способ измерения амплитуд вибраций
Классы МПК: | G01H9/00 Измерение механических колебаний или ультразвуковых, звуковых или инфразвуковых колебаний с использованием средств, чувствительных к излучению, например оптических средств |
Автор(ы): | Атавин В.Г., Мохнатов А.А., Худяков Ю.В. |
Патентообладатель(и): | Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно- исследовательский институт технической физики, Министерство Российской Федерации по атомной энергии |
Приоритеты: |
подача заявки:
1998-07-31 публикация патента:
27.11.2003 |
Изобретение относится к измерительной технике, может быть использовано для измерения амплитуд вибраций в машиностроении, авиастроении и других областях. Сущность: формируют опорный и измерительный пучки когерентного излучения, получают поле интерференции, смещают частоту излучения одного из пучков относительно другого на величину, меньшую /2, где - частота вибрации контролируемого объекта, получают сигнал, пропорциональный яркости поля интерференции, и по его характеру судят об амплитуде вибрации. Способ отличается тем, что для оценки характера сигнала определяют его размах, исключают из сигнала низкочастотную составляющую и определяют размах оставшейся высокочастотной составляющей на интервале времени, входящем в интервал между ближайшими друг к другу минимальным и максимальным значениями высокочастотной составляющей, а амплитуду вибрации определяют по формуле. . Технический результат: повышение точности измерений. 9 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6, Рисунок 7, Рисунок 8, Рисунок 9, Рисунок 10, Рисунок 11, Рисунок 12, Рисунок 13, Рисунок 14, Рисунок 15, Рисунок 16, Рисунок 17, Рисунок 18, Рисунок 19, Рисунок 20, Рисунок 21
Формула изобретения
Способ измерения амплитуд вибраций, заключающийся в том, что формируют опорный и измерительный пучки когерентного излучения, получают поле интерференции, смещают частоту излучения одного из пучков относительно другого на величину, меньшую /2, где - частота вибрации контролируемого объекта, получают сигнал, пропорциональный яркости поля интерференции, и по его характеру судят об амплитуде вибрации, отличающийся тем, что для оценки характера сигнала определяют его размах, исключают из сигнала низкочастотную составляющую и определяют размах оставшейся высокочастотной составляющей на интервале времени, входящем в интервал между ближайшими друг к другу минимальным и максимальным значениями высокочастотной составляющей, а амплитуду вибрации определяют по формуле где - длина волны когерентного излучения;А - амплитуда вибрации;I0 - размах сигнала, пропорционального яркости поля интерференции;I1 - размах высокочастотной составляющей сигнала на интервале времени, входящем в интервал между ее ближайшими друг к другу минимальным и максимальным значениями.Описание изобретения к патенту
ТаблицымКласс G01H9/00 Измерение механических колебаний или ультразвуковых, звуковых или инфразвуковых колебаний с использованием средств, чувствительных к излучению, например оптических средств