способ щурова измерения магнитной эмиссии

Классы МПК:G01R33/02 измерение направления или напряженности магнитных полей или магнитных потоков
G01N27/80 определение механической твердости, например путем измерения напряженности насыщения или остаточной напряженности магнитного поля ферромагнитных материалов 
Автор(ы):
Патентообладатель(и):ФГУП Научно-производственное объединение измерительной техники (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2007-06-04
публикация патента:

Изобретение относится к магнитометрии, конкретно к неразрушающему магнитному контролю динамических параметров изделий из ферромагнитных материалов, используемых в различных отраслях техники и подвергающихся в процессе эксплуатации динамическим механическим воздействиям. Решаемой задачей является проведение бесконтактного неразрушающего магнитного контроля динамических параметров изделий и/или их конструктивных элементов из ферромагнитных, а также неферромагнитных материалов, путем нанесения на них пленки из ферромагнитных материалов, в широком диапазоне уровней, длительностей и частот внешних динамических механических воздействий. В контролируемом изделии и/или его контролируемых конструктивных элементах возбуждают упругие колебания, в направлениях, нормальных к поверхностям контролируемого изделия и/или его контролируемых конструктивных элементов, измеряют эмиссию напряженности переменных магнитных полей в виде сигналов-откликов, измерения проводят на расстояниях от поверхностей контролируемого изделия и/или его контролируемых конструктивных элементов, превышающих в диапазоне частот возбуждения максимальные амплитудные значения колебаний, пороговую чувствительность измерений определяют в соответствии с приведенными соотношениями. 1 з.п. ф-лы, 2 ил. способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287

способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287

Формула изобретения

1. Способ измерений магнитной эмиссии посредством воздействия механическим усилием на изделие из ферромагнитного материала и измерения изменений его магнитных свойств, отличающийся тем, что в контролируемом изделии и/или его контролируемых конструктивных элементах возбуждают упругие колебания в направлениях, нормальных к поверхностям контролируемого изделия и/или его контролируемых конструктивных элементов, измеряют эмиссию напряженности переменных магнитных полей в виде сигналов-откликов, измерения проводят на расстояниях от поверхностей контролируемого изделия и/или его контролируемых конструктивных элементов, превышающих в диапазоне частот возбуждения максимальные амплитудные значения колебаний, пороговую чувствительность измерений определяют в соответствии с соотношениями:

Нэм(F воз,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 о,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,yспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,l,s)=Нвоз(Fвоз ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,l,s)-Нпд(способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 о,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,yспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,l,s),

Нвоз(способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 воз,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,l,s)=l/MlFвоз(способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 воз,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ), М=способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 /Rспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 , Rспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 =l/способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 s,

где Нэм - напряженность переменного магнитного поля эмиссии,

Нвоз , Нпд - значения составляющих эмиссии за счет напряженности магнитных полей возбуждения и последействия соответственно,

Fвоз - возбуждающее усилие,

М - коэффициент электромеханической связи,

способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 - магнитострикционная постоянная,

способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 - абсолютная магнитная проницаемость материала контролируемого изделия и/или его контролируемых конструктивных элементов,

yспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 =dспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 y/dt - скорость деформации,

способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 , Rспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 , l, s, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 воз, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 , способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 о - значения величин демпфирования, магнитного сопротивления, линейного размера, поперечного сечения, длительностей и круговых частот возбуждения, а также собственных колебаний контролируемого изделия и/или его контролируемых конструктивных элементов соответственно.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что на динамически чувствительные контролируемое изделие и/или его контролируемые конструктивные элементы, выполненные из неферромагнитных материалов, предварительно наносят пленку из ферромагнитных материалов.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к магнитометрии, конкретно к неразрушающему магнитному контролю динамических параметров изделий из ферромагнитных материалов, используемых в различных отраслях техники и подвергающихся в процессе эксплуатации динамическим механическим воздействиям.

