способ обработки материалов микролептонным излучением и устройство для его реализации
Классы МПК: | H05H1/00 Получение плазмы; управление плазмой B01J19/08 способы с использованием непосредственного применения электрической или волновой энергии или облучения частицами; устройства для этого H01J37/30 электронно-лучевые или ионно-лучевые приборы для местной обработки объектов H01S4/00 Устройства, использующие стимулированное излучение волновой энергии в любых формах, кроме форм, отнесенных к группам, 1/00, 3/00 или 5/00, например фононовые мазеры, гамма-мазеры |
Автор(ы): | Шевалдин С.В.(RU), Охатрин А.Ф.(RU), Машошин Ю.Ф.(RU), Зубов Д.Л.(RU), Эглофф Эдвард (CH) |
Патентообладатель(и): | Шевалдин Сергей Валерьевич (RU), Машошин Юрий Федорович (RU) |
Приоритеты: |
подача заявки:
1997-09-19 публикация патента:
20.09.1999 |
Использование: в области технологии и техники обработки материалов микролептонным излучением. Технический результат - в изменении физико-химических свойств и технологических характеристик обрабатываемых материалов. Сущность изобретения: ВЧ-генератором подают сигналы с частотой до 1,0 МГц и длиной в зависимости от обрабатываемого материала в накопитель и при достижении требуемой плотности сигналов преобразуют их в поток электронов, который подают в концентратор и далее преобразуют в микролептонное излучение, направляемое на обрабатываемый материал. Для осуществления способа используется устройство, которое снабжено ВЧ-генератором, накопителем, концентратором и электродом, при этом накопитель выполнен в виде контурной емкости с витками и связан с ВЧ-генератором и концентратором, выполненным в виде конической электромагнитной катушки. С помощью электрода микролептонное излучение направляется на обрабатываемый материал. 2 c.п.ф-лы, 1 ил.
Рисунок 1
Формула изобретения
1. Способ обработки материалов микролептонным излучением, включающий подачу ВЧ-генератором сигналов с частотой до 1,0 МГц и длиной в зависимости от обрабатываемого материала в накопитель и при достижении требуемой плотности сигналов преобразование в поток электронов, который подают в концентратор и далее преобразуют в микролептонное излучение, направляемое на обрабатываемый материал. 2. Устройство для обработки материалов микролептонным излучением, снабженное ВЧ-генератором, накопителем, концентратором и электродом, при этом накопитель выполнен в виде контурной емкости с витками и связан с ВЧ-генератором и концентратором, выполненным в виде конической электромагнитной катушки, и направляющее с помощью электрода микролептонное излучение на обрабатываемый материал.Описание изобретения к патенту
Изобретение относится к области технологии и техники обработки материалов микролептонным излучением. Из патентной литературы известен способ плазменной обработки поверхности, включающий зажигание дуги, расположенной под углом к обрабатываемой поверхности и изменение формы дуги путем наложения на нее переменного магнитного поля, силовые линии которого перпендикулярны направлению тока дуги и наложены в прикатодной области разряда, формируемое в виде однополярных треугольных импульсов. /См. Авторское свидетельство СССР N 1549464, H 05 H 1/00, 1988/. Известна конструкции ВЧ плазменного генератора, включающего электромагнитную катушку, индуктор или электроды, подключенные к источнику ВЧ-энергии. Различают ВЧ-плазменные генераторы, индукционные, емкостные, факельные, а также СВЧ плазменные генераторы. / См. Плазменные генераторы, физический энциклопедический словарь, Москва, "Советская энциклопедия", 1984, с. 543, рис. 1,2/. Достигаемый изобретениями технический результат заключается в повышении и изменении физико-химических свойств и технологических характеристик, обрабатываемых микролептонным излучением материалов. Изобретение поясняется чертежом, где представлена принципиальная схема устройства. Сущность изобретения. Способ обработки материалов микролептонным излучением, включающий подачу ВЧ-генератором сигналов с частотой до 1,0 МГц и длиной в зависимости от обрабатываемого материала в накопитель и при достижении требуемой плотности сигналов преобразование в поток электронов, который подают в концентратор и далее преобразуют в микролептонное излучение, направляемое на обрабатываемый материал. Устройство для обработки материалов микролептонным излучением снабжено ВЧ-генератором, накопителем, концентратором и электродом, при этом накопитель выполнен в виде контурной емкости с витками и связан с ВЧ-генератором и концентратором, выполненным в виде конической электромагнитной катушки, и направляет с помощью электрода микролептонное излучение на обрабатываемый материал. Существует большой класс микрочастиц, масса которых в миллионы и миллиарды раз меньше электрона, которые в физике называют микролептонами. Микролептоны несут полную информацию о любом объекте, который их излучает. Все физические, химические и другие процессы, протекающие в живой и неживой природе, сопровождаются излучением и увеличением микролептонов. Концентрация дополнительной /свободной/ энергии приводит к изменению физико-химических характеристик практически всех веществ и материалов. С ВЧ-генератора сигналы определенной частоты до 1,0 МГц подаются в накопитель и при достижении требуемой плотности преобразуются в поток электронов, который подают в пирамидальный концентратор и далее в микроплептонное излучение, направляемое на обрабатываемый материал. Микролептонное излучение непосредственно контактирует с материалом, уплотняя микролептонное поле обрабатываемого материала. В устройстве преобразуется и концентрируется энергия посредством организации направленного движения уплотненного потока электронов. С ВЧ-генератора 1 сигналы определенной частоты и длины подаются в накопитель 2, выполненный в виде контурной емкости с малым количеством витков, и при достижении необходимой величины поток электронов подается в пирамидальный концентратор 3, выполненный в виде конической электромагнитной катушки и направляется в электрод 4, образуя на свободном его конце микролептонный сход - излучение. Микролептонное излучение непосредственно контактирует с материалом 5 /например с керамическим изделием/ и уплотняет микролептонное поле данного изделия. Изобретение позволяет повысить основные эксплуатационные показатели и физико-химические характеристики веществ и материалов, используемых в различных областях деятельности человека.Класс H05H1/00 Получение плазмы; управление плазмой
Класс B01J19/08 способы с использованием непосредственного применения электрической или волновой энергии или облучения частицами; устройства для этого
Класс H01J37/30 электронно-лучевые или ионно-лучевые приборы для местной обработки объектов
Класс H01S4/00 Устройства, использующие стимулированное излучение волновой энергии в любых формах, кроме форм, отнесенных к группам, 1/00, 3/00 или 5/00, например фононовые мазеры, гамма-мазеры