керамика для профилированных наковален камеры высокого давления

Классы МПК:G01N23/20 с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения 
Автор(ы):, , ,
Патентообладатель(и):Институт теоретической и экспериментальной физики
Приоритеты:
подача заявки:
1991-06-28
публикация патента:

Использование: при нейтроноструктурных исследованиях конденсированных сред в условиях всестороннего сжатия. Сущность изобретения: керамика для профилированных наковален камеры высокого давления для проведения нейтроноструктурных исследований в геометрии рассеяния 2керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724 = 90керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724 выполнена в следующем соотношении компонентов, мас.%: окись магния 1-5, двуокись титана 8-12, окись алюминия - остальное. 4 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4

Формула изобретения

КЕРАМИКА ДЛЯ ПРОФИЛИРОВАННЫХ НАКОВАЛЕН КАМЕРЫ ВЫСОКОГО ДАВЛЕНИЯ для проведения нейтроноструктурных исследований в геометрии рассеяния 2керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724=90керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724, отличающаяся тем, что, с целью увеличения ее коэффициента пропускания в диапазоне длин волн нейтронов, используемых при проведении нейтронографических исследований, уменьшения его зависимости от длины волны и получения механических характеристик, способствующих сохранению диапазона давлений на образце, она состоит из следующих компонентов: оксид магния, диоксид титана и оксид алюминия в следующих соотношениях, мас.

Оксид магния 1 5

Диоксид титана 8 12

Оксид алюминия Остальное

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к технической физике, в частности к исследованию кристаллической структуры с помощью дифракции нейтронов материалов, находящихся в условиях всестороннего сжатия.

Известно устройство для проведения нейтроноструктурных исследований конденсированных сред в условиях всестороннего сжатия, которое представляет собой двухступенчатый мультипликатор, второй ступенью которого является камера высокого давления, выполненная по принципу поршень-цилиндр с поддержкой [1] Конструкция этого устройства такова, что ось камеры высокого давления располагается вертикально плоскости рассеяния. В этом случае в общее сечение упругого когерентного рассеяния дают вклад как исследуемый образец, так и сама камера высокого давления. Обычно, чтобы избежать вклада в общее сечение упругого рассеяния для изготовления цилиндра, используется сплав с "нулевой" матрицей на основе титана [2] но диапазон высоких давлений с таким цилиндром не превосходит 30 кбар. С другой стороны, к материалу цилиндра камер высокого давления представляется естественное требование, касающееся величины коэффициента пропускания, а для обычно используемых размеров цилиндра из титан-циркониевого сплава с "нулевой" матрицей коэффициент пропускания соответствует керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 20357240,1. В устройстве [1] цилиндр камеры высокого давления изготовлен из керамики, выполненной на основе окиси алюминия. Это позволяет увеличить диапазон высоких давлений до 45-50 кбар в силу механических свойств этой керамики, увеличить коэффициент пропускания камер в силу значений сечений поглощения Al2O3, не удается избежать вклада от камеры в общее сечение упругого рассеяния.

Известно устройство высокого давления, в котором проблема вклада в общее сечение упругого рассеяния от самой камеры высокого давления решена за счет выбора геометрии рассеяния 2 керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724 90о, когда ось камеры располагается вдоль оси падающего пучка нейтронов, а дифрагированные нейтроны распространяются в направлении, перпендикулярном оси камеры [3] Тогда падающие нейтроны проходят через поршень описанной камеры высокого давления, а дифрагированные через стенку цилиндра. К материалу, использующемуся для такой камеры высокого давления, предъявляются только требования к механической прочности и коэффициенту пропускания.

Наиболее близкой по технической сущности к изобретению является керамика для профилированных наковален камеры высокого давления для проведения нейтроноструктурных исследований конденсированных сред в условиях всестороннего сжатия и геометрии рассеяния 2 керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724 90о, выполненная из карбида вольфрама [4] Недостатком известной керамики является сильная зависимость коэффициента пропускания от длины волны и низкое его значение, что существенно уменьшает светосилу устройства высокого давления, затрудняет проведение расшифровки экспериментальных дифракционных данных, снижает точность определения параметров кристаллической структуры.