Известен способ электромеханического возбуждения напряженности магнитного поля магнитострикции в цепочке преобразования: входной электрический сигнал возбуждения - упругие колебания магнитопровода - выходной электрический сигнал (см. А.К.Лосев. Теория и расчет электромеханических фильтров. М.: Связь, 1965, с, 11, 12, 17, 21-24). В такой цепочке напряженность магнитного поля магнитострикции является связующим звеном в процессе преобразования электрической энергии возбуждения в механическую энергию упругих колебаний и обратно между напряженностями магнитных полей электрического сигнала тока возбуждения, подмагничивания и возникающими механическими натяжениями. Известный способ может быть использован для неразрушающего магнитного контроля, например на виброустойчивость характеристик электромеханических (магнитострикционных) преобразователей. Однако в связи с низким уровнем напряженности переменного магнитного поля сигналов магнитострикции по сравнению с сигналами возбуждения и их зависимостью от постоянного магнитного поля подмагничивания, известный способ не может быть использован для неразрушающего магнитного контроля других изделий.

Наиболее близким по технической сущности к заявляемому является способ измерения магнитной эмиссии посредством воздействия механическим усилием на изделие из ферромагнитного материала и измерения изменений его магнитных свойств (см. В.Б.Гинзбург. Магнитоупругие датчики. М.: Энергия, 1970, с.3, 20). Внешним усилием воздействуют на изделие через магнитоупругий датчик, который жестко крепят к поверхности изделия. Датчик состоит из магнитопровода и чувствительного элемента (ЧЭ) индуктивного типа. Воздействующее усилие вызывает деформацию и магнитную эмиссию ферромагнитного материала магнитопровода датчика. Напряженность собственного магнитного поля сигналов эмиссии (МЭС) в виде изменений магнитной проводимости ЧЭ датчика измеряют с помощью мостовой или компенсационной схем переменного тока. По величине и знаку измеряемых сигналов определяют величину и знак возникающей деформации и воздействующее усилие.

Недостатками известного способа являются: ограничение диапазона измерений статическими и знакопеременными низкочастотными деформациями, низкий уровень пороговой чувствительности, нелинейные искажения за счет потерь перемагничивания, влияние магнитных, тепловых и механических помеховых воздействий, вызванных наличием начальной намагниченности материала магнитопровода, магнитных и тепловых полей окружающей среды, а также контактным характером измерений и значительными габаритно-массовыми характеристиками датчика.

Задачей, на решение которой направлено предлагаемое техническое решение, является бесконтактный неразрушающий магнитный контроль динамических параметров изделий и/или их конструктивных элементов из ферромагнитных материалов в широком диапазоне уровней, длительностей и частот внешних динамических механических воздействий.

Ожидаемый технический результат заключается в обеспечении измерений напряженности переменных магнитных полей сигналов МЭС с заданной пороговой чувствительностью.

Поставленная задача решается за счет того, что в известном способе измерений магнитной эмиссии посредством воздействия механическим усилием на изделие из ферромагнитного материала и измерения изменений его магнитных свойств согласно изобретению в контролируемом изделии и/или его контролируемых конструктивных элементах возбуждают упругие колебания, в направлениях, нормальных к поверхностям контролируемого изделия и/или его контролируемых конструктивных элементов, измеряют эмиссию напряженности переменных магнитных полей в виде сигналов-откликов, измерения проводят на расстояниях от поверхностей контролируемого изделия и/или его контролируемых конструктивных элементов, превышающих в диапазоне частот возбуждения максимальные амплитудные значения колебаний, пороговую чувствительность измерений определяют в соответствии с соотношениями:

Нэм(F воз,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 о,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,y',способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,l,s)=Hвоз(Fвоз ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,l,s)-Hпд(способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 о,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,y',способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,l,s),

Hвоз(способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 воз,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ,l,s)=1/MlFвоз(способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 воз,способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 ), M=способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 /Rспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 , Rспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 =l/способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 s,

