумной камеры, малая информативность о структуре всей исследуемой поверхности твердого тела, так как приходится использовать малые образцы с отдельных участков поверхности, невозможность применения без разрушения исследуемого объекта, так как в каждом случае требуется вырезать образец, помещаемый внутрь устройства, громоздкость и утяжеленность (вес






Класс G01N23/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения
Класс H01J37/00 Разрядные приборы с устройствами для ввода объектов или материалов, подлежащих воздействию разряда, например с целью их исследования или обработки