способ определения толщины слоя на подложке

Классы МПК:G01N13/00 Исследование поверхностных или граничных свойств, например смачивающей способности; исследование диффузионных эффектов; анализ материалов путем определения их поверхностных, граничных и диффузионных эффектов; исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне
Автор(ы):, , , ,
Патентообладатель(и):Восточный научно-исследовательский углехимический институт
Приоритеты:
подача заявки:
1990-01-16
публикация патента:

Способ определения толщины слоя органического связующего на подложке-адсорбенте заключается в том, что в термистатированную колонку хроматографа помещают измельченный адсорбент, дозируют в колонку последовательно эквимолярные количества модельных соединений, имеющих структурные фрагменты, аналогичные структурным фрагментам органического связующего, в порядке увеличения размеров молекулярных площадок модельных соединений при температуре Tк+n где Tк - температура кипения модельного соединения: n 0,65°С, регистрируют хроматографические пики, определяют изотермы адсорбции, концентрацию модельного соединения в газе, близкую к модельной, емкость монослоя и удельную поверхность адсорбента, толщину монослоя модельного соединения на поверхности адсорбента и по принципу аддитивности с учетом и по принципу аддитивности с учетом структурно-группового состава органического связующего определяют толщину слояорганического связующего на адсорбенте. 4 табл.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6

Формула изобретения

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЯ НА ПОДЛОЖКЕ путем исследования свойств подложки, отличающийся тем, что для определения толщины слоя органического связующего на подложке-адсорбенте в термостатированную колонку хроматографа помещают измельченный адсорбент, дозируют в колонку последовательно эквимолярные количества модельных соединений, имеющих структурные фрагменты, аналогичные структурным фрагментам органического связующего, в порядке увеличения размеров молекулярных площадок модельных соединений при температуре Tк + n, где Tк температура кипения модельного соединения, n 0 oC 65oС, регистрируют хроматографические пики, а искомый параметр определяют по формуле

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967i=способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967i,

где способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967i толщина слоя групповых составляющих органического связующего,

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967i=Gспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967Miспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967i/aiспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 ,

где G расход связующего;

Mi содержание групповых составляющих в органическом связующем;

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967i средняя толщина монослоя групповых составляющих связующего;

aiспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 средняя емкость монослоя групповых составляющих органического связующего,

причем способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967i и aiспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 определяют по принципу аддитивности, исходя из

значений толщины способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 и емкости aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 монослоя модельных соединений, при этом

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967

где aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 количество адсорбированного модельного соединения;

Cспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 предельная концентрация модельного соединения (устанавливают по изотерме адсорбции);

Sуд=aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967oспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967NA,

где способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967o площадь, занимаемая одной молекулой; NA число Авогадро.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к техничеcкой физике, в частности к средствам оценки адгезионной способности материалов, и может быть использовано для определения параметров пленкообразования (толщины слоя связующего) при получении угольных брикетов со связующим песком, тяжелыми нефтяными остатками, в дорожном строительстве при приготовлении асфальто-бетонных смесей, в металлургии при получении графитированных материалов.

Известен способ определения толщины слоя на подложке путем исследования свойств подложки.

Недостатком известного способа является невозможность его использования для определения толщины слоя органического связующего на подложке-адсорбенте.

Изобретение направлено на получение технического результата, заключающегося в возможности определения толщины слоя органического связующего на подложке-адсорбенте.

Указанный технический результат достигается тем, что по способу определения толщины слоя на подложке путем исследования свойств подложки для определения толщины слоя органического связующего на подложке-адсорбенте в термостатированную колонку хроматографа помещают измельченный адсорбент, дозируют в колонку последовательно эквимолярные количества модельных соединений (МС), имеющих структурные фрагменты, аналогичные структурным фрагментам органического связующего, в порядке увеличения размеров молекулярных площадок МС при температуре Тк + n, где Тк температура кипения МС; n 0-65оС, регистрируют хроматографические пики, а искомый параметр определяют по формуле способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967с= способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967i, где способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967i- толщина слоя групповых составляющих органического связующего,

