аналитическая система масс-спектрометра с ловушкой ионов

Классы МПК:H01J49/42 спектрометры с постоянной траекторией, например однополюсные, четырехполюсные, многополюсные, индикаторы парциального давления
Автор(ы):,
Патентообладатель(и):Товарищество с ограниченной ответственностью НПФ "Масс- прибор" (научно-производственная и внедренческая фирма "Масс-спектрометрические приборы для экологии")
Приоритеты:
подача заявки:
1992-12-30
публикация патента:

Назначение: масс-спектрометрия. Сущность изобретения: аналитическая система масс-спектрометра с ловушкой ионов содержит источник заряженных частиц, расположенный напротив первый торцевой гиперболоидный электрод с осевым входным отверстием, первый комплект изоляторов, кольцевой гиперболоидный электрод, второй комплектизоляторов и второй торцевой гиперболоидный электрод с симметричными относительно оси отверстиями для вывода ионов и приемник ионов. Толщина изоляторов второго комплекта больше первого, равного классической толщине, на величину радиуса входного отверстия. Разрешающая способность или чувствительность для двух соседних пиков улучшается вдвое. 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

Аналитическая система масс-спектрометра с ловушкой ионов, содержащая источник заряженных частиц, расположенный напротив первый торцевой гиперболоидный электрод с осевым входным отверстием, первый комплект изоляторов, кольцевой гиперболоидный электрод, второй комплект изоляторов и второй торцевой гиперболоидный электрод с симметричным относительно оси отверстием для вывода ионов и приемник ионов, отличающаяся тем, что толщина изоляторов второго комплекта больше первого, равного классической толщине, на величину радиуса входного отверстия.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области масс-спектрометрии, в частности к аналитическим системам трехмерных гиперболоидных ловушек, применяемых в составе масс-спектрометров для широкого круга задач по анализу органических и неорганических соединений.

Аналитические системы с трехмерными гиперболоидными ловушками имеют в большинстве случаев электроды в виде гиперболоидов вращения, на которые подается или частотно-модулированное [1] или амплитудно-модулированное напряжение [2] Между торцевыми электродами по отношению к центральному электроду устанавливается равное расстояние, а соотношение расстояний по двум осям определяется известным соотношением аналитическая система масс-спектрометра с ловушкой ионов, патент № 2075793, где x- диаметр кольцевого электрода, а y расстояние между торцевыми электродами.

Недостатком известных устройств является ограничение по разрешающей способности.

Известна конструкция аналитической системы масс-спектрометра с ловушкой ионов [3] содержащая источник заряженных частиц, расположенный напротив первой торцевой гиперболоидный электрод с осевым входным отверстием, далее кольцевой электрод и второй торцевой электрод с отверстиями для вывода ионов, причем расстояние между электродами торцевыми относительно кольцевого, равны.

Недостатком известной конструкции является ограничение по разрешающей способности и, как результат, по чувствительности для двух соседних пиков масс.

Предлагаемая авторами совокупность существенных признаков позволяет исключить недостатки прототипа и обеспечивает технический результат, заключающийся в увеличении разрешения и чувствительности для двух соседних пиков масс.

Указанный технический результат достигается следующим образом. Аналитическая система масс-спектрометра с ловушкой ионов содержит источник заряженных частицу, расположенный напротив первый торцевой гиперболоидный электрод с осевым входным отверстием, первый комплект изоляторов, кольцевой гиперболоидный электрод, второй комплект изоляторов и второй торцевой гиперболоидный электрод с симметричными относительно оси отверстия для вывода ионов и приемник ионов. Толщина изоляторов второго комплекта больше первого, равного классической толщине, на величину радиуса входного отверстия.

Сравнение заявляемого решения не только с прототипом, но и с другими техническими решениями в данной области техники не позволило выявить в них признаки, отличающий заявляемое решение от прототипа, что позволяет сделать вывод о соответствии критерию существенные отличия.

Таким образом, заявляемое устройство является новым, так как оно не известно из уровня развития техники. Заявляемое устройство имеет изобретательский уровень, так как для специалистов явным образом не следует из уровня техники и применимо в промышленности, здравоохранении, экологии и др. областях; то есть заявленное техническое решение соответствует критериям изобретения.

Перечень обозначений на фиг.1:

I массовые пики, полученные при классическом расстоянии аналитическая система масс-спектрометра с ловушкой ионов, патент № 2075793,

2 массовые пики по предлагаемому устройству, когда расстояние между вторым торцевым электродом и кольцевым больше классического на величину радиуса входного отверстия,

3 массовые пики при обратном случае, когда расстояние между кольцевым электродом и вторым торцевым электродом больше на такую величину.

Сущность данного изобретения заключается в том, что наличие выходного отверстия для ввода заряженных частиц искажает распределение поля внутри ловушки. Увеличение расстояния между электродом вывода заряженных частиц и кольцевого электрода на величину радиуса входного отверстия (эта величина была найдена экспериментально) компенсирует искажение поля и оптимизирует условия накопления и разделения ионов при амплитудной развертке.

Изобретение было реализовано в масс-спектрометрах с ионной ловушкой типов МХЛ-1000 и МХЛ-1200. При диаметре входного отверстия в 1,5 мм было найдено, что оптимальными условиями по разрешающей способности и чувствительности получены точно при увеличении названного выше расстояния на величину радиуса, т.е. 0,75 мм. При этом чувствительность для двух соседних пиков увеличена вдвое без изменения фона.

Если же зафиксировать амплитуду массовых пиков, то реализация устройства вдвое улучшает разрешающую способность.

Класс H01J49/42 спектрометры с постоянной траекторией, например однополюсные, четырехполюсные, многополюсные, индикаторы парциального давления

ионно-оптическое устройство с многократным отражением -  патент 2481668 (10.05.2013)
система электродов линейной ионной ловушки -  патент 2466475 (10.11.2012)
анализатор квадрупольного масс-спектрометра пролетного типа с трехмерной фокусировкой -  патент 2458428 (10.08.2012)
анализатор пролетного квадрупольного масс-спектрометра (типа фильтр масс, "монополь" и "триполь") -  патент 2447539 (10.04.2012)
способ анализа ионов по удельным зарядам в квадрупольных масс-спектрометрах пролетного типа (монополь, триполь и фильтр масс) -  патент 2399985 (20.09.2010)
способ изготовления монопольного масс-анализатора -  патент 2393580 (27.06.2010)
масс-анализатор с ионной ловушкой -  патент 2372687 (10.11.2009)
линейная ионная ловушка и способ управления движением иона с использованием асимметричного удерживающего поля -  патент 2372686 (10.11.2009)
ионная ловушка, мультипольная электродная система и электрод для масс-спектрометрического анализа -  патент 2368980 (27.09.2009)
способ анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ионная ловушка" -  патент 2308117 (10.10.2007)
Наверх