масс-спектрометр циклотронного типа

Классы МПК:H01J49/38 омегатроны
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Объединенный институт ядерных исследований
Приоритеты:
подача заявки:
1991-02-27
публикация патента:

Применение: анализ пучков заряженных частиц, продуктов ядерных реакций, сепарация ионов с целью идентификации химического, элементного и изотопного состава вещества, измерения масс атомных ядер. Сущность изобретения: многократное пропускание анализируемого пучка через высокочастотную систему (дуант) и сепарация частиц в магнитном поле из-за разности частот обращения ионов и вычокочастотного поля. Устройство содержит электромагнит с секторно-фокусирующим в обеих плоскостях магнитным полем, дуговой ионный источник открытого типа, высокочастотную систему (дуант) с определенной угловой протяженностью. 3 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3

Формула изобретения

МАСС-СПЕКТРОМЕТР ЦИКЛОТРОННОГО ТИПА, содержащий источник ионов, анализирующую систему, включающую магнит и дуанит, и приемник ионов, отличающийся тем, что, с целью увеличения разрешающей способности, в него введены дополнительные магнитные сектора, выполненные с возможностью фокусировки пучка ионов в горизонтальной и вертикальной плоскостях, а ионный источник выполнен дуговым с отверстием в аноде для прохождения пучка ионов, расположенном в медианной плоскости магнита, а катод и антикатод расположены по разные стороны медианной плоскости, при этом дуант выполнен с угловой протяженностью fd = 2Kмасс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 / h(pад) , где h - номер гармоники ускоряющего напряжения, K=1,2 - целое.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к исследованиям в атомной и ядерной физике - элементному и изотопному анализу вещества, прецизионному измерению масс атомных ядер, выполняемых с помощью масс-спектрометров, анализаторов заряженных частиц.

Известен широко масс-анализатор, используемый статические магнитные и электрические поля, в меньшей степени - прибор с высокочастотными электромагнитными полями. К последнему типу относится применение циклотронов в качестве масс-спектрометров заряженных частиц, где режим резонансного ускорения частиц с данной массой Am, зарядом Zq в магнитном поле B высокочастотным напряжением с угловой частотой масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262в. ч.определяется условием: масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262в. ч. = h масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262o, где масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262o - угловая частота обращения частиц (масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262o= масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262); h - номер гармоники высокочастотного напряжения. Сдвиг частицы по фазе относительно в. ч. напряжения в процессе ускорения (или замедления) за N оборотов пучка определяется отличием частоты обращения частицы от частоты ускоряющего напряжения: масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262sinмасс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 2масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262Nhмасс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262Если фазовое движение иона совершается в пределах масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262/2, то разрешающая способность циклотрона R = масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 = масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262hN может быть достаточно высокой при выборе определенных значений h и N.

Разница в частотах обращения частицы и в. ч. поля вызывается отличием в заряде, массе ускоряемого иона от резонансного масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 m, а также неточностью в распределении реального магнитного поля по радиусу от изохронного

масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262B = B - Bиз: масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 = масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 + масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 - масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 Считая возможным формирование магнитного поля с отличием от изохронного на уровне 10-5, при использовании такой токовой коррекции поля, возможно получение значений R на уровне 100000.

В качестве прототипа данного предложения можно взять масс-спектрометр с разрешающей способностбю R масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 10000-25000 для масс в области 250. Это прибор с высокой гармоникой (h=100) высокочастотного замедляющего поля с напряжением до 200В и двумя оборотами (N=2) пучка в однородном магнитном поле. Он включает в себя источник, магнит и высокочастотную систему (дуант).

Недостатком прибора является недостаточный коэффициент разрешения по массам ионов. Число оборотов частиц ограничивается двумя ввиду резкого (быстрее чем 1/N) падения интенсивности анализируемого пучка, движущегося в однородном магнитном поле.

Целью изобретения является повышение разрешающей способности и интенсивности пучков масс-спектрометра циклотронного типа.

