способ измерения шероховатости поверхности

Классы МПК:G01B7/34 для измерения шероховатости или неровностей поверхностей 
Автор(ы):, , , ,
Патентообладатель(и):Уфимский государственный авиационный технический университет
Приоритеты:
подача заявки:
1997-09-29
публикация патента:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки. Способ заключается в том, что между поверхностью детали, являющейся анодом, и катодом прикладывают высокое напряжение. Измеряют ширину частотного спектра переменной составляющей тока разрядов по уровню 0,2 ... 0,5 рабочего напряжения. Шероховатость поверхности определяют по формуле Ra= kспособ измерения шероховатости поверхности, патент № 2133943f+Ro, где Ra - шероховатость поверхности, k - коэффициент пропорциональности, f - измеренная ширина спектра, Ro - эмпирический параметр. Величины k и Ro вычисляют по тарировочной кривой зависимости шероховатости от ширины спектра. Способ позволяет определять шероховатость поверхности детали непосредственно в процессе ее обработки. 1 ил., 1 табл.
Рисунок 1, Рисунок 2

Формула изобретения

Способ измерения шероховатости поверхности электропроводящих деталей в процессе электролитно-плазменной обработки, заключающийся в том, что прикладывают высоковольтное напряжение между обрабатываемой деталью, являющейся анодом, и катодом, отличающийся тем, что измеряют ширину нормированного частотного спектра переменной составляющей тока разрядов по уровню среза, выбираемого из диапазона 0,2 ... 0,5 в зависимости от рабочего напряжения и определяют шероховатость по формуле

Ra = k способ измерения шероховатости поверхности, патент № 2133943 f + Ro,

где Rа - шероховатость поверхности, мкм;

k - коэффициент пропорциональности, зависящий от материала детали, природы и концентрации электролита;

f - измеренная ширина спектра при определенном уровне среза, Гц;

Rо - эмпирический параметр,

при этом значения k и Rо вычисляют по тарировочной кривой зависимости шероховатости от ширина спектра.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности нержавеющих сталей в процессе электролитно-плазменной обработке.

Известен способ измерения шероховатости электропроводящей поверхности, заключающийся в том, что на ней размещают слой диэлектрика, преимущественно дистиллированную воду, налагают электрод емкостного датчика, который доводят до электрического контакта с контролируемой поверхностью, замораживают воду и измеряют величину электроемкости между электродом и контролируемой поверхностью [1].

Известен способ измерения шероховатости поверхности электропроводящих изделий, заключающийся в том, что контролируемое изделие и измерительный электрод помещают в диэлектрическую жидкость, прикладывают высоковольтное напряжение и измеряют ток между ними, по величине которого определяют степень шероховатости [2].

Недостатком аналогов является невозможность использования данных способов для определения шероховатости поверхности в ходе электролитно-плазменной обработки в связи с необходимостью прерывания процесса.

Наиболее близким по технической сущности является способ измерения шероховатости поверхности электропроводящих изделий, заключающийся в том, что прикладывают высоковольтное напряжение постоянного тока между поверхностью изделия и измерительным электродом и измеряют ток разряда между ними, по величине которого определяют шероховатость. До приложения высоковольтного напряжения кратковременно подают низковольтный потенциал на поверхность изделия и воздействуют на нее аэрозолью, содержащей масло [3]. Благодаря локализации наэлектризованных капель масла около микровыступов увеличивается напряженность электрического поля в воздушном зазоре на этих участках, вследствие чего увеличивается плотность инициирующих электронов с концов микровыступов, что приводит к увеличению тока в разрядной цепи, а следовательно, и к повышению разрешающей способности и точности данного способа измерения шероховатости.

Недостатком прототипа является использование аэрозоли, содержащей масло, что недопустимо при проведении электролитно-плазменной обработки деталей.

Задачей, решаемой заявляемым изобретением, является упрощение процесса измерения шероховатости путем использования переменной составляющей тока, позволяющей определять шероховатость поверхности в ходе процесса обработки.

Поставленная задача решается таким образом, что в способе измерения шероховатости поверхности электропроводящих деталей в процессе электролитно-плазменной обработки прикладывают высоковольтное напряжение между обрабатываемой деталью, являющейся анодом, и катодом и измеряют ширину нормированного частотного спектра переменной составляющей тока разрядов по уровню среза, выбираемого из диапазона 0,2...0,5 в зависимости от рабочего напряжения. Определение шероховатости производят по формуле

Rа=kспособ измерения шероховатости поверхности, патент № 2133943f+Rо,

где Rа - шероховатость поверхности, мкм;

k - коэффициент пропорциональности, зависящий от материала детали, природы и концентрации электролита;

f - измеренная ширина спектра при определенном уровне среза, Гц;

Rо - эмпирический параметр.

Значения k и Rо вычисляют по тарировочной кривой зависимости шероховатости от ширины спектра.

На чертеже представлены частотные спектры переменной составляющей тока в различные моменты времени обработки: 1 - 0-20 с, 2 - 160-180 с, 3 - 340-360 с.

Пример конкретной реализации способа

Образцы из стали ЭИ-961Ш с начальной шероховатостью 1,8 мкм помещались в ванну для электролитно-плазменной обработки. Процесс проводился в 5% растворе (NH4)2SO4 при напряжении 270 В и начальной температуре электролита 90oC. Переменная составляющая тока снималась с измерительного резистора. Частотные спектры, полученные в разные промежутки времени, представлены на чертеже.

В соответствии с формулой (1) была рассчитана шероховатость поверхности в различные моменты времени обработки. Шероховатость поверхности образцов измерялась также профилометром. Полученные данные приведены в таблице 1. Корреляция данных свидетельствует о применимости метода.

Коэффициенты k=2,4способ измерения шероховатости поверхности, патент № 213394310-3

Rо=-1,05

Таким образом, заявляемое изобретение позволяет осуществить измерение шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной обработки электропроводящих материалов. Предлагаемый способ имеет простое техническое исполнение, не требует прерывания процесса обработки и имеет высокую точность.

Источники информации

1. А.с. СССР N 1130735, МКИ3 G 01 B 7/34. Способ контроля шероховатости электропроводящей поверхности. Публ. 23.12.84.

2. А. с. СССР N 1474452, МКИ4 G 01 B 7/34. Способ контроля поверхности электропроводящих изделий и устройство для его осуществления. Публ. 23.04.89.

3. А.с. СССР N 1120159, МКИ3 G 01 B 7/34. Способ измерения шероховатости поверхности электропроводящих изделий. Публ. 23.10.84.

Класс G01B7/34 для измерения шероховатости или неровностей поверхностей 

устройство автоматического контроля прямолинейности сварных стыков рельсов и способ его использования -  патент 2520884 (27.06.2014)
способ определения кинетики износа поверхностей деталей машин -  патент 2494342 (27.09.2013)
способ обнаружения дефектов поверхности катания колес железнодорожных транспортных средств в движении -  патент 2480711 (27.04.2013)
способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной обработки -  патент 2475700 (20.02.2013)
профилометр для контроля микрогеометрии коллекторов электрических машин -  патент 2422767 (27.06.2011)
сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством измерения массы и диссипативных свойств -  патент 2407021 (20.12.2010)
сканирующий зондовый микроскоп с контролируемой средой измерения -  патент 2401983 (20.10.2010)
устройство для измерения шероховатости наружной сферической поверхности детали (варианты) -  патент 2392583 (20.06.2010)
способ контроля плоскостности поверхностей трубопроводной арматуры и устройство для его осуществления -  патент 2386104 (10.04.2010)
нутромер -  патент 2381440 (10.02.2010)
Наверх