где Нэм - напряженность переменного магнитного поля эмиссии, Нвоз , Нпд - значения составляющих эмиссии за счет напряженности магнитных полей возбуждения и последействия соответственно, Fвоз - возбуждающее усилие, М - коэффициент электромеханической связи, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 - магнитострикционная постоянная, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 - абсолютная магнитная проницаемость материала контролируемого изделия и/или его контролируемых конструктивных элементов, успособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 =dспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 y/dt - скорость деформации, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 , Rспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 , l, s, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 воз, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 , способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 о - значения величин демпфирования, магнитного сопротивления, линейного размера, поперечного сечения, длительностей и круговых частот возбуждения, а также собственных колебаний контролируемого изделия и/или его контролируемых конструктивных элементов соответственно.

Кроме того, в случае динамически чувствительных контролируемого изделия и/или его контролируемых конструктивных элементов, выполненных из неферромагнитных материалов, на них предварительно наносят пленку из ферромагнитных материалов.

По отношению к известному способу новым является обеспечение бесконтактного неразрушающего магнитного контроля динамических параметров изделий и/или их контролируемых конструктивных элементов из ферромагнитных материалов посредством измерения напряженности переменных магнитных полей сигналов МЭС с заданной пороговой чувствительностью в широком диапазоне уровней, длительностей и частот внешних динамических механических воздействий.

На фиг.1 показана блок-схема устройства, реализующего способ измерений.

На фиг.2 представлены временные зависимости сигналов-откликов МЭС при способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 воз<способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 эм<t и различных соотношениях между длительностями сигналов возбуждения и собственных колебаний контролируемого изделия. Обозначения: а) способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 воз<2способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 /способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 о, б) способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 воз=2способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 /способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 о, в) способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 о<2способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 /способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 воз=способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 н<способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 в, где способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 воз, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 эм, t, - длительности сигналов возбуждения, эмиссии и продолжительности измерений соответственно, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 о - собственная круговая частота контролируемого изделия, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 н, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 в - нижняя и верхняя круговые частоты широкополосного нестационарного случайного воздействия соответственно.

Согласно блок-схеме фиг.1 устройство, реализующее способ измерений, состоит из последовательно соединенных источника 1 внешнего возбуждающего усилия, контролируемого изделия 2 и/или контролируемых конструктивных элементов 3 изделия 2, датчика 4, усилителя-преобразователя 5, регистратора 6.

Отметим, что для неразрушающего контроля измерительные каналы, включающие датчик 4, усилитель-преобразователь 5 и регистратор 6, могут быть использованы одновременно или поочередно. Кроме того, в зависимости от упругих свойств контролируемого изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3, направление распространения колебаний может отличаться от направления их возбуждения.

Будем предполагать, что в случае возбуждения упругих колебаний, направление распространения колебаний соответствует направлению возникающей деформации, измерения проводят в направлениях, нормальных к поверхностям контролируемого изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3, при отсутствии внешнего возбуждающего усилия контролируемое изделие 2 и/или его контролируемые конструктивные элементы 3 характеризуются нулевой результирующей намагниченностью.

В соответствии с величиной пороговой чувствительности для заданного уровня возбуждающего усилия в заданном диапазоне частот устанавливают расстояния измерений между датчиком 4 и поверхностями контролируемого изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3. С помощью источника 1 возбуждают упругие колебания изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3. Датчиком 4 измеряют сигналы-отклики МЭС. Выходное напряжение датчика 4 подают на вход усилителя-преобразователя 5. Напряжение выходных сигналов усилителя-преобразователя 5 измеряют регистратором 6.

