устройство для регистрации коэффициента неидеальности экспоненциальных вольт-амперных характеристик полупроводниковых изделий

Классы МПК:G01R31/26 испытание отдельных полупроводниковых приборов
Автор(ы):, , , ,
Патентообладатель(и):Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2006-10-03
публикация патента:

Предложенное устройство содержит генератор линейно изменяющегося напряжения, выход которого соединен с входной клеммой для подключения исследуемого полупроводникового изделия, логарифмичесий усилитель, аналогово-цифровой преобразователь, цифроаналоговый преобразователь, электронно-вычислительную машину, монитор, схему управления усилителем и схему управления и запуска генератора линейно изменяющегося напряжения. Выходная клемма исследуемого полупроводникового изделия соединена с первым входом логарифмического усилителя, выход которого соединен с входом аналогово-цифрового преобразователя, а выход аналогово-цифрового преобразователя с электронно-вычислительной машиной. Электронно-вычислительная машина соединена с входом цифроаналогового преобразователя, выход которого соединен с входом схемы управления усилителем и одновременно с входом схемы управления и запуска генератора линейно изменяющегося напряжения, выход которой соединен с входом генератора линейно изменяющегося напряжения, а выход схемы управления усилителем со вторым входом логарифмического усилителя. Изобретение обеспечивает расширение функциональных возможностей и автоматизацию процесса измерения и может быть использовано для регистрации коэффициента неидеальности полупроводниковых изделий с привлечением электронно-вычислительной машины. 1 ил. устройство для регистрации коэффициента неидеальности экспоненциальных   вольт-амперных характеристик полупроводниковых изделий, патент № 2332678

устройство для регистрации коэффициента неидеальности экспоненциальных   вольт-амперных характеристик полупроводниковых изделий, патент № 2332678

Формула изобретения

Устройство для регистрации коэффициента неидеальности экспоненциальных вольт-амперных характеристик полупроводниковых изделий, содержащее генератор линейно изменяющегося напряжения, выход которого соединен с входной клеммой для подключения исследуемого полупроводникового изделия, логарифмичесий усилитель, аналогово-цифровой преобразователь, цифроаналоговый преобразователь, электронно-вычислительную машину и монитор, отличающееся тем, что дополнительно введены схема управления усилителем и схема управления и запуска генератора линейно изменяющегося напряжения, причем выходная клемма исследуемого полупроводникового изделия соединена с первым входом логарифмического усилителя, выход которого соединен с входом аналогово-цифрового преобразователя, а выход аналогово-цифрового преобразователя с электронно-вычислительной машиной, при этом электронно-вычислительная машина соединена с входом цифроаналогового преобразователя, выход которого соединен с входом схемы управления усилителем и одновременно с входом схемы управления и запуска генератора линейно изменяющегося напряжения, выход которой соединен с входом генератора линейно изменяющегося напряжения, а выход схемы управления усилителем со вторым входом логарифмического усилителя.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля экспоненциальных вольт-амперных характеристик (ВАХ), и может быть использовано для регистрации коэффициента неидеальности полупроводниковых изделий (ППИ), т.е. m-фактора.

Известно устройство для регистрации m-фактора [1]. Его недостатком является невозможность непрерывной регистрации зависимости коэффициента неидеальности от протекающего через испытуемый диод тока или же от приложенного к нему напряжения, поскольку коэффициент неидеальности измеряется по точкам.

Известно также устройство для определения m-фактора [2]. Недостатком его является малый диапазон токов, в пределах которого можно регистрировать коэффициент неидеальности ВАХ. Данное устройство не позволяет регистрировать m-фактор передаточных ВАХ четырехполюсников, например коэффициент неидеальности зависимости тока коллектора биполярного транзистора от напряжения база-эмиттер.

Ближайшим аналогом является устройство [3]. Оно состоит из генератора линейно изменяющегося напряжения (ГЛИН), выход которого соединен с входной клеммой для подключения испытуемого прибора, дифференциатора, преобразователя логарифма тока, делителя, опорного напряжения и регистратора.

Недостатком предложенного устройства является малая автоматизация процесса измерения.

Цель изобретения - расширение функциональных возможностей и автоматизация процесса измерения m-фактора с привлечением электронно-вычислительной машины (ЭВМ).

На чертеже представлена блок-схема предлагаемого устройства, которая содержит генератор линейно изменяющегося напряжения (ГЛИН) 1, схему управления и запуска ГЛИН 2, исследуемое ППИ 3, логарифмический усилитель 4, схему управления усилителем 5, аналогово-цифровой преобразователь (АЦП) 6, цифроаналоговый преобразователь (ЦАП) 7, электронно-вычислительную машину (ЭВМ) 8 и монитор 9.

