способ исследования спектров упругого отражения электронов

Классы МПК:H01J49/48 с использованием электростатических анализаторов, например цилиндрических секторов, фильтров Вьена
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Санкт-Петербургский государственный технический университет
Приоритеты:
подача заявки:
1990-10-02
публикация патента:

Использование: относится к физической электронике и может быть использовано в электронных спектрометрах, предназначенных для записи зависимости коэффициента упругого отражения электронов от их энергии с угловым разрешением порядка нескольких десятых долей градуса и меньше, энергетическим разрешением порядка нескольких десятых долей электронвольта и меньше. Сущность изобретения состоит в том, что первичный поток электронов с энергетическим разбросом способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647Ep= 0,2-0,6 эВ , формируемый электронной пушкой, направляют в изофокусирующую линзовую систему, замедляют (ускоряют) с ее помощью в K1= 1-100 раз по энергии, одновременно фокусируя на исследуемой мишени. Пучок, отраженный от мишени, фокусируют с помощью второй изофокусирующей системы на входной диафрагме энергоанализатора, одновременно ускоряя или замедляя его в K2= 1-100 раз до энергии настройки анализатора Ea . Далее электроны анализируемого потока, прошедшие через энергоанализатор, регистрируются при попадании на коллектор (ПЧД). Энергоанализ электронов производится в диапазоне энергий способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647E порядка величины энергетического разброса в первичном пучке способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647Ep . 1 з.п.фл-ы.

Формула изобретения

1. СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ СПЕКТРОВ УПРУГОГО ОТРАЖЕНИЯ ЭЛЕКТРОНОВ, включающий формирование первичного пучка электронов с разбросом по энергии на катоде способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647 Ec , Дж изменение средней энергии пучка до величины Eр, Дж, при которой в данной точке спектра определяют коэффициент отражения электронов, фокусировка пучка на мишени, изменение энергии отраженного пучка до величины энергии настройки анализатора Eа, Дж, анализ по энергии и регистрацию, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и скорости записи спектров, энергию настройки анализатора Eа поддерживают равной

e (Uc способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647 Uo ) .

где l - заряд электрона, Кл;

Uс - измеряемый потенциал катода относительно мишени, В;

U0 - постоянный сдвиг потенциала, В, в пределах 0способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647U0способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647Ec/2e ,

а формирование первичного пучка осуществляют из условий отсутствия зависимости формы кривой его энергетического спектра от сдвига по шкале энергий.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что до начала измерений снимают спектр f(E) энергетического распределения электронов в первичном пучке, регистрацию энергетического распределения R(E) электронов, упруго отразившихся от мишени и влетевших во входную апертуру анализатоа, осуществляют одновременно во всем энергетическом диапазоне Ep способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647 способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647 Ec / 2 при помощи позиционно-чувствительного детектора, и нормируя полученную зависимость R(E) на спектр f(E), получают спектр упругого отражения электронов в диапазоне

E = Ep способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647 способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647 Ec / 2.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к физической электронике и может быть использовано в электронных спектрометрах, обладающих угловым разрешением, составляющим десятые доли градуса и меньше, и энергетическим разрешением способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647Е, меньшим величины теплового разброса электронов способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647Ес способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647 0,2 - 0,6 эВ, эмиттированных катодом пушки.

Традиционно применяемые способы исследования зависимостей коэффициента упругого отражения R от энергии падающих на образец электронов Ер, основанные на монохроматизации зондирующего пучка, в том числе двухкаскадной монохроматизации [1,2,3], имеют следующие недостатки, устраняемые или ослабляемые в предлагаемом способе.

Малая интенсивность зондирующего пучка и, как следствие этого, малая чувствительность и скорость записи спектров, недостаточные для регистрации многих динамических процессов, происходящих, например, на поверхности твердого тела при адсорбции молекул газа.

Традиционное применение на выходе анализатора в качестве коллектора вторично-электронного умножителя позволяет регистрировать в каждый момент времени сигнал, соответствующий лишь одной точке на зависимости R(Ep), что также ограничивает скорость записи спектров упругого отражения.

Целью изобретения является повышение чувствительности и скорости записи спектров путем повышения интенсивности зондирующего и анализируемого потока, облегчение конструирования, настройки и обслуживания спектрометров, создаваемых для исследования спектров упругого отражения на основе предлагаемого способа исследования.

Для достижения цели поток первичных электронов с энергетическим разбросом способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647Ес, формируемый электронной пушкой, замедляют (или ускоряют) в К1 = 1 - 1000 раз по энергии до значения энергии Ер = 1 - -1000 эВ, при которой требуется измерить коэффициент упругого отражения мишени, отражают мишенью (ее поверхностью или объемом), замедляют (или ускоряют) в К2 = 1 - 100 раз до энергии настройки энергоанализатора, анализируют с помощью энергоанализатора спектр отраженного пучка в диапазоне энергий Ер2 способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647 0,5 способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647Ес, соответствующем области упругого отражения электронов, регистрируют электроны пучка, прошедшего через энергоанализатор и попавшего на коллектор.

На выходе энергоанализатора возможно использование в качестве детектора какого-либо позиционно-чувствительного детектора (П.Ч.Д), например, микроканальной пластины. При этом оказывается возможной одновременная раздельная регистрация сигналов упругого отражения, вызванных электронами анализируемого потока с различными энергиями, лежащими в пределах энергетического разброса способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647Ес и сосредоточенными вблизи значения энергии Ер зондирующего пучка. Свертка сигналов, поступающих от различных участков ПЧД, с заранее известной формой энергетического распределения электронов зондирующего пучка позволит восстановить истинную форму зависимости коэффициента упругого отpажения от энергии R(Ep) одновременно во всем диапазоне (Ер - 0,5 способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647Ес; Еp + 0,5 способ исследования спектров упругого отражения электронов, патент № 2020647Ес), или в более узком диапазоне энергий зондирующего потока, сосредоточенной вблизи Ер. Применение предлагаемого способа без учета применения ПЧД позволяет увеличить интенсивность потока в 10-100 раз, а использование ПЧД на выходе анализатора - дополнительно увеличить интенсивность анализируемого (регистрируемого в каждый момент времени) сигнала в десять раз. Таким образом, в целом скорость записи спектров R(Ep) повышается в 100 - 1000 раз.

Класс H01J49/48 с использованием электростатических анализаторов, например цилиндрических секторов, фильтров Вьена

Наверх