В контролируемом изделии 2 и/или его контролируемых конструктивных элементах 3, под воздействием внешнего усилия и возбуждения упругих колебаний возникают внутренние напряжения и натяжения. Происходит перестройка доменной структуры используемых ферромагнитных материалов, которая сопровождается возникновением результирующей намагниченности и эмиссии напряженности собственного переменного магнитного поля в виде сигналов-откликов МЭС. Домены, направления векторов намагниченности которых совпадают с направлениями распространения упругих колебаний и ближайшего легкого намагничивания, начинают расти, увеличивая общую намагниченность и эмиссию сигналов МЭС. Однако при заданной величине воздействующего усилия в заданном диапазоне частот уровни общей намагниченности и эмиссии сигналов МЭС остаются неизменными, как за счет существования различных механизмов потерь при намагничивании, так и обменных сил между соседними атомами "правильно ориентированных" доменов. Дальнейшее увеличение общей намагниченности зависит от уровней возбуждения и отклика на него контролируемого изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3, находящихся в напряженно-деформированном состоянии, а также наличия начальной намагниченности в направлении распространения упругих колебаний. После прекращения внешнего воздействия и по истечении некоторого времени последействия, определяемого потерями механического и магнитного характера, динамическая составляющая результирующей намагниченности (исключая постоянную составляющую за счет начальной намагниченности) исчезает и переменные сигналы МЭС затухают.

Оценим значения напряженности магнитных полей сигналов МЭС исходя из следующих функциональных зависимостей:

способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287

способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287

где Н, В, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 , способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 - напряженность магнитного поля эмиссии, индукция и возникающие напряжения и натяжения в материале контролируемого изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3 соответственно.

Предположим, что, при различных граничных условиях распространения упругих колебаний между источником 1 и контролируемым изделием 2 и/или его контролируемыми конструктивными элементами 3, уровень воздействующего усилия и возникающие напряжения и натяжения в заданном диапазоне частот характеризуются малыми амплитудными значениями, линейный размер контролируемого изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3 значительно меньше длины волны упругих колебаний. Предположим также, что передаточная функция между источником 1 и контролируемым изделием 2 и/или его контролируемыми конструктивными элементами 3 отлична от единицы только на частоте способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 =способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 о. При этих условиях зависимости (1) могут быть разложены в ряды по степеням малого параметра способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 , характеризующего магнитострикционные свойства материала контролируемого изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3:

способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287

способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287

Используя соотношения (1) и (2), результирующую величину напряженности магнитного поля сигналов МЭС можно представить в следующем виде:

способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287

где Нэм - напряженность переменного магнитного поля эмиссии, Нвоз , Нпд - значения составляющих эмиссии за счет напряженности магнитных полей возбуждения и последействия соответственно, Fвоз - возбуждающее усилие, М - коэффициент электромеханической связи, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 - магнитострикционная постоянная, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 - абсолютная магнитная проницаемость материала контролируемого изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3, yспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 =dспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 y/dt - скорость деформации, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 , Rспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 , l, s, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 воз, способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 , способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 о - значения величин демпфирования, магнитного сопротивления, линейного размера, поперечного сечения, длительностей и круговых частот возбуждения, а также собственных колебаний контролируемого изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3 соответственно.

В общем случае возбуждения неоднородных деформаций оценки пороговой чувствительности, выполненные с помощью соотношений (3), дают значения, совпадающие с экспериментальными, при линейном размере ЧЭ датчика 4, значительно меньшим целого числа полуволн колебаний контролируемого изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3.

Из соотношений (3) видно, что уровни и частотный спектр сигналов МЭС определяются механическими и магнитными параметрами материала контролируемого изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3, потерями энергии упругих колебаний в зависимости от условий их распространения, а также уровнем, длительностью и частотным диапазоном внешнего воздействия. Вклад составляющей напряженности магнитного поля последействия H пд в зависимости от условий распространения и потерь энергии упругих колебаний определяется скоростью деформации, а также резонансными свойствами контролируемого изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3. В диапазоне частот возбуждения способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 0<способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 н и способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 0>способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 в величина вклада составляющей H пд пренебрежимо мала по сравнению с составляющей H воз и с небольшим превышением расчетного значения можно считать Hэмспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 Hвоз, что и определяет нижнее значение пороговой чувствительности. С увеличением частоты возбуждения соотношение (3) меняет знак и при способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 /способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 0способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 1 стремится к максимальному значению Hэм способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 Hпдспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 Hс, что и определяет верхнее значение пороговой чувствительности, где Hс - величина коэрцитивной силы материала контролируемого изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3.

