способ измерения параметров сплошных цилиндрических электропроводящих объектов

Классы МПК:G01R33/12 измерение магнитных свойств образцов твердых или текучих материалов или изделий из них
G01N27/72 путем исследования магнитных параметров 
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Себко Вадим Пантелеевич
Приоритеты:
подача заявки:
1991-05-20
публикация патента:

Использование: относится к неразрушающему контролю и предназначено для бесконтактного измерения магнитной проницаемости, удельной электрической проводимости и радиуса цилиндрических проводящих изделий. Сущность: способ заключается в возбуждении однородного переменного осесимметричного магнитного поля, изменении его частоты до достижения максимального значения фазового угла суммарного магнитного потока, измерении значения нормированного суммарного магнитного потока, максимального фазового угла суммарного магнитного потока и частоты зондирующего магнитного поля и определении по установленным зависимостям указанных параметров цилиндрических сплошных проводящих объектов. 3 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3

Формула изобретения

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ СПЛОШНЫХ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ОБЪЕКТОВ, включающий воздействие на измеряемый объект однородным переменным осесимметричным магнитным полем, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, измеряют значения нормированного магнитного потока через измерительную обмотку с измеряемым объектом, фазовый угол между измеряемым и воздействующим магнитными потоками и частоту воздействующего магнитного поля, изменяют частоту магнитного поля до достижения фазовым углом между измеряемым и воздействующим магнитными потоками максимального значения, фиксируют максимальное значение этого фазового угла способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 20120090 max, соответствующие этому углу нормируемый магнитный поток способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 * через измерительную обмотку с измеряемым объектом и частоту способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 воздействующего магнитного поля, а относительную магнитную проницаемость, удельную электрическую проводимость и радиус объекта определяют из следующей системы уравнений

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009omax= arctgспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009,

a = aспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 ,

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 = способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009*способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009,

где способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 = способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009;

x = aспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 ;

j0, j1 - модифицированные функции Бесселя первого рода нулевого и первого порядков;

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009*способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 , способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009omax - амплитуда и фаза нормированного магнитного потока переменного магнитного поля через измерительную обмотку с объектом способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009*способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 = способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009/способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009o;

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009o - магнитный поток в измерительной обмотке без объекта;

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009c - относительная магнитная проницаемость объекта;

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 - удельная электрическая проводимость объекта;

a, ac - радиусы объекта и измерительной обмотки;

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 - частота воздействующего магнитного поля;

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009o - магнитная постоянная.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения параметров ферромагнитных цилиндрических электропроводящих объектов.

Известен способ бесконтактного измерения удельной электрической проводимости и магнитной проницаемости цилиндрических электропроводящих объектов, заключающийся в том, что контролируемый объект помещают в однородное переменное осесимметричное магнитное поле, измеряют амплитуду и фазу нормированной суммарной ЭДС измерительной обмотки, по которым, пользуясь установленными зависимостями, определяют указанные два параметра (Голоцван С. Б. , Горкунов Б. М. , Себко В. П. Исследование электромагнитного проходного преобразователя с цилиндрическим изделием//Известия ВУЗов. Приборостроение, 1988, т. XXXI, N 7, с. 53-59). В этих измерениях полагается известным радиус цилиндрического объекта.

Недостатком известного способа является низкое число измеряемых параметров.

Наиболее близким по технической сущности к заявляемому является способ измерения параметров цилиндрических проводящих изделий, заключающийся в том, что на контролируемый объект воздействуют однородным переменным осесимметричным магнитным полем, изменением частоты зондирующего магнитного поля добиваются максимального значения мнимой части вносимого магнитного потока, измеряют амплитуду и фазу нормированного вносимого магнитного потока и по установленным соотношениям определяют магнитную проницаемость, удельную электрическую проводимость и радиус контролируемого изделия (авт. св. N 1672340, кл. G 01 N 27/72, 1987).

Недостатком способа является сложность его реализации и низкая точность измерений, связанная с влиянием погрешности компенсации магнитного потока преобразователя без изделия на измеряемую величину вносимого магнитного потока.