Цель достигается тем, что анализируемый пучок с выбранным отношением масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 с энергией W циркулирует по магнитной дорожке с секторно-фиксирующим магнитным полем (или на определенном радиусе секторно-фокусирующего изохронного циклотрона), радиус которой соответствует магнитной жесткости ионов, предназначенных для анализа. Последние извлекаются из дугового ионного источника открытого типа (фиг. 1), находящегося под положительным потенциалом относительно земли Vu, (W=ZqVu), с помощью вытягивающей щели. Ионы заполняют дорожку анализатора до интенсивности, максимум которой (nпред) определяется сдвигом частот бетатронных колебаний до резонансного значения, вызываемым собственным пространственным зазором пучка.

Существенными отличиями предлагаемого изобретения является использование в масс-спектрометре совершенно новых элементов, не известных в технической и патентной литературе.

На фиг. 1 представлен кольцевой секторно-фокусирующий масс-спектрометр; на фиг. 2 - магнит; на фиг. 3 - ионный источник 1.

Масс-спектрометр содержит полюс 1 электромагнита, катушку 2 возбуждения, кольцевое ярмо 3 электромагнита, секторные накладки 4, открытый ионный источник 5 дугового типа: 51 - катод, 52 - антикатод, 53- анодный конус, 54 - нить накаливания, вытягивающий электрод 6, дефлектор 7, фокусирующий магнитный канал 8, радиально-ограничивающие щели 9, дуант 10.

МП - медианная поверхность электромагнита масс-спектрометра.

Кольцевой секторно-фокусирующий масс-спектрометр содержит магнитную дорожку, которая образована ярмом 3 электромагнита с катушкой 2 возбуждения, установленной на центральном сердечнике.

Дуговой ионный источник работает импульсно (несколько мс), на время заполнения кольца пучком ионов, высокочастотная система - непрерывно. Исследуемое вещество подается в источник в виде газа в область анодного конуса 53, а с целью получения ионов из твердотельных веществ, например, анализа радиоактивных продуктов из предварительно облученных мишеней, последние могут быть установлены в разряд различными способами, например, в антикатод 52.

В одной из долин магнитной структуры устанавливается дуант 10 с угловой протяженностью масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262, при этом гармоника высокочастотного напряжения h выбирается из условия h= 2 k масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 /масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 , где K=1, 2... - целое, (рад), когда резонансные ионы (чья частота обращения масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262o = масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 в.ч./h при прохождении дуанта не изменяют своей энергии (масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262W = 2ZqVosin масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 = 0) и остаются на дорожке масс-спектрометра, в то время как ионы с отличием по массе масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 m или заряду масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 Z будут приобретать либо терять энергию, что приведет к возбуждению радиальных колебаний и в дальнейшем к потере их на радиально-ограничивающих диафрагмах 9.

Проанализированный пучок ионов сбрасывается (выводится) на детектор импульсным дефлектором 7, фокусируясь в рассеянном магнитном поле масс-спектрометра радиально-фиксирующим каналом. Как известно, интенсивность пучка ионов (без учета потерь частиц на остаточном газе) ограничивается (nпред) кулоновским сдвигом частот бетатронных колебаний до резонансных значений. Для рассматриваемой магнитной структуры циклотрона, характеризуемой параметрами:

масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 3 кГс (Bхолма=4 кгс; Bдолины=2 кгс;

масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262r=1,06; масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262z=0,32; R=40 см, и для ионов, скажем, с А=80, Z=8, извлекаемых из источника с потенциалом Vи=70 кВ, nпред составит около 1010 частиц (масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 1 мА). Одним из отличий от прототипа является использование секторно-фокусирующей структуры, чем достигается увеличение динамического аксентанса циклотрона, устраняются потери по вертикали, увеличивается интенсивность пучка. Возможно, по сравнению с прототипом, значительное повышение числа оборотов N анализируемого пучка. Повышение номера гармоники в. ч. напряжения h до 200-300 (f в. ч. масс-спектрометр циклотронного типа, патент № 2017262 100 мГц) значительно сокращает габариты в. ч. системы (например, четвертьволнового резонатора). В этих условиях возможно получение разрешающей способности масс-анализатора выше 105.

Наверх