Из анализа соотношений (3) следует, что заявленное техническое решение в отличие от известного, позволяет бесконтактным способом измерять напряженность переменного магнитного поля сигналов МЭС, по измеряемым сигналам определять динамические параметры контролируемого изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3: частоты вынужденных и собственных колебаний, напряжения и натяжения, передаточные функции, формы колебаний, а также смещение, скорость, ускорение и внешнее воздействующее усилие, определять пороговую чувствительность измерений сигналов МЭС. В соответствии с величиной пороговой чувствительности выбирать расстояние и характеристики устройства, реализующего способ измерений, проводить неразрушающий магнитный контроль контролируемого изделия 2 и/или его конструктивных элементов 3 из ферромагнитных материалов в широком диапазоне уровней, длительностей и частот внешних динамических механических воздействий.

Для бесконтактного неразрушающего магнитного контроля динамически чувствительных изделия 2 и/или его конструктивных элементов 3, выполненных из неферромагнитных материалов, на них предварительно наносят пленку из ферромагнитных материалов.

Технический результат достигается за счет возбуждения упругих колебаний заданным уровнем воздействующего усилия в заданном диапазоне частот и проведения измерений с пороговой чувствительностью, определяемой на основе механизма эмиссии сигналов МЭС напряженно-деформированным состоянием контролируемого изделия 2 и/или его контролируемых конструктивных элементов 3, выполненных из ферромагнитных, а также из неферромагнитных материалов, путем нанесения на них пленки из ферромагнитных материалов.

Устройство, реализующее способ измерений, может быть выполнено из стандартных узлов и блоков. В качестве источника 1 возбуждающего усилия может быть использован возбудитель упругих колебаний любого типа, например, механический вибростенд ВУ68 (см. "Приборы и системы для измерения вибрации, шума и удара". Справочник т.2. М.: Машиностроение, 1978, с.264). В качестве датчика 4 напряженности переменных магнитных полей может быть использован датчик индукционного типа, в качестве усилителя-преобразователя 5 и регистратора 6 - измерительный канал на основе цифрового преобразования и регистрации, описанный в книге: Н.И.Яковлев. Бесконтактные электроизмерительные приборы для диагностирования электронной аппаратуры, Л.: Энергоатомиздат, 1990, с.131-133, 166-167.

Полученные результаты подтверждаются расчетами и экспериментальными исследованиями. Для контролируемого изделия 2 массой 1 кг и параметрами способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 о=942 Гц, М=20 Тл·м, R способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 =5,6·1061/Ом·м при воздействии усилием с уровнем перегрузки 15 g и длительностью импульса способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 возспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 1 mc расчетная пороговая чувствительность составляет величину Hэмспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 1 А/м, что совпадает со значением, измеренным на расстоянии 10 мм от поверхности в точке возбуждения на частоте способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 н=2,2·104 Гц.

Осциллограммы сигналов-откликов МЭС представлены на фиг.2. На фиг.2а показана выделенная аппаратно одна из реализаций сигнала-отклика МЭС, которая иллюстрирует затухание сигнала в течение времени эмиссии способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 эм. Из фиг.2а видно, что при длительностях (частотах) внешнего механического воздействия способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 воз˜2способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 /способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 <2способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 /способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 о основной вклад в пороговую чувствительность измерений происходит за время t˜способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 воз. При способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 возспособ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 2способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 /способ щурова измерения магнитной эмиссии, патент № 2346287 0 сигналу-отклику МЭС соответствует осциллограмма, представленная на фиг.2б.

