способ изготовления полупроводниковых кристаллов
Классы МПК: | H01L21/78 с последующим разделением подложки на несколько отдельных приборов |
Автор(ы): | Коломицкий Николай Григорьевич, Астапов Борис Александрович |
Патентообладатель(и): | Коломицкий Николай Григорьевич, Астапов Борис Александрович |
Приоритеты: |
подача заявки:
1992-11-19 публикация патента:
10.05.1995 |
Использование: в микроэлектронике при изготовлении полупроводниковых кристаллов. Сущность изобретения: на поверхность полупроводниковых пластин наносят слой неблагородного металла VI - VIII группы или их оплавы толщиной 0,2 - 2,5 мкм, поверх его наносят слой защитного металла толщиной 0,5 - 30,0 мкм и после механического разделения пластины на кристаллы и промывки в травителе проводят защиту боковой поверхности кристаллов компаундом и химическую обработку металла верхнего слоя. 7 з.п. ф-лы, 1 табл.
Рисунок 1
Формула изобретения
1. СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КРИСТАЛЛОВ, включающий нанесение на полупроводниковую пластину со сформированными структурами приборов слоя металла омического контакта и слоя металла защитного покрытия, механическое разделение полупроводниковой пластины, обработку в травителе образовавшихся боковых поверхностей с последующей химической обработкой слоя металла защитного покрытия, отличающийся тем, что дополнительно перед химической обработкой слоя металла защитного покрытия проводят защиту образовавшихся боковых поверхностей полимерным компаундом, а в качестве металла омического контакта используют неблагородные металлы Vi VIII групп или их сплавы. 2. Способ по п.1, отличающийся тем, что химическую обработку проводят до полного удаления металла защитного покрытия. 3. Способ по п.1, отличающийся тем, что химическую обработку проводят с частичным удалением металла защитного покрытия. 4. Способ по пп.1 3, отличающийся тем, что после химической обработки наносят дополнительные слои металлов или их сплавов. 5. Способ по п. 4, отличающийся тем, что в качестве металла дополнительных слоев используют металлы подгруппы олова. 6. Способ по п. 4, отличающийся тем, что в качестве металла дополнительных слоев используют металлы подгруппы никеля. 7. Способ по п.1, отличающийся тем, что слой металла омического контакта наносят толщиной 0,2 2,5 мкм. 8. Способ по п.1, отличающийся тем, что слой металла защитного покрытия наносят толщиной 0,5 30,0 мкм.Описание изобретения к патенту
Изобретение относится к изготовлению полупроводниковых приборов, в частности, к изготовлению полупроводниковых (п/п) кристаллов. Известен способ изготовления п/п кристаллов, включающий нанесение на поверхность п/п пластины металла омического контакта, например ванадия. На поверхность ванадия наносят слой золота, пластину разделяют на кристаллы механическим путем с последующей промывкой в химическом травителе с целью удаления разрушенного слоя боковой поверхности кристалла. Получают с хорошим выходом кристаллы высоковольтной группы [1]Недостатком данного способа является использование драгоценного металла-золота. Наиболее близким по своей технической сущности является способ изготовления п/п кристаллов, при котором на кремниевую пластину со сформированным р-n-переходом наносят слой металла омического контакта и сверху защитный слой свинца, осуществляют механическое разделение пластин на кристаллы, их промывку в травителе боковой поверхности и снятие защитного слоя свинца химическим путем [2] Недостатком данного способа разделения пластин является то, что удается получать в основном кристаллы низковольтных групп. Сущностью изобретения является получение п/п кристаллов, применяемых в производстве высоковольтных п/п приборов, без использования драгоценных металлов. Это достигается тем, что на поверхность п/п пластин наносят любым способом слой неблагородного металла VI-VIII групп или их сплавы, на который наносят также любым способом второй слой защитного металла, стойкого к травителю кремниевых пластин, например свинец. Пластину разделяют на отдельные кристаллы механическим путем, промывают в химическом травителе боковой поверхности, защищают их боковую поверхность кремнийорганическим компаундом и после отверждения последнего производят химическую обработку верхнего слоя металла до частичного или полного его снятия. В случае использования свинца в качестве верхнего защитного слоя химическую обработку производят в перекисном растворе уксусной кислоты или во флюсе. Защиту боковой поверхности кристаллов кремнийорганическим компаундом можно проводить любым способом, не допуская попадания компаунда на планарные поверхности кристаллов. Такая полимерная защита позволяет осуществлять различные технологические операции с защищенными кристаллами без загрязнения р-n-перехода, так например, обработку химическими травителями и флюсами, нанесение гальванических покрытий, напыление металлов, горячее лужение на планарные поверхности кристаллов и т.п. Для улучшения омического контакта при сборке приборов методом бесфлюсовой пайки допускается дополнительное нанесение как металла нижнего слоя на планарные поверхности кристаллов после снятия верхнего слоя, так и дополнительное нанесение слоя металлов I-V групп или их сплавов любым способом. Такое нанесение можно проводить как после удаления металла верхнего слоя, т.е. на металл нижнего слоя, так и после частичного удаления металла верхнего слоя или его окислов. Все технологические операции легко поддаются механизации и автоматизации, широко используются в технологии изготовления п/п приборов и не нуждаются в сложном специальном оборудовании. Однако указанная последовательность технологических операций с использованием данных металлов, полимерных материалов и травителей позволяет получать высоковольтные приборы, не уступающие по своим электротехническим параметрам п/п приборам, содержащим в своем составе драгоценные металлы, например золото. П р и м е р 1 (прототип). На кремниевую пластину диаметром 40 мм с р-n-переходом и слоем химического никеля наносят гальваническим путем защитный слой свинца толщиной 4 мкм. Пластину разделяют алмазными пилами на отдельные кристаллы и промывают в травителе боковой поверхности HF:HNO3=1:2 в течение 15 с. После промывки кристаллов в деионизованной воде их промывают в растворе Н2О2: СН3СООН:H2O=2:1:1 до удаления свинца. Промытые в воде и высушенные кристаллы передают на сборку п/п приборов. П р и м е р 2. На обе стороны кремниевой пластины диаметром 40 мм с р-n-переходом наносят слой химического никеля толщиной 0,5 мкм. Состав ванны никелирования следующий, г/л: никель сернокислый 18; натрий уксуснокислый 18; уксусная кислота 18; гипофосфит натрия 10. Условия никелирования: температура 75