Целью изобретения является увеличение светосилы и улучшение спектральных характеристик при сохранении диапазона давлений на образце.

Цель достигается тем, что профилированные наковальни изготовлены из керамики в следующем соотношении компонентов, мас. окись магния, двуокись титана 8-12, окись алюминия остальное.

Введение окиси магния обеспечивает получение керамики с низкой пористостью и мелкозернистой структурой. При содержании окиси магния менее 1% керамика имеет высокую пористость и крупнозернистую структуру, т.е. низкую прочность, при содержании более 5% увеличивается хрупкость. При введении двуокиси титана обеспечивается получение керамики с повышенной прочностью, и при менее 8% эффект незначителен, при более 12% наблюдается образование новых фаз, что приводит к хрупкости.

Предлагаемая легированная оксидоалюминиевая керамика содержит большее число атомов разного типа, чем керамика из карбида вольфрама, но из них только титан имеет заметное сечение поглощения нейтронов керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724Тia Однако сечение поглощения нейтронов титана керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724Тia значительно меньше сечения поглощения нейтронов вольфрама керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724wa и концентрация титана гораздо меньше концентрации вольфрама в соответствующей керамике. В результате имеем коэффициент пропускания оксидоалюминиевой керамики, который имеет большую величину при керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724 1керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724 и лучшую спектральную характеристику. По механическим свойствам оксидоалюминиевая керамика не уступает керамике из карбида вольфрама до 70 кбар. Таким образом, оксидоалюминиевая керамика наряду с необходимыми механическими свойствами значительно улучшает спектральные характеристики устройства высокого давления для нейтронографических исследований.

На фиг. 1 изображено сечение вдоль оси камеры высокого давления с профилированными наковальнями для нейтроноструктурных исследований конденсированных сред в условиях всестороннего сжатия в геометрии рассеяния 2 керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724 90о; на фиг.2 приведена градуировочная кривая зависимости давления в камере высокого давления от усилия кресла для профилированных наковален из карбида вольфрама и оксидоалюминиевой керамики; на фиг.3 изображены спектральные характеристики коэффициента пропускания профилированных наковален из карбида вольфрама и оксидоалюминиевой керамики в зависимости от длины волны нейтронов; на фиг.4 показана зависимость от давления на исследуемом образце расстояния между выступами наковален.

Общая схема камеры представлена на фиг.1. Профилированные матрицы 1 из оксидной керамики, запрессованные в стальные поддерживающие кольца 2, опираются на твердосплавные подложки 3,4 в системе поддерживающих колец. В подложках выполнены осевые отверстия для прохождения излучения. Блоки матриц с соответствующими блоками подложек центрированы внешними тонкостенными кольцами 5. Исследуемый образец 6 располагается в центральной части камеры в углублениях матриц и окружен контейнером 7 с поддерживающим кольцом 8, служащим деформируемым уплотнением камеры высокого давления кольцевых выступов с определенной шириной их торцовой поверхности. Функция выступов заключается в формировании запирающего заусенца, обеспечивающего с одной стороны удержание материала контейнера в центральном объеме камеры при достаточной его высоте, а с другой пластическую деформацию контейнера в процессе сжатия. Возможность получения давлений в камере и контактных напряжений, превышающих предел прочности на одноосное сжатие материала, из которого сделаны матрицы, обеспечивается конструктивно за счет использования принципа массивной поддержки, который реализован ограничением площади торцовой нагрузки матриц с помощью выступов, а также за счет оптимизации боковой поддержки матриц со стороны стальных колец. Ввиду высокой хрупкости керамики величина боковой поддержки матриц рассчитывается с учетом условия отсутствия положительных окружных деформаций в теле матрицы при максимальных нагрузках пресса.

Испытания камеры высокого давления проводились для варианта с объемом образца 250 мм3, с характерным диаметром центрального углубления в матрицах 15 мм. На фиг.2 представлена калибровочная зависимость камеры с матрицами из Al2O3 (с добавками MgO, TiO2, сплошная кривая). Калибровка осуществлялась по скачкам электросопротивления реперных материалов: Bi (2,55 и 7,7 ГПа), Те (3,7 ГПа), РbTe (5,2 ГПа), Ва (5,5 ГПа) с контейнером из литографского камня. Для сравнения штриховой кривой на фиг.2 показана калибровочная зависимость камеры с матрицами карбида вольфрама (репер: Sn 9,4 ГПа). Керамические матрицы, как правило, имели хрупкое разрушение при нагрузках пресса более 250 тс и являются существенно менее прочными, чем матрицы, изготовленные из твердого сплава. Из калибровочной зависимости камеры можно сделать вывод о том, что надежным рабочим диапазоном представленной керамической камеры высокого давления является диапазон до керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724 7 ГПа.

