способ визуального количественного спектрального определения углерода в токопроводящих сплавах

Классы МПК:G01N21/67 с использованием электрической дуги или разрядов
Автор(ы):,
Патентообладатель(и):Днепропетровский государственный университет
Приоритеты:
подача заявки:
1991-07-08
публикация патента:

Использование - изобретение относится к спектральному анализу. Сущность изобретения: в способе воздействия на пробу низковольтного разряда производят с железным противоэлектродом при емкости разрядного контура 40 способ визуального количественного спектрального   определения углерода в токопроводящих сплавах, патент № 2011967 0,40 мкФ, индуктивности 3 + 0,3 мкГ. Определение массовой доли проводят по аналитическим парам линий CII 657,805 - FeII659,669 нм и СII 658,285 - FeII 658,669 нм по истечении 15 - 20 с с момента включения разряда. 1 табл. , 1 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2

Формула изобретения

СПОСОБ ВИЗУАЛЬНОГО КОЛИЧЕСТВЕННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ УГЛЕРОДА В ТОКОПРОВОДЯЩИХ СПЛАВАХ, включающий механическую обработку анализируемой пробы, воздействие на нее низковольтным искровым разрядом, разложение свечения в спектр посредством стилоскопа, уравнивание интенсивностей линии углерода и линии сравнения в аналитической паре путем перемещения фотометрического клина и определение массовой доли углерода в пробе по ее зависимости от величины перемещения фотометрического клина, отличающийся тем, что при воздействии на пробу низковольтным искровым разрядом используют железный стандартный противоэлектрод при емкости разрядного контура (40 способ визуального количественного спектрального   определения углерода в токопроводящих сплавах, патент № 2011967 4) мкФ и индуктивности (3 способ визуального количественного спектрального   определения углерода в токопроводящих сплавах, патент № 2011967 0,3) мкг, уравнивание интенсивностей линий проводят в течение 15 - 20 с с момента начала воздействия на пробу разрядом с использованием аналитической пары СП 657, 805 нм - FeП 658, 669 нм при анализе сплавов, содержащих углерод до 1% , или с использованием аналитической пары СП 658, 285 нм - FeП 658, 669 нм при анализе сплавов, содержащих углерод свыше 1% .

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к спектральному анализу, а конкретно к анализу токопроводящих материалов путем определения их химических или физических свойств, и может быть использовано при разработке и назначении технологических процессов.

Известен [1] способ полуколичественного спектрального определения углерода на стилоскопе, включающий оценку интенсивностей спектральных линий в красной области спектра по группе С2 : 1 C2 П 657,895 нм и 2 С2П658,285 нм. Линией сравнения служит Fe1 659,292 нм. Спектр возбуждает низковольтной искрой от генератора ПС-39 с индуктивностью разрядного контура, уменьшенной до одного витка диаметром 120 мм, емкостью батареи конденсаторов до 1200 мкФ, зарядный ток 8, , , 10 А, медный противоэлектрод, межэлектродный промежуток 1,0. . . 1,5 мм.

К недостаткам способа следует отнести необходимость сравнения ионных линий углерода группы С2 (16,33 эв) с атомной линией железа, имеющей энергию возбуждения верхнего уровня 4,61 эв.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ [2] количественного спектрального анализа сталей и сплавов на стилоскопе "Спектр", включающий механическую обработку, воздействие на пробу низковольтного искрового разряда, разлож ение свечения в спектр и последующее определение массовой доли углерода из ее зависимости от отсчета перемещения фотометрического клина.

К недостаткам способа следует отнести, во-первых, низкую чувствительность определения, связанную с уменьшением длительности разряда и, как следствие, уменьшение общей яркости спектра; во-вторых, использование для оценки интенсивностей негомологичной аналитической пары.

Целью изобретения является повышение чувствительности анализа углерода в токопроводящих сплавах.

Это достигается тем, что увеличивают длительность воздействия на пробу низковольтного искрового одиночного разряда до 68,8способ визуального количественного спектрального   определения углерода в токопроводящих сплавах, патент № 201196710-6 с, что соответствует емкости разрядного контура 40способ визуального количественного спектрального   определения углерода в токопроводящих сплавах, патент № 20119674 мкФ и индуктивности 3способ визуального количественного спектрального   определения углерода в токопроводящих сплавах, патент № 20119670,3 мкГ, воздействие разряда осуществляют с железным противоэлектродом, уравнивание интенсивностей линий проводят в течение 15. . . 20 с с момента начала горения искры с использованием гомологичной аналитической пары СП 657,805 нм - Fe П 658,669 нм при анализе сплавов, содержащих углерод до 1% , или с использованием гомологичной аналитической пары СП 658,285 нм - Fe П 658,669 нм при анализе сплавов, содержащих углерод свыше 1% .

