способ анализа микропримесей веществ в газах

Классы МПК:G01N27/62 путем исследования ионизации газов; путем исследования характеристик электрических разрядов, например эмиссии катода
Автор(ы):,
Патентообладатель(и):Грознов Иван Николаевич (RU),
Мишенин Юрий Александрович (RU),
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский физико-технический институт (государственный университет)" (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2006-10-10
публикация патента:

Изобретение относится к области электротехники, в частности к способу газового анализа для обнаружения микропримесей веществ в газах, в частности в хроматографии или при анализе атмосферного воздуха при создании детекторов микропримесей. Техническим результатом изобретения является повышение чувствительности анализа за счет увеличения числа параметров управления разделяющим полем. Способ анализа заключается в ионизации микропримесей веществ в потоке анализируемого газа, разделении ионов в импульсном периодическом электрическом поле, отборе ионов и их регистрации, при этом в качестве управляющих параметров разделяющего поля помимо пикового напряжения в импульсе Uмах и периода следования импульсов Т используются длительность импульса способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 и скважность способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 /Т. За счет чего повышаются возможности управления положением дрейфспектра и составляющих его отдельных пиков на оси смещающего поля, что соответственно повышает чувствительность и селективность анализа микропримесей в газах. 2 ил.

способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729

Формула изобретения

Способ анализа микропримесей веществ в газах, включающий ионизацию исследуемого газа, разделение образовавшихся ионов в периодическом электрическом поле, отборе и регистрации ионов, отличающийся тем, что разделяющее ассиметричное по полярности электрическое поле создается не наложением синусоидальных колебаний, формирующих периодическую функцию заданной формы, а серией периодически следующих высоковольтных импульсов, при этом в качестве управляющих параметров помимо пикового напряжения Umax и частоты следования импульсов 1/Т, где Т - период прикладываемого импульсного поля, используются длительность импульса способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 и скважность способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 /Т.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к газовому анализу и может использоваться для обнаружения микропримесей веществ в газах, в частности в хроматографии или при анализе атмосферного воздуха.

Известен способ анализа микропримесей веществ в газах, заключающийся в ионизации исследуемого газа, разделении образовавшихся ионов в переменном периодическом несимметричном по полярности электрическом поле, отборе и регистрации ионов (Буряков И.А., Крылов Е.В., Солдатов В.П. А.С. № 1485808, МКИ G01N 27/62, БИ 1989, № 16).

Недостатком данного способа является слабая возможность управления процессом разделения ионов, поскольку на практике при фиксированной частоте способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 генератора ассиметричных колебаний единственным параметром управления остается амплитуда колебаний Umax .

Технической задачей настоящего изобретения является повышение чувствительности анализа и разрешающей способности способа путем увеличения числа параметров управления разделяющим полем.

Решение указанной задачи в способе анализа микропримесей веществ в газах, включающем ионизацию исследуемого газа, разделение образовавшихся ионов в ассиметричном по полярности электрическом поле, отборе и регистрации ионов, достигается тем, что в камере разделения создают импульсное периодическое ассиметричное поле высокого напряжения. При этом используют высоковольтные импульсы напряжением Umax и длительностью способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 , следующие друг за другом через время Т-способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 , где Т - эффективный период прикладываемого импульсного поля. Генератор импульсов построен так, что автоматически усредняет к нулю интеграл функции электрического поля за время Т. Такая схема создания ассиметричного поля позволяет в качестве управляющих параметров помимо Umax и Т использовать длительность импульса способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 и скважность способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 /Т. При этом длительность импульса способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 ограничивается максимальным напряжением и зазором между электродами разделяющей камеры, а ширина дрейфспектра на оси компенсирующего поля и положения отдельных пиков зависят от величины Umax нелинейно и линейно: от длительности импульса способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 , от скважности способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 /Т при заданной частоте генератора импульсов и от частоты генератора при заданной скважности.

Таким образом, величина компенсирующего поля в дрейфспектрометрии нелинейной подвижности в указанном способе зависит не только от частоты следования импульсов (аналог - частота колебаний способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 ) и пикового напряжения Umax (аналог - амплитуда колебаний Umax периодического ассиметричного поля), но и от длительности импульса способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 и скважности следования импульсов способ анализа микропримесей веществ в газах, патент № 2328729 /Т.

На фиг.1 представлены управляющие параметры при обычном высоковольтном периодическом асимметричном поле. На фиг.2 представлены управляющие параметры при высоковольтном импульсном поле.

Класс G01N27/62 путем исследования ионизации газов; путем исследования характеристик электрических разрядов, например эмиссии катода

сенсорное устройство -  патент 2525172 (10.08.2014)
детектор микропримесей и способ детектирования микропримесей -  патент 2491529 (27.08.2013)
способ эмиссионного анализа элементного состава жидких сред -  патент 2487342 (10.07.2013)
способ проведения градуировки масс-спектрометра для количественного анализа газовых смесей -  патент 2478201 (27.03.2013)
способ разделения и регистрации ионов в газе (варианты) -  патент 2476870 (27.02.2013)
способ определения концентрации ванадия в атмосферном воздухе методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (варианты) -  патент 2466096 (10.11.2012)
способ обнаружения взрывчатых веществ -  патент 2460067 (27.08.2012)
фотоионизационный детектор -  патент 2455633 (10.07.2012)
способ разделения и регистрации ионов в газе -  патент 2451930 (27.05.2012)
система для дистанционного отбора и анализа воздушных проб -  патент 2447429 (10.04.2012)
Наверх