способ контроля электронных устройств

Классы МПК:G01R17/00 Измерительные приборы, в которых осуществляется сравнение с эталонной величиной, например мостового типа
G01R31/28 испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигнала
Патентообладатель(и):Мегрецкий Вольдемар Александрович
Приоритеты:
подача заявки:
1994-06-17
публикация патента:

Способ контроля электронных устройств, заключающийся в том, что между определенными точками контролируемого устройства оказывают электрические воздействия, изменяющиеся по определенному закону, измеряют реакцию устройства на эти воздействия, по реакции устройства определяют информативные параметры, сравнивают эти параметры с параметрами исправного устройства и по результатам сравнения делают заключение об исправности контролируемого устройства или диагностируют брак, отличающийся тем, что последовательно электрические воздействия между каждым из выбранных выводов элементов и шинами питания контролируемого устройства, при этом в качестве информативных параметров для каждого выбранного вывода элемента относительно каждой шины питания используют суммарную проводимость всех резисторов, усредненные параметры р - n-переходов разных типов, усредненные значения проводимостей последовательных с каждым типом р - n-переходов, амплитуду и длительность переходного процесса.

Описание изобретения к патенту

Класс G01R17/00 Измерительные приборы, в которых осуществляется сравнение с эталонной величиной, например мостового типа

способ измерения вектора гармонического сигнала -  патент 2528274 (10.09.2014)
мостовой измеритель параметров двухполюсников -  патент 2527658 (10.09.2014)
мостовой измеритель параметров двухполюсников -  патент 2525717 (20.08.2014)
мостовой измеритель параметров двухполюсников -  патент 2523772 (20.07.2014)
мостовой измеритель параметров n-элементных двухполюсников -  патент 2523763 (20.07.2014)
система регистрации сигналов электромагнитных устройств -  патент 2515962 (20.05.2014)
мостовой измеритель параметров двухполюсников -  патент 2511673 (10.04.2014)
измеритель параметров двухполюсников -  патент 2509312 (10.03.2014)
мостовой измеритель параметров пассивных многоэлементных rlc двухполюсников -  патент 2509311 (10.03.2014)
мостовой измеритель параметров n-элементных двухполюсников -  патент 2509310 (10.03.2014)

Класс G01R31/28 испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигнала

способ испытания на коррозионную стойкость интегральных схем -  патент 2527669 (10.09.2014)
способ и устройство для измерения переходных тепловых характеристик светоизлучающих диодов -  патент 2523731 (20.07.2014)
способ определения теплового импеданса сверхбольших интегральных схем - микропроцессоров и микроконтроллеров -  патент 2521789 (10.07.2014)
способ контроля работоспособности многоточечной измерительной системы с входной коммутацией датчиков -  патент 2515738 (20.05.2014)
способ определения теплового импеданса цифровых кмоп интегральных микросхем -  патент 2504793 (20.01.2014)
способ испытаний полупроводниковых бис технологии кмоп/кнд на стойкость к эффектам единичных сбоев от воздействия тяжелых заряженных частиц космического пространства -  патент 2495446 (10.10.2013)
способ регулирования сопротивления твердотельных приборов и резистивная матрица памяти на основе полярнозависимого электромассопереноса в кремнии -  патент 2471264 (27.12.2012)
способ определения теплового импеданса кмоп цифровых интегральных микросхем -  патент 2463618 (10.10.2012)
устройство для измерения технических параметров аварийных радиомаяков/радиобуев -  патент 2453860 (20.06.2012)
способ разбраковки кмоп микросхем, изготовленных на кнд структурах, по радиационной стойкости -  патент 2444742 (10.03.2012)
Наверх