В таблице приведена чувствительность (dN/dC) анализа углерода в низколегированных сталях 138 комплекта государственных стандартных образцов (ГСО), полученная по предлагаемому (1) и известному (2) способом в зависимости от характеристик режимов низковольтного искрового разряда и аналитического времени.

На чертеже показаны типичные градуировочные характеристики в координатах величины перемещения фотометрического клина, или его пропускания, N, % , от массовой доли, С, % , для визуального количественного определения углерода в сталях (кривая 1) и борсодержащих сплавах (кривая 2). Причем кривая 1 получена после уравнивания интенсивностей линий в аналитической паре СП 657,805 нм - Fe П 658,669 нм, кривая 2 - по аналитической паре СП 658,285 нм - Fe П 658,669 нм.

Изобретение осуществляют следующим образом. Представительную пробу обрабатывают на наждачном круге до шероховатости не более 20 мкм по ГОСТ 2789-73. Зачищенную поверхность пробы подвергают воздействию низковольтного искрового разряда от генератора, вмонтированного в стилоскоп "Спектр", при емкости 40способ визуального количественного спектрального   определения углерода в токопроводящих сплавах, патент № 20119674 мкФ, индуктивности 3способ визуального количественного спектрального   определения углерода в токопроводящих сплавах, патент № 20119670,3 мкГ, токе 4. . . 5 А, при трех импульсах в полупериод сетевого тока, фазе поджига 90о, железном противоэлектроде стандартных размеров, аналитическом промежутке 1,0. . . 1,5 мм, который следует тщательно выставлять по шаблону. Разлагают излучение в спектр при помощи стилоскопа. Находят группу С2 в красной области спектра. Устанавливают фотометрический клин на линию Fe П 658,669 нм и уравнивают с помощью него интенсивности линий СП 657,805 нм - Fe П 658,669 нм, записывают отсчет по шкале перемещения клина для каждой пробы и стандартного образца. Анализ выполняют в пяти параллельных измерениях и находят среднее арифметическое значение показаний отсчета перемещения клина способ визуального количественного спектрального   определения углерода в токопроводящих сплавах, патент № 2011967, % . По комплекту ГСО, например 138 низколегированных сталей, строят градуировочные характеристики в координатах, способ визуального количественного спектрального   определения углерода в токопроводящих сплавах, патент № 2011967, % ; С, % (массовая доля углерода в ГСО). Градуировочная характеристика для спектрального анализа углерода в сталях показана кривой 1. С найденным значением, способ визуального количественного спектрального   определения углерода в токопроводящих сплавах, патент № 2011967, % для пробы входят в этот график и определяют массовую долю углерода. Например, способ визуального количественного спектрального   определения углерода в токопроводящих сплавах, патент № 2011967, % = 60, С = 0,46% . Среднее квадратичное отклонение равно 0,03% .

Класс G01N21/67 с использованием электрической дуги или разрядов

способ выявления примесей в работающем масле и определения степени его загрязненности для оценки технического состояния агрегатов машин -  патент 2519520 (10.06.2014)
способ определения состава электролитических жидкостей -  патент 2518633 (10.06.2014)
способ интегрально-сцинтилляционного исследования вещества с фракционным испарением его в плазму -  патент 2515131 (10.05.2014)
способ эмиссионного анализа элементного состава жидких сред -  патент 2487342 (10.07.2013)
способ интегрально-сцинтилляционного элементно-фазового исследования вещества с фракционным испарением его в плазму -  патент 2467311 (20.11.2012)
способ построения устойчивой градуировочной зависимости при определении количественного состава элементов в цинковых сплавах -  патент 2462701 (27.09.2012)
способ интегрально-сцинтилляционного атомного эмиссионного спектрального анализа вещества -  патент 2424504 (20.07.2011)
способ регистрации сцинтилляционного сигнала в спектральном анализе -  патент 2412431 (20.02.2011)
устройство для спектрального анализа состава вещества -  патент 2408872 (10.01.2011)
устройство для спектрального анализа состава вещества -  патент 2408871 (10.01.2011)