реактор для плазменного осаждения
Классы МПК: | H01L21/205 разложением газовой смеси с выходом твердого конденсата или химическим осаждением |
Автор(ы): | Клыков В.И., Ваверс В.Я., Гаврилкина Е.Ф., Стасюк И.О. |
Патентообладатель(и): | Клыков Виктор Иванович, Ваверс Вия Яновна, Гаврилкина Енафа Феоктистовна, Стасюк Игорь Олегович |
Приоритеты: |
подача заявки:
1992-06-24 публикация патента:
28.02.1994 |
Использование: изобретение относится к плазменной технике и может быть использовано для плазменного осаждения материалов в микроэлектронике. Сущность изобретения: редактор содержит корпус в виде трубы, на одном конце которого размещен патрубок для откачки реактора, а на другом - герметизирующая крышка. ВЧ-электроды размещены с внешней стороны корпуса, экранирующий элемент в виде диска из осаждаемого материала размещен внутри корпуса перед патрубком для откачки реактора. 1 ил. , 2 табл.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3
Формула изобретения
РЕАКТОР ДЛЯ ПЛАЗМЕННОГО ОСАЖДЕНИЯ, включающий корпус в виде трубы с патрубком для откачки реактора на одном конце и герметизирующей крышкой на другом, патрубки ввода рабочих газов, ВЧ-электроды, размещенные с внешней стороны корпуса, отличающийся тем, что он дополнительно содержит экранирующий элемент, выполненный в виде диска из осаждаемого материала и размещенный в корпусе перед патрубком для откачки реактора, при этом диаметр экранирующего элемента составляет 0,66 - 0,98 внутреннего диаметра корпуса.Описание изобретения к патенту
Изобретение относится к плазменной технике и может быть использовано при конструировании установок для плазменного осаждения материалов в микроэлектронике, в частности при формировании антиадгезионных покрытий на фотошаблонах. Известны реакторы объемного типа с корпусом в виде трубы, выполненным из диэлектрического материала. Они широко применяются в установках, используемых для плазменных обработок подложек, причем как для проведения процессов травления материалов или удаления фоторезиста, так и для осаждения слоев материалов (Плазменная технология в производстве СБИС. Под ред. Н. Айнсбрука и Д. Брауна. Пер. с анг. , М. : Мир. 1987, с. 170). Преимуществом этого типа реактора является простота их конструкции и высокая производительность реализуемых с их помощью плазменных обработок. Недостатком этих реакторов является неравномерность осаждаемых пленок. Известно устройство планарного реактора для процессов плазменного осаждения (заявка Японии N 60-123033, кл. Н 01 L 21/301, опубл. 1985), содержащее размещенные внутри заземленного корпуса плоскопараллельные ВЧ-электрод-подложкодержатель и заземленный электрод, выполненный в виде конуса из осаждаемого материала и размещенный над обрабатываемой подложкой. Преимущество данного реактора заключается в высокой равномерности осаждаемых пленок, но подобные системы отличаются низкой производительностью из-за малого количества одновременно обрабатываемых подложек. Наиболее близким техническим решением к заявляемому устройству является известное устройство реактора объемного типа для плазменных обработок (Новейшая полупроводниковая технология. Плазменные методы формирования конфигураций элементов полупроводниковых приборов и интегральных схем. М. , ОНТИ, 1979, с. 42-52), содержащее корпус в виде трубы из диэлектрического материала, на одном конце которого выполнен патрубок для откачки реактора, герметизирующую крышку на втором конце трубы. ВЧ-электроды, размещенные с внешней стороны корпуса, патрубки для ввода рабочих газов, размещенные внутри корпуса, и кассеты для обрабатываемых подложек. Это наиболее простой по конструкции и традиционный реактор, используемый в полупроводниковом производстве для плазменных обработок (главным образом для удаления фоторезиста с полупроводниковых подложек после проведения фотолитографических процессов). Он позволяет получить наиболее высокую производительность плазменных обработок. Однако он непригоден для реализации процессов плазменного осаждения материалов из-за высокой неравномерности формируемых пленок и существенной зависимости скорости осаждения от количества одновременно обрабатываемых подложек (так называемый загрузочный эффект), что приводит к низкой воспроизводимости плазменных обработок. Цель изобретения - повышение равномерности осаждаемых пленок и воспроизводимости процессов плазменного осаждения. Цель достигается тем, что реактор для плазменного осаждения, включающий корпус в виде трубы, на одном конце которой выполнен патрубок для откачки реактора, герметизирующую крышку на втором конце корпуса, патрубки для ввода рабочих газов, размещенные с внешней стороны корпуса ВЧ-электроды, дополнительно содержит экранирующий элемент, выполненный в виде диска из осаждаемого материала и размещенный внутри корпуса перед патрубком для откачки реактора, при этом диаметр экранирующего элемента составляет 0,66-0,98 внутреннего диаметра корпуса. Сущность изобретения поясняется чертежом. Реактор содержит корпус 1 в виде цилиндрической трубы. На одном конце корпуса выполнен патрубок 2 для откачки реактора. Герметизирующая крышка 3 размещена на другом конце трубы. ВЧ-электроды 4 размещены с внешней стороны корпуса, патрубки 5 для ввода газовых реагентов - внутри корпуса перед герметизирующей крышкой, кассета 6 для обрабатываемых подложек во время обработок расположена внутри трубы. Экранирующий элемент 7 в виде диска из осаждаемого материала размещен перед патрубком 2 для откачки реактора. Устройство работает следующим образом. В кассету 6 загружают обрабатываемые подложки (это могут быть кремниевые пластины или фотошаблоны), затем кассету 6 загружают в корпус 1 реактора, закрывают реактор герметизирующей крышкой 3. Через патрубок 2 для откачки реактора производят вакуумную откачку. Вводят газовые реагенты в реактор через патрубки 5, подают ВЧ-напряжение на ВЧ-электроды 4, и в реакторе зажигается плазма тлеющего разряда. В результате химических взаимодействий активных частиц плазмы в разряде, на стенках корпуса реактора 1, кассете 6, экранирующем элементе 7 и на поверхности обрабатываемых подложек происходит осаждение пленки. Наличие экранирующего элемента 7 перед патрубком 2 откачки резко повышает равномерность и воспроизводимость процесса осаждения. Очень важно, чтобы экранирующий элемент был выполнен из того же материала, что и формируемая пленка. В табл. 1 представлены сравнительные данные о зависимости результатов проведения процессов осаждения антиадгезионных пленок фторуглеродных соединений (толщиной
Класс H01L21/205 разложением газовой смеси с выходом твердого конденсата или химическим осаждением