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967i= Gспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967Miспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967i/aiспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967, где G расход связующего;

Мi содержание групповых составляющих в органическом связующем;

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967i средняя толщина монослоя групповых составляющих связующего;

aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967i средняя емкость монослоя групповых составляющих органического связующего, причем способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967i и aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967i определяют по принципу аддитивности исходя из значений толщины способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 и емкости aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 монослоя МС, при этом

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 где aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967- количество адсорбированного МС и Cспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967- предельную концентрацию МС устанавливают по изотерме адсорбции, а Sуд= aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967oспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967NAгде способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967о- площадь, занимаемая одной молекулой; NА число Авогадро.

МС пропускают через слой адсорбента в порядке увеличения размеров их молекулярных площадок: бензол ___способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 циклогексан ____способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 н-гептан. При таком порядке пропускания МС происходит замещение на адсорбенте монослоя МС с меньшей молекулярной площадкой МС с большей молекулярной площадкой, что значительно повышает точность определения толщины слоя связующего.

Через слой твердого материала (адсорбента) пропускают эквимолярные количества МС, что объясняется следующим. Каждое МС характеризуется определенными Вандерваальсовыми размерами и молекулярной площадкой, поэтому для получения сопоставимых результатов по толщине слоя связующего на адсорбенте и числу адгезионных слоев необходимо иметь в системе

МС-адсорбентспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967MC+ адсорбент одинаковое количество молекул МС.

Адсорбция МС проводится в одинаковых условиях при температуре адгезии органического связующего твердым материалом, поэтому получаемые значения параметров по толщине и емкости монослоя сопоставимы.

Адсорбцию МС ведут при температуре адгезии связующего на твердом материале, равной

Т Тк + n.

Если использовать в качестве МС соединения с Тк < Т n то возникают затруднения при получении изотерм адсорбции системы МС-адсорбент, так как хроматографический пик МС сливается с пиком несорбирующегося компонента (воздуха). Когда Тк > Т n МС в значительной мере поглощается адсорбентом и пик МС получается сильно растянутым или не проявляется на хроматограмме.

МС (бензол, циклогексан, н-гептан и др.) при температуре адгезии связующего в потоке газа-носителя образуют монослой на поверхности адсорбента, поскольку изотермы адсорбции МС имеют лэнгмюровскую форму. Количество и размеры адсорбированного МС (емкость и толщина монослоя) соответствуют поверхности и размерам пор, поскольку твердые (углеродистые) материалы обладают молекулярно-ситовыми свойствами.

Толщину адсорбционного слоя органического связующего в системе с адсорбентом можно определить по толщине слоя МС, причем количество последних выбирают в зависимости от структурно-группового состава связующих. В качестве МС можно использовать вещества, выбранные из ряда углеводородов, входящих в состав связующих (ароматических, парафиновых, нафтеновых и др.).

Согласно принципу аддитивности вклад каждого класса углеводородов в толщину (емкость) адсорбционного монослоя органического связующего определяется толщиной (емкостью) и количеством этого класса углеводородов в связующем. Поэтому по толщине (емкости) монослоя органического МС можно судить о толщине (емкости) монослоя сходных по природе ароматических, парафиновых и нафтеновых углеводородов, входящих в состав связующего.

Процесс адсорбции углеводородов на твердых (углеродистых) материалах подчинятся равнению Лэнгмюра, поскольку при увеличении концентрации углеводорода в газе (система газ твердый материал) количество адсорбированного углеводорода на 1 г адсорбента стремится к некоторому предельному значению. В этих условиях углеводород покрывает поверхность адсорбента мономолекулярным слоем, располагаясь в мезопорах, соответствующих его Вандерваальсовым размерам. Этому требованию удовлетворяют большие молекулы ароматических соединений (бензол и др.) и большие молекулы насыщенных углеводородов (н-гептан, циклогексан и др.).

Молекулярные площадки и размеры молекул сведены в табл. 1.

