способ измерения характеристик оптических систем: фокусных расстояний и децентрировки

Классы МПК:G01M11/00 Испытание оптической аппаратуры; испытание конструкций или устройств оптическими способами, не отнесенными к другим классам или подклассам
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Салаватский оптико-механический завод
Приоритеты:
подача заявки:
1991-12-26
публикация патента:

Использование: изобретение относится к оптическому приборостроению. Сущность: способ измерения характеристик оптических систем: фокусных расстояний, фокальных отрезков и децентрировки заключается в том, что сходящийся пучок света фокусируют вблизи передней фокальной плоскости вспомогательной линзы, устанавливают измеряемую оптическую систему вблизи точки, в которой фокусируется сходящийся пучок света, и измеряют размер сечения пучка света в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы. Изменяют (во времени или в пространсве) взаимное положение точки, в которой фокусируется сходящийся пучок света, относительно вершины передней поверхности измеряемой системы и измеряют размер сечения пучка света в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы и по сравнению измеренных размеров сечений определяют требуемую характеристику измеряемой оптической системы. 2 з.п. ф-лы, 3 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3

Формула изобретения

1. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ: ФОКУСНЫХ РАССТОЯНИЙ И ДЕЦЕНТРИРОВКИ, заключающийся в измерении размера сечения пучка света в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы, отличающийся тем, что перед операцией измерения размера сечения пучка света в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы сходящийся пучок света фокусируют вблизи передней фокальной плоскости вспомогательной линзы, устанавливают измеряемую оптическую систему вершиной передней поверхности вблизи точки, в которой фокусируется сходящийся пучок света, затем изменяют взаимное положение вершины передней поверхности измеряемой оптической системы и точки, в которой фокусируется сходящийся пучок света, повторяют измерение размера сечения пучка света в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы и определяют фокусное расстояние по формуле

fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 = 2способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 ,

где f2способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 - фокусное расстояние вспомогательной линзы;

2способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 - угол между крайними лучами сходящегося пучка света;

x1, x2 - расстояния от вершины передней поверхности измеряемой оптической системы до точки, в которой фокусируется сходящийся пучок света;

D1способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692, D2способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 - размеры сечений пучка света в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы, соответствующие расстояниям x1, x2,

а фокальный отрезок измеряемой оптической системы определяют по формуле

-SF = способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 ,

децентрировку измеряемой оптической системы определяют по формуле

C = fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 ,

где DAспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692, DBспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 - размеры сечений пучка света в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы от оси вспомогательной линзы до крайнего луча пучка света, измеренные в направлении децентрировки линзы и противоположном направлении при одном положении измеряемой системы относительно сходящегося пучка света.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что, с целью упрощения обработки результатов измерения, принимают x2=-x1=x, а f1 и -SF определяют как

fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 = 4способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 и -SF = способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 X

3. Способ по п.1, отличающийся тем, что размеры сечений в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы измеряют с помощью матричного фотоприемника.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для измерения фокусных расстояний и децентрировки оптических систем.

Известен способ измерения задних фокальных отрезков линз [1], при котором на линзу направляют параллельный пучок света и измеряют расстояние между вершиной последней поверхности линзы и плоскостью, в которой фокусируется параллельный пучок света после линзы.

При измерении фокального отрезка микроскоп фокусируют на вершину последней поверхности линзы и снимают отсчет по шкале перемещений, затем фокусируют микроскоп на изображение тест-объекта и снимают второй отсчет. Разность отсчетов соответствует фокальному отрезку.

Недостатки этого способа: нельзя измерять большие фокальные отрезки, нельзя без изменения оптической схемы измерять отрицательные системы, высокие требования к точности базировки системы, так как надо измерение вести строго по оптической оси.

Известен способ измерения задней вершинной рефракции очковых линз [2], при котором на линзу направляют пучок света от тест-объекта (сетки) и наблюдают изображение тест-объекта через зрительную трубу, добиваясь его резкого изображения изменение расходимости падающего на линзу пучка света.