Устройство работает следующим образом: перед началом регистрации коэффициента неидеальности ВАХ ГЛИН 1 находится в положении "Стоп", т.е. скорость нарастания его выходного напряжения равна нулю. Начальное напряжение ГЛИН устанавливается таким, чтобы через второй вывод исследуемого ППИ протекал ток I0, начиная с которого будет регистрироваться коэффициент неидеальности. Это напряжение обозначим как U 1 0.

Затем ГЛИН после команды с ЭВМ 8 через ЦАП 7 и схему управления и запуска ГЛИН 2 переводится в положение "Пуск" и его выходное напряжение U 1 будет нарастать по линейному закону

устройство для регистрации коэффициента неидеальности экспоненциальных   вольт-амперных характеристик полупроводниковых изделий, патент № 2332678

где K1 - скорость нарастания выходного напряжения.

Ток, текущий через второй вывод исследуемого ППИ 3, связан с напряжением U1, приложенным к первому выводу этого изделия, экспоненциальной зависимостью

устройство для регистрации коэффициента неидеальности экспоненциальных   вольт-амперных характеристик полупроводниковых изделий, патент № 2332678

где IS - ток насыщения,

m - коэффициент неидеальности,

устройство для регистрации коэффициента неидеальности экспоненциальных   вольт-амперных характеристик полупроводниковых изделий, патент № 2332678 Т - температурный потенциал.

Передаточная характеристика логарифмического усилителя 4 описывается выражением:

устройство для регистрации коэффициента неидеальности экспоненциальных   вольт-амперных характеристик полупроводниковых изделий, патент № 2332678

где коэффициенты K2 и K 3 описывают передаточную характеристику логарифмического усилителя.

При этом K2 и K 3 меняют с помощью схемы управления усилителем через ЦАП 7 с ЭВМ 8.

Из выражений (2) и (3) получаем, что напряжение на выходе логарифмического усилителя 4 равно

устройство для регистрации коэффициента неидеальности экспоненциальных   вольт-амперных характеристик полупроводниковых изделий, патент № 2332678

Это напряжение поступает на вход ЦАП 7, а с выхода ЦАП в цифровом виде в ЭВМ 8, где в соответствии с написанной программой численно дифференцируется по t и становится равным:

устройство для регистрации коэффициента неидеальности экспоненциальных   вольт-амперных характеристик полупроводниковых изделий, патент № 2332678

Получается, что коэффициент неидеальности обратно пропорционален напряжению U3. График зависимости коэффициента неидеальности от напряжения U1 выводится на экран монитора 9. При этом напряжение U 1 получается программно, исходя из того, что напряжение на выходе ГЛИН управляется схемой управления и запуска ГЛИН, а схема управления и запуска ГЛИН управляется числовой последовательностью с ЦАП, который управляется в соответствии с программой ЭВМ.

Регистрация этой зависимости прекращается переводом ГЛИН в положение "Стоп" после команды с ЭВМ.

Диапазон токов, в пределах которого можно регистрировать коэффициент неидеальности ВАХ предлагаемым устройством, ограничен диапазоном преобразуемых токов логарифмическим усилителем который зависит и задается схемой управления усилителем.

Источники информации

1. Авт. св. № 1081572, кл. G01R 31/26.

2. Авт. св. № 1105835, кл. G01R 31/26.

3. Патент № 2020502, кл. G01R 31/26.

Класс G01R31/26 испытание отдельных полупроводниковых приборов

способ разделения интегральных схем "по надежности" -  патент 2529675 (27.09.2014)
способ измерения шума узлов мфпу -  патент 2521150 (27.06.2014)
способ определения теплового сопротивления переход-корпус транзисторов с полевым управлением -  патент 2516609 (20.05.2014)
способ разделения полупроводниковых изделий по надежности -  патент 2515372 (10.05.2014)
способ отбраковки полупроводниковых изделий пониженного уровня качества из партий изделий повышенной надежности -  патент 2511633 (10.04.2014)
способ сравнительной оценки надежности партий полупроводниковых изделий -  патент 2511617 (10.04.2014)
устройство для измерения полного сопротивления и шумовых параметров двухполюсника на свч -  патент 2510035 (20.03.2014)
способ измерения теплового импеданса полупроводниковых диодов с использованием полигармонической модуляции греющей мощности -  патент 2507526 (20.02.2014)
способ разделения транзисторов по надежности -  патент 2507525 (20.02.2014)
способ контроля внутреннего квантового выхода полупроводниковых светодиодных гетероструктур на основе gan -  патент 2503024 (27.12.2013)
Наверх