Способ может быть осуществлен следующим образом.

Образец измельчают до крупности 0,25-0,50 мм, помещают в термостатированную колонку хроматографа, через которую последовательно пропускают пары каждого из МС-бензола, циклогексана, н-гептана в порядке повышения величин их молекулярных площадок.

Получают хроматограммы при следующих условиях: детектор катарометр, длина колонки 2 м, диаметр 3 мм, скорость газа-носителя гелия 100 мл/мин, скорость движения диаграммной ленты самописца 1,2 см/мин, масса адсорбента в колонке 18,0-20,4 г, количество адсорбата, вводимого в колонку, 4,5способ определения толщины слоя на подложке, патент № 203996710-5 способ определения толщины слоя на подложке, патент № 20399675,1способ определения толщины слоя на подложке, патент № 203996710-7 моля.

Толщину адсорбционного слоя (способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967) определяют по формуле

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967/Sудспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 Cспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 (1) где aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967- предельное количество МС, адсорбированное образцом при температуре адгезии органического связующего, г/г адсорбента; Cспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967- предельная концентрация МС в газе, г/см3, соответствующая величине aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967; Sуд удельная поверхность адсорбента, см2/г адсорбента.

Величины aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 Cспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 и Sуд определяют следующим образом. Концентрация МС в газе (С), соответствующая данной точке хроматографического пика, пропорциональна отклонению пера (hп) регистрирующего прибора:

C Kспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967hп, (2) где К калибровочная константа;

К gU/способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967П (3) где g количество МС, г; U скорость движения диаграммной ленты самописца, см/мин; способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967- объемная скорость газа-носителя, см3/мин; П площадь хроматографического пика, см2.

Количество адсорбированного МС (а), которое является функцией концентрации (С) МС в газе, рассчитывают по формуле

а f(C) способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967Kспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967Пh/U способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967m (4) где m масса адсорбента, г; Пh размер площадки, соответствующий высоте hп отклонения пера регистрирующего прибора, см2.

Расчет по формуле (4) проводят методом графического интегрирования хромматограмм. Изотерму адсорбции строят в координатах а С, где а количество адсорбированного МС, г/г адсорбента; С концентрация вещества в газе, г/см3.

Удельную поверхность (Sуд) адсорбентов, имеющих различные размеры пор, определяют по формуле

Sуд= aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967oспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967NA, (5) где aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967- предельное количество МС, адсорбированное образцом при температуре адгезии органического связующего, моль/г адсорбента; способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967о площадь, занимаемая одной молекулой, способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967; NА число Авогадро, равное 6,02278способ определения толщины слоя на подложке, патент № 20399671023 моль-1.

П р и м е р. Определяют толщину слоя связующего на подложке-кварце, имеющего следующий структурно-групповой состав, парафино-нафтеновые углеводороды 3,33; ароматические соединения 53,31; парафино-ароматические углеводороды 14,77; асфальтены (смесь парафино-нафтеновых и ароматических соединений) 27,88; что по соотношению компонентов соответствует битуму типа I.

Кварц измельчают до крупности 0,25-0,50 мм, сушат в сушильном шкафу при температуре 120оС в течение 1-1,5 ч, загружают в термостатированную хроматографическую колонку и продувают слой адсорбента газом-носителем гелием при температуре 250-260оС в течение 1-1,5 ч. Затем термостат прибора охлаждают до температуры опыта и пропускают через слой кварца в потоке газа-носителя последовательно при температуре адгезии органического связующего (+80оС) эквимолярные количества МС-бензола (4,5способ определения толщины слоя на подложке, патент № 203996710-5способ определения толщины слоя на подложке, патент № 20399675,1способ определения толщины слоя на подложке, патент № 203996710-7 моля), циклогексана (4,5способ определения толщины слоя на подложке, патент № 203996710-5 способ определения толщины слоя на подложке, патент № 20399675,1способ определения толщины слоя на подложке, патент № 203996710-7 моля), н-гептана (4,5способ определения толщины слоя на подложке, патент № 203996710-5способ определения толщины слоя на подложке, патент № 20399675,1способ определения толщины слоя на подложке, патент № 203996710-7 моля) в порядке увеличения размеров их молекулярных площадок соответственно, способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 182,4 __способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 210,4 ___способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 244,3. Перед пропусканием каждого следующего МС слой адсорбента продувают газом-носителем гелием в течение 30 мин при температуре кипения предыдущего МС.