Процесс проведения нейтроноструктурных исследований в условиях всестороннего сжатия проходит следующим образом.

Описанная камера высокого давления в сборке с образцом, представленная на фиг.1, является второй ступенью мультипликатора. Мультипликатор расположен так, что его ось совпадает с осью падающего импульсного пучка нейтронов. С помощью пресса, первой ступени мультипликатора, подается усилие на твердосплавные подложки 3. Это усилие передается на керамические наковальни 1 и образец 6, размещенный в составной гаскетке 7,8. Под действием этого усилия гаскетка деформируется таким образом, что деформируемый между наковальнями образец поддерживается сбоку деформирующейся гаскеткой. По достижении высокого давления на образце в соответствии с градуировочной зависимостью, представленной на фиг.2, начинается нейтронодифрационное исследование образца, находящегося в условиях всестороннего сжатия. Падающие нейтроны проходят через наковальню камеры, но на образец попадает только часть нейтронов по отношению к падающему потоку в соответствии с коэффициентом пропускания Т материала камеры наковальни. На фиг.3 приведены коэффициенты пропускания идентичных по размерам наковален с профилированными торцами, но выполненных из разных материалов: наковальня из оксидоалюминиевой керамики 9 и наковальня из карбида вольфрама 10. Коэффициенты пропускания для этих наковален значительно отличаются друг от друга своими спектральными характеристиками и абсолютным значением. В приведенном интервале изменения длины волны керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724 коэффициент пропускания Т для наковальни из оксидоалюминиевой керамики больше, чем коэффициент пропускания для наковальни из каpбида вольфрама.

Далее пришедший поток нейтронов падает на образец, и нейтроны, испытавшие дифракцию под углом 2 керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724 90о, регистрируются детектором. Интенсивность дифрагированных нейтронов пропорциональна высоте керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724 между наковальнями. Зависимость керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724 от давления на образце приведена на фиг.4, и она не зависит от материала наковальни.

Описание работы камер высокого давления, в которых используются разные материалы для наковален, показывает, что эффективность для нейтронодифракционных исследований камеры высокого давления с наковальней из оксидоалюминиевой керамики значительно выше камеры с наковальней из карбида вольфрама. Сама эффективность определяется в основном спектральной характеристикой наковальни. Керамика позволяет увеличить коэффициент пропускания наковальни камеры высокого давления в 5 раз при керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724 1керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724 и в 30 раз при длине волны, равной 2,3 керамика для профилированных наковален камеры высокого   давления, патент № 2035724, т. е. существенно увеличить спектральную зависимость, что позволяет увеличить выход полезной информации, увеличить точность.

Класс G01N23/20 с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения 

способ определения концентрации элемента в веществе сложного химического состава -  патент 2524454 (27.07.2014)
способ определения термостойкости изделий из сверхтвердой керамики на основе кубического нитрида бора -  патент 2522762 (20.07.2014)
способ контроля и управления непрерывной термообработкой -  патент 2518039 (10.06.2014)
способ рентгенометрической оценки температурных условий эксплуатации трубных элементов котлов -  патент 2509298 (10.03.2014)
способ рентгеноструктурного контроля детали -  патент 2488099 (20.07.2013)
фосфат лития-железа со структурой оливина и способ его анализа -  патент 2484009 (10.06.2013)
способ и устройство для регистрации кривых дифракционного отражения -  патент 2466384 (10.11.2012)
рентгенодифракционный способ идентификации партий фармацевтической продукции -  патент 2452939 (10.06.2012)
прибор для рентгеновского анализа -  патент 2450261 (10.05.2012)
рентгеновская установка для формирования изображения исследуемого объекта и ее применение -  патент 2449729 (10.05.2012)
Наверх