устройство для измерения ширины трещины

Классы МПК:G01B5/30 для измерения деформации твердых тел, например механические тензометры 
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Архангельский лесотехнический институт им.В.В.Куйбышева
Приоритеты:
подача заявки:
1991-06-26
публикация патента:

Изобретение относится к строительству. Цель изобретения - повышение точности и расширение диапазона измерения. Устройство содержит микроскоп 5, скрепленной с подвижной опорной планкой 3, установленной в направляющих 2, смонтированных на пластине вместе с измерительным винтом 10. Пластина 1 укреплена на раме 7 жесткости, имеющей вакуумные прихваты 9 и опорные штыри 8. 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШИРИНЫ ТРЕЩИНЫ, содержащее микроскоп и связанную с ним опорную планку, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и расширения диапазона измерения, оно снабжено пластиной, установленными на ней направляющими, измерительным винтом, толкателем и рамкой жесткости, на которой установлена пластина и которая имеет вакуумные прихваты и опорные штыри, а опорная планка установлена с возможностью перемещения вдоль направляющих и на ней с помощью кронштейна установлен микроскоп.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к устройствам для измерения деформаций элементов строительных конструкций и может быть использовано в строительстве.

Цель изобретения - повышение точности и расширение диапазона измерения.

На чертеже показана схема прибора.

Устройство для измерения трещины содержит пластину 1 с установленными на ней линейными направляющими 2, опорную планку 3 с укрепленными на кронштейне 4 микроскопом 5 и толкатель 6. Пластина установлена на рамке 7 жесткости, имеющей опорные штыри 8 и вакуумные прихваты 9. На пластине укреплен измерительный винт 10, упирающийся наконечником в прилив 11 с впрессованным в него металлическим шариком по центру наконечника и скрепленный с опорной планкой 3.

Для фокусирования изображения наблюдаемых меток предусмотрено перемещение микроскопа в вертикальном направлении вдоль направляющих 12 посредством винта 13. Микроскоп 5 снабжен сеткой нитей, укрепленной в тубусе окулярной части винтами 14. Экран 15 из прозрачного материала (оргстекла) укреплен на одной из направляющих 2 и имеет узкую щель, совпадающую с траекторией перемещения визирной оси микроскопа 5 во всем диапазоне измерений. Толкатель 6 под действием внутренней пружины прижимает подвижную опорную планку 3 с микроскопом 5 к наконечнику измерительного винта 10.

Для выполнения измерений при исследовании динамики развития трещины прибор, удерживаемый за раму 7 жесткости, прикладывают к поверхности стены заостренными концами опорных штырей 8. Добиваются, чтобы метки, нанесенные на кромках по обе стороны щели, просматривались через щель экрана 15. Вращением измерительного винта 10 перемещают опорную планку 3 с микроскопом 5 в направляющих 2 до совмещения центра сетки нитей с точкой кромки или метки и берут отсчет а по шкале измерительного винта 10.

Затем вращением измерительного винта 10 наводят центр сетки на точку противоположной кромки или на вторую метку и берут отсчет b по шкале измерительного винта 10. Разность отсчетов позволяет найти длину отрезка l между кромками трещины или метками l=а-b.

Из сопоставления длин отрезков, измеренных через заданные интервалы времени, выявляют динамику изменения ширины трещины. Прикладывая прибор к трещине в различных направлениях, можно измерить составляющие изменения ширины трещины. Максимальная длина отрезка, который может быть измерен с помощью предлагаемого устройства, 15 мм.

Класс G01B5/30 для измерения деформации твердых тел, например механические тензометры 

устройство для калибровки датчика измерения малых перемещений -  патент 2510487 (27.03.2014)
способ исследования деформации и напряжений в хрупких тензоиндикаторах -  патент 2505780 (27.01.2014)
способ регистрации трещин в хрупких тензоиндикаторах -  патент 2505779 (27.01.2014)
способ выявления и измерения деформаций ползучести -  патент 2483275 (27.05.2013)
датчик для измерения деформаций объекта -  патент 2440554 (20.01.2012)
датчик деформации -  патент 2431127 (10.10.2011)
датчик деформаций образцов -  патент 2425325 (27.07.2011)
устройство для определения остаточных напряжений в деталях с электропроводными покрытиями -  патент 2412428 (20.02.2011)
датчик измерения перемещений при жизнедеятельности трещины -  патент 2402747 (27.10.2010)
устройство для определения смещения горных пород в забоях и выработках -  патент 2379510 (20.01.2010)
Наверх