полупроводниковый тензорезистор

Классы МПК:H01C10/10 регулируемые путем приложения механического давления или усилия
G01B7/16 для измерения деформации твердых тел, например проволочными тензометрами
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Киевский технологический институт легкой промышленности (UA)
Приоритеты:
подача заявки:
1990-10-15
публикация патента:

Использование: измерительная техника, в частности измерение величин деформаций в машиностроении, строительстве, авиации, атомной энергетике. Сущность изобретения: полупроводниковый тензорезистор содержит подложку из полуизолирующего арсенида галлия в виде прямоугольной пластины и тензочувствительную пленку германия толщиной 5полупроводниковый тензорезистор, патент № 204367110-6 м. Подложка имеет ширину, превышающую ее толщину не более чем в два раза, что позволяет повысить точность измерения упругой деформации.

Формула изобретения

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ТЕНЗОРЕЗИСТОР, содержащий прямоугольную пластину из изолирующего материала, размещенную на ней тензочувствительную полупроводниковую пленку и контактные площадки с токовыводами, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, размеры пластины выбраны из соотношения

1 < a/b полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671 2,

где a ширина пластины, м;

b толщина пластины, м.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к измерительной технике и может эффективно использоваться в преобразователях механических величин.

Известен полупроводниковый тензорезистор типа гедистор ГДГ, выполненный в виде прямоугольной пластины, с электрическими выводами, укрепленными на концах пластины и с резистивным покрытием в средней части, не подлежащей креплению [1]

Однако этот тензорезистор не обладает требуемой точностью измерения из-за возникновения напряжений в области контактных площадок при изменении температуры, влияния поперечных деформаций на электрическое сопротивление в указанной области, а также из-за возникновения напряжений в слое резинового покрытия при низких температурах.

Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к предложенному тензорезистору является полу- проводниковый тензорезистор, содержащий подложку из полуизолирующего арсенида галлия и тензочувствительный слой из монокристаллической пленки германия [2]

Однако и этот тензорезистор не обладает высокой точностью измерений, так как обладает значительной поперечной тензочувствительностью.

Целью изобретения является повышение точности измерений путем исключения поперечной тензочувствительности.

Указанная цель достигается тем, что в полупроводниковом тензорезисторе, выполненном в виде тензочувствительной пленки, снабженной контактными площадками с токовыводами, нанесенной на подложку в виде прямоугольной пластины из изолирующего материала, ширина а подложки и толщина b связаны соотношением 1 < a/b полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671 2.

Полупроводниковый тензорезистор, выполненный в виде тензочувствительной пленки, нанесенной на изолирующую подложку в виде прямоугольной пластины, представляет собой, например, пленку германия, полученную методом термического испарения германия в вакууме на подложку из арсенида галлия. Пленка снабжена контактными площадками с токовыводами.

Удельное сопротивление подложки из арсенида галлия полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671 полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671 107 Ом полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671 см. Пленка германия изготовлена толщиной 5 полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671 10-6 м. Размеры подложки составляли величины:

длина l 7,5 полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671 10-3 м;

ширина а 0,4 полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671 10-3 м;

толщина b 0,3 полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671 10-3 м.

Электрическое сопротивление тензочувствительной пленки R0 1948 Ом.

Для градуировки один из тензорезисторов партии, полученной в одном технологическом режиме, монтируется на метрологическую балку посредством связующего, которое наносится со стороны подложки. К метрологической балке прикладывается деформация полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671= 1,0 полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671 10-3, измеряется изменение величины сопротивления полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671R 65 Ом тензорезистора и рассчитывается коэффициент тензочувствительности при данной температуре kполупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671R/R0полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671= 33,5.

Затем один из тензорезисторов партии монтируется на исследуемый объект, который приводится в рабочее состояние (напряженно-деформированное) и одновременно измеряется изменение сопротивления тензорезистора полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671R 32 Ом.

Используя полученный при градуировке k 33,5, устанавливаем, что деформация равна

полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671= полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671R/R0k 4,86 полупроводниковый тензорезистор, патент № 2043671 10-4.

Класс H01C10/10 регулируемые путем приложения механического давления или усилия

Класс G01B7/16 для измерения деформации твердых тел, например проволочными тензометрами

способ настройки тензорезисторных датчиков с мостовой измерительной цепью по мультипликативной температурной погрешности с учетом положительной нелинейности температурной характеристики выходного сигнала датчика -  патент 2528242 (10.09.2014)
способ измерения деформаций объектов из немагнитных материалов и установка для его осуществления -  патент 2518616 (10.06.2014)
способ изготовления датчиков для контроля циклических деформаций -  патент 2507478 (20.02.2014)
способ настройки тензорезисторных датчиков с мостовой измерительной цепью по мультипликативной температурной погрешности с учетом положительной нелинейности температурной характеристики выходного сигнала датчика -  патент 2507477 (20.02.2014)
способ настройки тензорезисторных датчиков с мостовой измерительной цепью по мультипликативной температурной погрешности с учетом положительной нелинейности температурной характеристики выходного сигнала датчика -  патент 2507476 (20.02.2014)
способ настройки тензорезисторных датчиков с мостовой измерительной цепью по мультипликативной температурной погрешности с учетом положительной нелинейности температурной характеристики выходного сигнала датчика -  патент 2507475 (20.02.2014)
способ электромагнитной дефектоскопии в многоколонных скважинах и электромагнитный скважинный дефектоскоп -  патент 2507393 (20.02.2014)
способ настройки тензорезисторных датчиков с мостовой измерительной цепью по мультипликативной температурной погрешности с учетом положительной нелинейности температурной характеристики выходного сигнала датчика -  патент 2506534 (10.02.2014)
наклеиваемый полупроводниковый тензорезистор (варианты) -  патент 2505782 (27.01.2014)
стенд для градуировки тензоэлементов -  патент 2500983 (10.12.2013)
Наверх