пассивная геополигонная ик-мира

Классы МПК:G01M11/00 Испытание оптической аппаратуры; испытание конструкций или устройств оптическими способами, не отнесенными к другим классам или подклассам
Автор(ы):,
Патентообладатель(и):Гришин Лев Анатольевич
Приоритеты:
подача заявки:
1995-10-16
публикация патента:

ИК-мира используется для определения разрешающей способности бортовой самолетной аппаратуры. Мира содержит измеритель радиационных температур и размещенные на подстилающей поверхности Земли отражатели ИК-излучения. Отражатели образуют фигуру минимум из трех параллельных полос и двух чередующихся с ними полос фона с отличной радиационной температурой. Отражатели выполнены со световозвратной отражающей поверхностью в виде нанесенных на поверхность отражателей углублений в форме уголковых отражателей, примыкающих друг к другу краями углублений. ИК-мира обеспечивает помехозащищенность от боковых засветок и уменьшение необходимого регулирования радиационной температуры полос ИК-миры. 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

Пассивная геополигонная ИК-мира, содержащая измеритель радиационных температур и размещенные на подстилающей поверхности Земли отражатели ИК-излучения, образующие фигуру минимум из трех параллельных полос, содержащих отражатели, и двух чередующихся с ними полос фона с отличной радиационной температурой, причем отражатели ИК-излучения выполнены со световозвратной отражающей поверхностью в виде нанесенных на поверхность отражателей углублений в форме уголковых отражателей, примыкающих друг к другу краями углублений.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к метрологическим средствам определения на геополигоне разрешающей способности бортовой самолетной ИК-аппаратуры наблюдения линейного сканирования и может быть использовано в оптико-механической промышленности.

Задачей изобретения является создание пассивной геополигонной миры, предназначенной для контроля разрешающей способности бортовых самолетных ИК-приборов.

Задача решается за счет того, что в пассивной геополигонной мире, содержащей измеритель радиационных температур и размещенные на подстилающей поверхности Земли отражатели ИК-излучения, образующие фигуру из минимум трех параллельных полос, содержащих отражатели, и двух чередующихся с ними полос фона с отличной радиационной температурой, отражатели ИК-излучения выполнены со световозвратной отражающей поверхностью в виде нанесенных на поверхность отражателей углублений в форме уголковых отражателей, примыкающих друг к другу краями углублений.

На чертеже приведено схематическое изображение ИК-миры, где: 1 - световозвратные углубления на поверхности отражателей; 2 - полосы с поверхностью фона; 3 - полосы с отражателями со световозвратной поверхностью; 4 - источник помехового излучения; 5 - лучистый поток ИК- излучений верхних слоев атмосферы Земли; 6 - телесный угол поля зрения термоизмерителя; 7 - измеритель радиационных температур; 8 - направление отраженных лучей помеховых засветок; 9 - направление отраженных лучей отражателями лучистого потока ИК-излучений верхних слоев атмосферы Земли.

На чертеже показано, как помеховый лучистый поток 4 от бокового помехового источника излучений и стабильный полезный лучистый поток 5, падающие на катафотную поверхность 3, отражаются соответственно в направлениях 8 и 9 координат источников излучений 4 и 5, при этом отраженный помеховый лучистый поток 8 не попадает в поле зрения 6 измерителя радиационных температур 7.

Использование свойств катафотной поверхности отражателей пассивной геополигонной регулируемой ИК-миры позволило существенно ослабить составляющие отражения лучистых потоков от боковых фоновых засветок поверхности полос ИК-миры.

Пассивная геополигонная ИК-мира содержит в своем составе: измеритель радиационных температур 7, цилиндрические отражатели 3, выполненные из алюминиевых трубок диаметром 16 мм, длиной 2000, 2500 и 3000 мм в группах с шириной полос соответственно 400, 500 и 600 мм, причем световозвратная (катафотная) поверхность в форме трипль призм накатана на поверхность алюминиевых трубок, а отражатели лучистого потока ИК-излучений верхних слоев атмосферы Земли размещены на подстилающей поверхности Земли таким образом, что в каждой группе полос образована фигура из трех параллельных полос поверхности фона с отражателями 3 и чередующихся между ними двух полос поверхности фона с отличной радиационной температурой.

Лучистый поток от источников излучений 4 и 5 попадает на поверхности полос пассивной геополигонной ИК-миры. Отраженный световозвратной поверхностью 3 луч 9 от излучения верхних слоев атмосферы Земли 5 попадает в телесный угол поля зрения 6 измерителя радиационных температур 7, а луч 8 от помеховых источников боковых засветок 4 оказывается за пределами телесного угла 6.

В промышленности разработаны различные методы нанесения на поверхность различной формы путем накатки, насечки, штамповки углублений поверхности в форме трипль призм (уголковых отражателей), примыкающих краями друг к другу.

Изобретение позволяет в геополигонных условиях при облетах проверочной ИК-миры самолетом наблюдения с ИК-аппаратурой линейного сканирования обеспечить достаточную помехозащищенность пассивной ИК- миры от боковых засветок поверхности отражателей, а также уменьшить диапазон необходимого регулирования радиационной температуры чередующихся полос ИК-миры.

Класс G01M11/00 Испытание оптической аппаратуры; испытание конструкций или устройств оптическими способами, не отнесенными к другим классам или подклассам

установка для измерения углового поля зрения и контроля величины шага линий миры тест-объекта -  патент 2521152 (27.06.2014)
интерферометр для контроля телескопических систем и объективов -  патент 2518844 (10.06.2014)
волоконно-оптическая система и способ измерения множественных параметров турбомашинной системы -  патент 2513646 (20.04.2014)
способ оценивания очковой линзы, способ проектирования очковой линзы и способ изготовления очковой линзы -  патент 2511711 (10.04.2014)
способ оценивания очковых линз, способ проектирования очковых линз, способ изготовления очковых линз, система изготовления очковых линз и очковая линза -  патент 2511706 (10.04.2014)
устройство контроля, юстировки и сведения оптических осей каналов многоканальных приборов и широкополосный излучатель в видимой и ик-областях спектра -  патент 2511204 (10.04.2014)
способ оценки состояния контролируемого объекта -  патент 2508528 (27.02.2014)
способ контроля параметров оптико-электронных систем в рабочем диапазоне температур -  патент 2507495 (20.02.2014)
мира для настройки и определения параметров оптико-электронных систем с матричными фотоприемными устройствами и способ ее использования -  патент 2507494 (20.02.2014)
способ определения места повреждения оптического волокна -  патент 2503939 (10.01.2014)
Наверх