По полученным хроматографическим пикам определяют концентрацию МС в газе (С), калибровочные константы (К) и измеряют количество МС, а, г/г адсорбента, адсорбированное образцом, по изотермам адсорбции при температуре адгезии органического связующего (битума) 80оС. Для систем кварца с циклогексаном, бензолом и н-гептаном при Cспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967= 1,5способ определения толщины слоя на подложке, патент № 203996710-4 г/см3 и температуре 80оС найдены величины aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967104 г/г адсорбента, aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967106 моль/г адсорбента, Sудспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967104 см2/г адсорбента и толщина монослоя МС на кварце (подложке), которые приведены в табл. 2. Аналогично определены величины aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967, Sуд и способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 для систем МС (циклогексана, бензола, н-гептана) с Шарташским гранитом, сланцево-битумной породой, карбонатно-битумной породой, Богдановичским известняком (см.табл.2).

Как видно, толщина монослоя МС на адсорбенте равна, способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967: 0,44 (нафтеновый углеводород, циклогексан); 0,47 (ароматические углеводороды бензол), 0,45 (парафиновые углеводороды н-гептан). Толщина монослоя МС на адсорбенте не зависит от природы адсорбента.

По принципу аддитивности средняя толщина монослоя групповых составляющих связующих: парафино-нафтеновых ( способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967пн), ароматических ( способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967а), парафино-ароматических ( способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967па), асфальтенов ( способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967ас) на адсорбенте равна

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967пн= (0,44+0,45)/2= 0,445 способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 где 0,44; 0,45 толщина монослоя нафтенового (циклогексана) и парафинового (н-гептана) углеводорода на адсорбенте,

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967a= 0,47 способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 где 0,47 способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 толщина монослоя ароматического соединения (бензола) на адсорбенте,

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967па= (0,45+0,47)/2= 0,46 способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967ас= (0,44+0,47+ 0,45)/3= 0,445 способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967

Аналогично определяют среднюю емкость монослоя групповых составляющих органического связующего: парафино-нафтеновых (aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967пн), ароматических (aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967а), парафино-ароматических (aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967па) углеводородов и асфальтенов (aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967ас) на адсорбенте.

aпспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967н= (aпспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 + aнспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967)/2;

aaспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 aпспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967;

aпспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967а= (aпспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 + aаспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967)/2;

aаспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967с= (aпспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 + aнспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967+ aаспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967)/3, где aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967п, aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967н, aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967а емкость монослоя парафиновых (н-гептан), нафтеновых (циклогексан) и ароматических (бензол) углеводородов на адсорбенте.

При получении асфальто-бетонных смесей расход связующего (битума) составляет способ определения толщины слоя на подложке, патент № 20399677% по массе. Структурно-групповой состав битумов типа I-III приведен в табл. 3.

На основании этих и указанных выше данных толщина слоя (способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967) компонентов органического связующего: парафино-нафтеновых (способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967пн), ароматических (способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967а), парафино-ароматических (способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967па), асфальтенов (способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967ас), в частности, на кварце равна

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967пн= 0,07способ определения толщины слоя на подложке, патент № 20399670,0333способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967пн/aпспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967н, где 0,07 количество связующего на кварце; 0,0333 содержание парафино-нафтеновых углеводородов в связующем (битуме типа I); aспособ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967пн емкость монослоя парафино-нафтеновых углеводородов на кварце; способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967пн толщина монослоя парафино-ароматических углеводородов на кварце.