Использование вместо импульсного знакопеременного (вибрационного) возбуждения при тех же уровне, длительности (диапазоне частот) и параметрах контролируемого изделия 2 в пределах погрешностей измерений ±15% дает совпадающие результаты. На фиг.2в показана осциллограмма сигнала-отклика МЭС на выходе амплитудного детектора регистратора 6 при воздействии на изделие 2 нестационарным случайным процессом.

На основании вышеизложенного, заявленное техническое решение по сравнению с известным позволяет:

- измерять бесконтактным способом с заданной пороговой чувствительностью в широком диапазоне уровней, длительностей и частот внешних динамических механических воздействий напряженность собственного переменного магнитного поля в виде сигналов МЭС, как при наличии, так и отсутствии остаточной намагниченности используемых ферромагнитных материалов;

- выбирать в соответствии с заданной величиной пороговой чувствительности при заданном уровне воздействующего усилия в заданном диапазоне частот расстояние и параметры устройства, реализующего способ измерений;

- проводить неразрушающий магнитный контроль изделий и их конструктивных элементов, выполненных из ферромагнитных и неферромагнитных материалов путем нанесения на них пленки из ферромагнитных материалов;

- определять по измеряемым сигналам МЭС динамические параметры контролируемых изделий и/или их контролируемых конструктивных элементов: частоты вынужденных и собственных колебаний, передаточные функции, формы колебаний, напряжения и натяжения, а также смещения, скорости, ускорения и внешнее воздействующее усилие;

- обеспечить простоту и дешевизну неразрушающего магнитного контроля динамических механических параметров изделий, используемых в различных отраслях техники.

Класс G01R33/02 измерение направления или напряженности магнитных полей или магнитных потоков

магнитный элемент и способ контроля параметров магнитного вихря в ферромагнитных дисках -  патент 2528124 (10.09.2014)
дифференциальный датчик постоянного магнитного поля -  патент 2526293 (20.08.2014)
магнитометр -  патент 2523099 (20.07.2014)
способ измерения постоянного магнитного поля -  патент 2522128 (10.07.2014)
способ локализации источника магнитного поля дипольной модели -  патент 2521134 (27.06.2014)
чувствительный к давлению зонд с высокой чувствительностью -  патент 2517599 (27.05.2014)
способ ориентации, навигации и информации в пространстве людей с нарушением зрительных функций и система его осуществления -  патент 2503436 (10.01.2014)
способ поверки магнитоизмерительных приборов -  патент 2503026 (27.12.2013)
цифровой феррозондовый магнитометр -  патент 2503025 (27.12.2013)
датчиковое устройство измерения магнитного поля -  патент 2497140 (27.10.2013)

Класс G01N27/80 определение механической твердости, например путем измерения напряженности насыщения или остаточной напряженности магнитного поля ферромагнитных материалов 

магнитоупругий датчик для определения механических напряжений в ферромагнитных материалах -  патент 2492459 (10.09.2013)
способ оценки запаса прочности изделий в процессе эксплуатации -  патент 2455634 (10.07.2012)
способ контроля механических свойств стальных металлоконструкций и упругих напряжений в них и устройство для его осуществления -  патент 2424509 (20.07.2011)
способ электромагнитного контроля качества термической обработки ферромагнитных изделий и устройство для его осуществления -  патент 2411516 (10.02.2011)
способ импульсного магнитного контроля температуры отпуска изделий из среднеуглеродистых сталей -  патент 2376592 (20.12.2009)
передвижное магнитное устройство -  патент 2350976 (27.03.2009)
способ контроля качества поверхностно-упрочненного слоя изделий из ферромагнитных материалов -  патент 2330275 (27.07.2008)
образец для калибровки и настройки устройств магнитного контроля и способ его термообработки -  патент 2328730 (10.07.2008)
способ неразрушающего контроля качества термообработки сварных соединений -  патент 2296319 (27.03.2007)
способ неразрушающего контроля упругих напряжений в ферритовых изделиях -  патент 2184371 (27.06.2002)
Наверх