(CH3)3SiO



C2H5O








(CH2= CH)3SiO


В качестве катализатора отверждения может быть использован раствор 1%-ной платинохлористоводородной кислоты в изопропиловом спирте (катализатор Спайера) или любой другой платиносодержащий катализатор, используемый для реакций гидридного отверждения. Могут быть использованы для защиты боковой поверхности любые кремнийорганические материалы, позволяющие получать прочные, эластичные пленки. Такими продуктами могут быть низкомолекулярные каучуки или растворы каучуков перекисного или иного типа отверждения, мономерные или олигомерные композиции, отверждаемые как на холоду, так и при нагревании. Как уже было сказано ранее, дополнительное нанесение металлических покрытий на планарные поверхности защищенных СИЭЛом кристаллов производится исключительно с целью облегчения пайки кристаллов при их сборке и не влияет на выход высоковольтных групп, так как р-n-переход кристаллов уже надежно защищен СИЭЛом, который стоек к агрессивным средам и высоким температурам. Кремниевые п/п кристаллы, полученные по предлагаемому способу и прототипу, были использованы при сборке диодов КД-226 в пластмассовых корпусах. Сборку и герметизацию приборов проводили по единой технологии с использованием одних и тех же материалов. Результаты классификации готовых приборов приведены в таблице. Как следует из данных таблицы, предлагаемый способ изготовления п/п кристаллов позволяет получать с большим выходом п/п диоды высоковольтных групп, не содержащих драгоценные металлы в своем составе. При этом получаемые приборы нисколько не уступают по своим электрофизическим параметрам приборам, по- лучаемым с использованием кристаллов, содержащих золото.
Класс H01L21/78 с последующим разделением подложки на несколько отдельных приборов