способ градуировки измерительных преобразователей с интегрированным чувствительным элементом

Классы МПК:G01D3/02 с приспособлениями для изменения или корректировки передающей функции 
G01R35/00 Испытания и калибровка приборов, относящихся к другим группам данного подкласса
Автор(ы):,
Патентообладатель(и):ООО "НПП "ГРАНТ"
Приоритеты:
подача заявки:
2002-08-16
публикация патента:

Изобретение относится к измерительной технике. Способ включает выделение в преобразователе основных и дополнительных измерительных каналов, соответствующих измеряемым и влияющим входным величинам, измерение значений выходных величин при различных комбинациях входных величин, формирование по результатам эксперимента математической модели преобразователя и определение значений входных величин. Отличие от известных технических решений заключается в том, что параметры математической модели преобразователя, выраженные в виде коэффициентов аппроксимирующих полиномов измерительных каналов, получают по значениям входных и выходных величин основных каналов и значениям выходных величин дополнительных каналов. Значения измеряемых величин определяют по параметрам математической модели и значениям всех выходных величин преобразователя. Параметры математической модели могут определяться по критерию наименьших квадратов. Изобретение обеспечивает упрощение процесса градуировки измерительных преобразователей путем исключения процедуры стабилизации и измерения значений влияющих факторов для определения значений входных информативных величин. 1 з.п. ф-лы, 1 табл., 1 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6, Рисунок 7, Рисунок 8, Рисунок 9, Рисунок 10, Рисунок 11, Рисунок 12, Рисунок 13, Рисунок 14, Рисунок 15

Формула изобретения

1. Способ градуировки измерительных преобразователей с интегрированным чувствительным элементом, включающий выделение в преобразователе основных и дополнительных измерительных каналов, соответствующих измеряемым и влияющим входным величинам, измерение значений выходных величин измерительного преобразователя при различных комбинациях его входных величин, формирование по результатам эксперимента математической модели измерительного преобразователя и определение значений входных величин, отличающийся тем, что параметры математической модели измерительного преобразователя, выраженные в виде коэффициентов аппроксимирующих полиномов измерительных каналов, получают по значениям входных и выходных величин основных каналов и значениям выходных величин дополнительных каналов, а значения измеряемых величин определяют по параметрам математической модели и значениям всех выходных величин измерительного преобразователя.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что параметры математической модели измерительного преобразователя определяют по критерию наименьших квадратов.

Описание изобретения к патенту

Текст описания в факсимильном виде (см. графическую часть)

Класс G01D3/02 с приспособлениями для изменения или корректировки передающей функции 

способ и устройство для реализации основанных на пороговой величине функций корректировки для биосенсоров -  патент 2372588 (10.11.2009)
способ настройки измерительного преобразователя -  патент 2343420 (10.01.2009)
изменяемый полевой прибор для автоматизации процессов -  патент 2327113 (20.06.2008)
способ измерения физической величины и устройство для его осуществления -  патент 2238523 (20.10.2004)
измерительная система -  патент 2208766 (20.07.2003)
способ коррекции статических характеристик измерительных преобразователей -  патент 2199089 (20.02.2003)
способ коррекции статических характеристик измерительных преобразователей -  патент 2199088 (20.02.2003)
преобразователь с электрической цепью для замедления разряда накопленной энергии (варианты) -  патент 2147765 (20.04.2000)
датчик с улучшенной компенсацией -  патент 2138781 (27.09.1999)
датчик с многофункциональной регулировкой -  патент 2125711 (27.01.1999)

Класс G01R35/00 Испытания и калибровка приборов, относящихся к другим группам данного подкласса

способ определения ориентации подключения электронного калибратора к векторному анализатору цепей -  патент 2513647 (20.04.2014)
устройство для калибровки оптической аппаратуры, измеряющей средний диаметр дисперсных частиц -  патент 2507502 (20.02.2014)
способ коррекции характеристик измерительных преобразователей -  патент 2503968 (10.01.2014)
устройство для автоматической поверки стрелочных измерительных приборов -  патент 2503967 (10.01.2014)
способ калибровки оптической измерительной аппаратуры при оценке среднего диаметра дисперсных частиц -  патент 2500998 (10.12.2013)
измеритель фазовых погрешностей масштабного преобразователя -  патент 2490660 (20.08.2013)
способ определения параметров характеристики преобразования трехкомпонентного магнитометра -  патент 2481593 (10.05.2013)
способ калибровки измерительных систем -  патент 2476896 (27.02.2013)
схема контроля чувствительности трехфазных электронных приборов учета электроэнергии -  патент 2474834 (10.02.2013)
устройство для проверки чувствительности трехфазных цифровых приборов учета электроэнергии -  патент 2474833 (10.02.2013)
Наверх