Цель изобретения - повышение точности измерения магнитной проницаемости, удельной электрической проводимости и радиуса сплошных цилиндрических электропроводящих объектов.

Цель достигается тем, что известный способ, включающий воздействие однородного переменного осесимметричного магнитного поля на контролируемый объект, изменение частоты воздействующего магнитного поля, дополнен тем, что фиксируют максимальный фазовый угол суммарного магнитного потока, измеряют значение суммарного нормированного магнитного потока на частоте, соответствующей максимальному значению фазового угла суммарного магнитного потока, и по установленным зависимостям определяют магнитную проницаемость, удельную электрическую проводимость и радиус сплошных цилиндрических электропроводящих объектов.

Новизна предлагаемого способа состоит в том, что изменение частоты воздействующего магнитного поля до достижения максимального значения фазового угла суммарного магнитного потока, измерение значения суммарного нормированного магнитного потока на частоте, соответствующей максимальному значению фазового угла суммарного магнитного потока, и измерение этого максимального фазового угла, использование установленных зависимостей позволяет повысить точность измерения магнитной проницаемости, удельной электрической проводимости и радиуса сплошных цилиндрических электропроводящих объектов. Так как в известных аналогах не обнаружены отличительные признаки заявляемого устройства, авторы и заявитель считают, что предлагаемое изобретение соответствует критерию "существенное отличие".

На фиг. 1 представлена электрическая схема установки, реализующей заявляемый способ; на фиг. 2 - векторная диаграмма магнитных потоков; на фиг. 3 - график зависимости значения максимального фазового угла суммарного магнитного потока и обобщенного параметра контроля.

Установка, реализующая заявляемый способ, состоит из последовательности соединенных генератора 1 напряжения переменной частоты, амперметра 2, вихретокового преобразователя 3 трансформаторного типа с помещенным в него контролируемым объектом 4 и катушки 5 взаимоиндуктивности. Измерительная цепь установки состоит из подключенных к измерительной обмотке преобразователя 3 вольтметра 6 и фазометра 7, опорный вход которого подключен к выходу вторичной обмотки катушки 5.

На векторной диаграмме представлены вектор Фо потока зондирующего магнитного поля через измерительную обмотку преобразователя 3 без контролируемого объекта, вектор Фспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 суммарного магнитного потока, который является векторной суммой потока Ф1 зондирующего магнитного поля в зазоре между контролируемым объектом 4 и измерительной обмоткой преобразователя 3 и потока Ф2 магнитного поля в контролируемом объекте. На векторной диаграмме представлен максимальный фазовый угол способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009omaxмежду потоками Фо и Фспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 . Кроме того, приведен годограф векторов Фспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 и Ф2, получающийся при изменении частоты зондирующего магнитного поля от нуля до бесконечности.

Сущность способа бесконтактного измерения параметров цилиндрических сплошных электропроводящих объектов состоит в следующем.

В вихретоковом преобразователе возбуждают переменное во времени магнитное поле. Контролируемый объект помещают в рабочую полость преобразователя. При этом измерительную обмотку вихретокового преобразователя пронизывает суммарный поток переменного магнитного поля Фспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 , связанный с потоком Фо соотношением:

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 = способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009(1-способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009)+способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 (1) где способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 - коэффициент заполнения измерительной обмотки преобразователя

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 = a2 / ac2 , (2) а - радиус контролируемого объекта; ас - радиус измерительной обмотки преобразователя; способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009r - относительная магнитная проницаемость контролируемого объекта; способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 - комплексная эффективная магнитная проницаемость, которая для случая сплошного цилиндрического объекта в продольном осесимметричном магнитном зондирующем поле может быть записана как (Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справ. : В 2-х кн. /Под ред. В. В. Клюева. М. : Машиностроение, 1986, с. 352):

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 = способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009, (3) где Io, I1 - модифицированные функции Бесселя первого рода нулевого и первого порядков соответственно; х - обобщенный параметр контроля,

x = способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009; (4) способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 - удельная электрическая проводимость контролируемого объекта; способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 - круговая частота зондирующего магнитного поля; способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009o - магнитная постоянная; i - мнимая единица.