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967пн= 0,07способ определения толщины слоя на подложке, патент № 20399670,0333способ определения толщины слоя на подложке, патент № 20399670,445/1,2способ определения толщины слоя на подложке, патент № 203996710-4= 8,6 способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967.

Аналогично определяют толщину слоя (способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967а) ароматических соединений (по бензолу) на кварце: способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967а= 0,5331способ определения толщины слоя на подложке, патент № 20399670,07способ определения толщины слоя на подложке, патент № 20399670,47/1,1 159,4 способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967, где 0,5331 содержание ароматических углеводородов в битуме типа I: 0,47 толщина монослоя ароматических углеводородов по бензолу; 1,1 емкость монослоя ароматических соединений на кварце (см.табл.2),

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967па= 0,07способ определения толщины слоя на подложке, патент № 20399670,1477способ определения толщины слоя на подложке, патент № 20399670,46/1,25 38 способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 где 0,1477 содержание парафино-ароматических углеводородов в битуме типа I; 0,46 толщина монослоя парафино-ароматических углеводородов на кварце; 1,25 емкость монослоя парафино-ароматических углеводородов на кварце, способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967ас= 0,07способ определения толщины слоя на подложке, патент № 20399670,2859способ определения толщины слоя на подложке, патент № 20399670,45/1,17 77 способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967 где 0,2859 содержание асфальтенов в битуме типа I; 0,45 толщина монослоя асфальтенов на кварце; 1,17 емкость монослоя асфальтенов на кварце.

Общая толщина слоя битума типа I на кварце равна

способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967б 8,6+159,4+38,0+77,0 283 способ определения толщины слоя на подложке, патент № 2039967

Аналогично определяют толщину слоя органических связующих (битумов типа II-III) на кварце, а также толщину слоя органических связующих (битумов типа I-III) на твердых материалах Шарташском граните, сланцево-битумной и карбонатно-битумной породах, мраморе, Богдановичском известняке и др.

Результаты определения толщины слоя и числа монослоев структурно-групповых составляющих битумов типа I-III и битумов типа I-III приведены в табл. 4.

Предлагаемый способ в отличие от прототипа может быть использован для определения толщины и числа слоев органического связующего (битума) на адсорбенте (подложке) горных породах (кварце, граните и др.), коксе, графите и др. Кроме того, с помощью предлагаемого способа можно определить толщину и число монослоев компонентов битумов парафино-нафтеновых, ароматических, парафино-ароматических углеводородов и асфальтенов. Известный способ не позволяет выполнить такое определение.

Класс G01N13/00 Исследование поверхностных или граничных свойств, например смачивающей способности; исследование диффузионных эффектов; анализ материалов путем определения их поверхностных, граничных и диффузионных эффектов; исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне

способ определения направления перемещения движущихся объектов от взаимодействия поверхностно-активного вещества со слоем жидкости над дисперсным материалом -  патент 2529657 (27.09.2014)
способ определения краевого угла смачивания хвои предварительно обработанной водяным паром -  патент 2525602 (20.08.2014)
способ определения теплоты адсорбции и теплоты смачивания поверхности и измерительная ячейка калориметра -  патент 2524414 (27.07.2014)
способ определения смачиваемости мелкодисперсных порошков -  патент 2522805 (20.07.2014)
способ определения коэффициента диффузии в порошковых материалах и способ определения толщины и показателя целостности покрытия на частицах порошковых материалов -  патент 2522757 (20.07.2014)
способ металлографического анализа -  патент 2522724 (20.07.2014)
способ тестирования системы металлографического анализа на основе сканирующего зондового микроскопа -  патент 2522721 (20.07.2014)
способ определения дисперсности водогазовой смеси -  патент 2522486 (20.07.2014)
способ определения плотности металлических расплавов -  патент 2517770 (27.05.2014)
прибор для совместного измерения поверхностного натяжения и работы выхода электрона жидкометаллических систем с участием компонентов с высокой упругостью насыщенного пара металлов и сплавов -  патент 2511277 (10.04.2014)
Наверх