способ измерения и измеритель линейных перемещений

Классы МПК:G01B11/00 Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Алтайский государственный технический университет им. И.И. Ползунова
Приоритеты:
подача заявки:
2001-07-30
публикация патента:

Использование: измерительная техника, а именно измерение линейных перемещений. Сущность изобретения: предварительно перемещают измерительный растр с постоянной скоростью, преобразуют перемещение в оптические сигналы, измеряют амплитуды этих сигналов и получают эталонные зависимости амплитуд сигналов от величины линейного перемещения растра, сохраняют эталонные зависимости в перепрограммируемом постоянном запоминающем устройстве, после чего осуществляют преобразование перемещения измерительного растра в оптические сигналы, измеряют амплитуды этих сигналов и производят их аналогово-цифровое преобразование, по результатам которого посредством блока вычислений находят величину линейного перемещения с использованием вышеописанных эталонных зависимостей. Способ осуществляется с помощью заявленного устройства. Технический результат: повышение точности измерения, снижение трудоемкости изготовления измерителя линейных перемещений, реализующего способ. 2 с.п. ф-лы, 4 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6, Рисунок 7, Рисунок 8, Рисунок 9, Рисунок 10, Рисунок 11, Рисунок 12, Рисунок 13, Рисунок 14, Рисунок 15, Рисунок 16, Рисунок 17

Формула изобретения

1. Способ измерения линейных перемещений путем преобразования перемещения измерительного растра в сигналы с фотоприемника, измерения амплитуды этих сигналов и их аналого-цифрового преобразования, по результатам которого посредством блока вычислении судят о величине линейного перемещения, отличающийся тем, что используется дополнительный фотоприемник, при этом перед преобразованием перемещения измерительного растра в сигналы с фотоприемников дополнительно перемещают измерительный растр с постоянной скоростью и получают эталонные зависимости амплитуд сигналов с фотоприемников от величины линейного перемещения растра в пределах периода растра для всех периодов измерительного растра, устанавливая блок вычислений в режим калибровки, сохраняют эти зависимости в постоянном перепрограммируемом запоминающем устройстве, а величину линейного перемещения S определяют по формуле

S=(N-1)*L+ХN,

где N - номер текущего периода измерительного растра;

L - период измерительного растра;

ХN - величина линейного смещения измерительного растра относительно начала текущего периода N измерительного растра.

2. Измеритель линейных перемещений, содержащий источник света, измерительный растр и фотоприемник, последовательно оптически связанные между собой, аналого-цифровой преобразователь, выход которого связан с входом блока вычислений, блок индикации перемещения, вход которого соединен с выходом блока вычислений, отличающийся тем, что в него введены дополнительны фотоприемник, оптически связанный с измерительным растром, двухканальный аналоговый мультиплексор, входы которого подсоединены к выходам фотоприемников, а выход связан со входом аналого-цифрового преобразователя, перепрограммируемое постоянное запоминающее устройство для хранения калибровочных эталонных зависимостей амплитуд сигналов фотоприемников от величины перемещения растра, которое связано с блоком вычислений.

Описание изобретения к патенту

Текст описания в факсимильном виде (см. графическую часть) Тс

Класс G01B11/00 Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения

способ определения остаточной сферичности отражающей поверхности -  патент 2528272 (10.09.2014)
устройство для изучения геометрических несовершенств резервуаров муаровым методом с двумя опорами -  патент 2528122 (10.09.2014)
устройство для диагностики состояния внутренней поверхности труб -  патент 2528033 (10.09.2014)
способ измерения толщин нанометровых слоев многослойного покрытия, проводимого в процессе его напыления -  патент 2527670 (10.09.2014)
способ анализа фазовой информации, носитель информации и устройство формирования рентгеновских изображений -  патент 2526892 (27.08.2014)
способ геодезических измерений инженерных объектов и устройство для его осуществления -  патент 2523751 (20.07.2014)
способ измерения двугранных углов зеркально-призменных элементов и устройство для его осуществления -  патент 2523736 (20.07.2014)
способ и устройство для измерения геометрии профиля сферически изогнутых, в частности, цилиндрических тел -  патент 2523092 (20.07.2014)
способ фотограмметрического измерения размеров и контроля формы тела, ограниченного набором связанных между собой поверхностей -  патент 2522809 (20.07.2014)
способ пассивной локализации ребер прямоугольного металлического параллелепипеда в инфракрасном излучении -  патент 2522775 (20.07.2014)
Наверх