Фазовый сдвиг между магнитными потоками Фо и Фспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 обусловлен вторым слагаемым правой части уравнения (1), которое представляет собой поток магнитного поля в изделии - Ф2. Следовательно, годограф вектора Фспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 и годограф вектора Ф2 совпадают и равны годографу способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009эфф (с точностью до постоянного множителя), который табулирован в (Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справ. : В 2-х кн. /Под ред. В. В. Клюева. М. : Машиностроение, 1986, с. 352).

При изменении частоты зондирующего магнитного поля способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 от нуля до бесконечно больших значений вектор Фспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 пробегает по годографу и в некоторой точке фазовый угол способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009o между потоками Фо и Фспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 становится максимальным. Видно, что в этой точке вектор Фспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 касателен к годографу. Последнее позволяет записать соотношение

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009omax= arctgспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009. (5) Так как каждая точка годографа соответствует строго определенному значению обобщенного параметра контроля х, то выражение (5) позволяет, воспользовавшись аппаратом специальных функций, определить зависимость способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009оmax = f(x), что было сделано авторами. График этой зависимости приведен на фиг. 3. Аналитически эту зависимость можно записать как:

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009omax= arctg способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009, (6) где A = ber1(x) . bero(x) + bei1(x) . beio(x);

B = bero(x) . bei1(x) - beio(x) . ber1(x);

C = bero2(x) + beio2(x);

bern, bein - функции Бесселя первого рода n-го порядка, "штрих" обозначает производную по х.

Таким образом, изменяя частоту зондирующего магнитного поля, добиваются максимального значения фазового угла способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009o, измеряют значения частоты зондирующего магнитного поля I и способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009оmax , а также величины потоков Фспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 и Фо. После этого по зависимости, обратной зависимости (6) (графически, по таблице или численными способами), определяют значение обобщенного параметра контроля х, соответствующего данному значению способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009оmax , а по нему с помощью известной зависимости (3) - значения Re(способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009) и Im(способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009). По зависимости

a = aспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 (7) определяют радиус контролируемого объекта а. По зависимости

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009r= способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 (8) определяют относительную магнитную проницаемость объекта и из соотношения

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 = способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 (9) определяют удельную электрическую проводимость контролируемого объекта.

Повышение точности измерения трех параметров сплошных цилиндрических электропроводящих объектов достигается за счет отсутствия влияния на результаты измерений погрешностей компенсации магнитного потока зондирующего поля без изделия, неизбежно присутствующих при измерении вносимых потоков. Кроме того, повышение точности достигается за счет прямого измерения параметра, принимающего максимальное значение, а не косвенного измерения, характерного для способа-прототипа (в прототипе определяется максимум произведения амплитуды вносимого потока на синус его фазового угла).

Предлагаемый способ бесконтактного измерения параметров цилиндрических сплошных электропроводящих объектов был реализован следующим образом.

Проводят измерение параметров цилиндрического сплошного изделия радиусом 6,563 мм, выполненного из парамагнитного чугуна.

Измерения осуществляют, используя вихретоковый преобразователь со следующими параметрами: число витков измерительной обмотки - 800; радиус измерительной обмотки - 9,27 мм; число витков намагничивающей обмотки - 190; радиус намагничивающей обмотки - 10,56 мм. В качестве измерительной аппаратуры используют генератор ГЗ-112, фазометр Ф2-34, вольтметр В7-16 и прецизионный шунт номиналом 1 Ом.

Контролируемое изделие помещают в рабочую полость вихретокового преобразователя, его намагничивающую цепь запитывают током 9 мА и изменяют частоту зондирующего поля до достижения фазовым углом максимального значения. В данном случае величина способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009omax составила - 17,34о при частоте зондирующего поля 14,9462 кГц. Находят величину обобщенного параметра контроля х = 3,02957 и значения Re(способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009) = 0,493068 и Im(способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009) = -0,358122. Воспользовавшись соотношением

Ф = способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 (10) где Е - ЭДС, наводимая магнитным потоком в соленоиде; Wизм - количество витков измерительной обмотки, можно записать

способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 = способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 (11) и поэтому можно измерять непосредственно значения ЭДС, которые составили Eспособ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009= 451,201 мВ, Ео = 493,829 мВ.

Из соотношения (7) определяют величину радиуса объекта контроля а = 6,57303 мм, из соотношения (8) - относительной магнитной проницаемости способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009r = 1,51240 и из соотношения (9) - удельной электрической проводимости способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009 = 0,119027 способ измерения параметров сплошных цилиндрических   электропроводящих объектов, патент № 2012009107 См/м.

Сравнение результатов с результатами измерений контрольными методами, в качестве которых использовались дифференциально-баллистический (погрешность не более 1% ), контрактно-мостовой (погрешность не более 0,3% ) и микрометрический (погрешность не более 0,1% ), показало, что погрешности измерений составили: радиуса - 0,16% , магнитной проницаемости - 0,637% , удельной электрической проницаемости - 0,927% .

По сравнению со способом-прототипом, реализованным на установке, использовавшей преобразователь с погрешностью компенсации, не превосходящей 0,5% , предлагаемый способ позволил повысить точность измерения радиуса на 1,25% , магнитной проницаемости - на 0,45% и удельной электрической проводимости - на 2,5% .

Использование предложенного способа позволит получить достоверные величины магнитной проницаемости, удельной электрической проводимости и радиуса сплошных проводящих цилиндрических объектов, что важно в таких областях, как входной контроль металлических прутков, выбор оптимальных материалов для таких конструкций, как валы погружных электродвигателей, детали полеобразующих физических установок и т. д.

Класс G01R33/12 измерение магнитных свойств образцов твердых или текучих материалов или изделий из них

устройство для исследования магнитных свойств магнетиков -  патент 2507527 (20.02.2014)
способ исследования динамики намагничивания ферромагнетика, быстро вводимого в насыщающее сверхсильное магнитное поле -  патент 2488839 (27.07.2013)
способ определения массы ферромагнитного материала и устройство для его осуществления -  патент 2477466 (10.03.2013)
прибор для измерения магнитной вязкости ферромагнетика -  патент 2462730 (27.09.2012)
прибор для измерения кривой намагничивания ферромагнетика -  патент 2462729 (27.09.2012)
магнитный ферритометр для определения эквивалентной температуры эксплуатации наружной поверхности пароперегревательных труб из аустенитных сталей при остановленном котле -  патент 2458339 (10.08.2012)
способ измерения магнитной вязкости ферромагнетиков -  патент 2451945 (27.05.2012)
способ определения полевых и температурных зависимостей величины адиабатического изменения температуры с помощью универсальной кривой -  патент 2442975 (20.02.2012)

устройство для экспресс-испытания изделий из листовой электротехнической стали -  патент 2434237 (20.11.2011)
способ и устройство для измерения намагниченности жидкого вещества, в частности магнитной жидкости -  патент 2402032 (20.10.2010)

Класс G01N27/72 путем исследования магнитных параметров 

система биосенсора для приведения в действие магнитных частиц -  патент 2519655 (20.06.2014)
протокол смешанного возбуждения для устройства магнитного биодатчика -  патент 2491540 (27.08.2013)
способ определения толщины отложений на внутренней поверхности труб вихретоковым методом и устройство для его осуществления -  патент 2487343 (10.07.2013)
способ локального измерения коэрцитивной силы ферромагнитных объектов -  патент 2483301 (27.05.2013)
способ измерения параметров разрушающего испытания трубопроводов и комплекс для его осуществления -  патент 2482462 (20.05.2013)
способ воздействия на магнитные частицы и/или детектирования магнитных частиц в зоне действия, магнитные частицы и применение магнитных частиц -  патент 2481570 (10.05.2013)
способ определения точки кюри металлических высокотемпературных ферромагнитных сплавов -  патент 2478935 (10.04.2013)
способ определения массы ферромагнитного материала и устройство для его осуществления -  патент 2477466 (10.03.2013)
способ и устройство для анализа магнитного материала и анализатор, содержащий это устройство -  патент 2471170 (27.12.2012)
способ определения концентрации ванадия в атмосферном воздухе методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (варианты) -  патент 2466096 (10.11.2012)
Наверх