Недостатки этого способа: для точного измерения фокального отрезка необходимо центрировать линзу относительно оптической оси устройства, большое время измерения, так как надо центрировать линзу и проводить продольную фокусировку изображения сетки.

Известен способ измерения рабочего отрезка оптической системы [3], при котором на оптическую систему направляют световой пучок, измеряют фототок в двух точках, находящихся на известном расстоянии от последней поверхности оптической системы, и определяют величину заднего фокального отрезка по формуле

Sспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692= способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 + способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692r + ry, (1) где способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 r - расстояние между точками, в которых измеряется фототок;

ry - расстояние от последней поверхности оптической системы до одной из точек, где измеряются фототоки.

Недостаток способа: необходимо совмещать оптическую ось измеряемой системы с осью светового пучка и знать децентрировку измеряемой системы, иначе появляется ошибка вследствие разных углов падения пучка лучей на фотоприемники, т. е. большое время на совмещение осей и ошибка измерения при неизвестной децентрировке системы.

Известен способ измерения фокусных расстояний (метод увеличения) объективов [1] , при котором тест-объект, расположенный в фокальной плоскости объектива коллиматора и освещенный источником света через конденсатор, проектируется измеряемым объективом в его фокальную плоскость. Изображение тест-объекта (сетка с вертикальными штрихами) рассматривают с помощью микроскопа и измеряют расстояние между выбранными штрихами сетки окуляр-микрометром, установленным на микроскопе.

Фокусное расстояние измеряемого объектива определяется по формуле

fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692= fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 , (2) где fк - фокусное расстояние объектива коллиматора;

y - расстояние между штрихами тест-объекта.

Недостаток способа: нельзя измерять большие фокусные расстояния, фокусные расстояния отрицательных систем, большое время на продольную фокусировку системы.

Общим недостатком всех вышеперечисленных устройств является то, что устройством можно измерять только какой-то один параметр или фокусное расстояние, или фокальные отрезки оптических систем.

Наиболее близким по технической сущности к заявляемому способу является способ измерения фокусных расстояний объективов (метод Фабри-Юдина( [4], при котором на измеряемый объектив направляют параллельный пучок света с сечением известного размера, располагают за измеряемым вспомогательную линзу и, измеряя размер сечения пучка в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы, определяют фокусное расстояние измеряемого объектива f1 по формуле

fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692= способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 f12, (3) где D - размер сечения пучка, падающего на объектив;

D" - размер сечения пучка в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы;

f12 - фокусное расстояние вспомогательной линзы.

При этом способе можно измерять и децентрировку измеряемого объектива. Если объектив децентрирован на величину C, то размер параллельного пучка от оси объектива в одном направлении будет способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 + C , в другом способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 - C и соответственно размер пучка в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы от оси будет в одном направлении

Dспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 = способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 f12, в другом направлении

Dспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 = способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692

Разность этих размеров будет

Dспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 - Dспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 = C способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692, откуда

C = fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 (4) Причем измеряемая величина фокусного расстояния не зависит от величины децентрировки, так как

Dспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 = Dспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 + Dспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 = способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 (5)

Недостатки данного способа следующие: ограниченность диапазона измеряемых фокусных расстояний объективов, что связано с ограниченным полем зрения измерительного устройства; большее время измерения, связанное с необходимостью подбора диафрагм для каждого измеряемого фокусного расстояния, кроме того, при этом способе нельзя измерять фокальные отрезки оптических систем, если в этом возникает необходимость (например, в бинокулярных приборах нужно подбирать объективы по фокальным отрезкам и увеличению, т. е. по фокусному расстоянию) и нужно применять другие способы измерения фокальных отрезков, что опять-таки увеличивает время измерения.

Целью изобретения является расширение диапазона измеряемых фокусных расстояний оптических систем, уменьшение времени измерения, а также при необходимости измерения фокальных отрезков объективов.

Цель достигается тем, что в способе измерения характеристик оптических систем фокусных расстояний и децентрировки сходящийся пучок света фокусируют вблизи передней фокальной плоскости вспомогательной линзы, устанавливают измеряемую оптическую систему вблизи точки, в которой фокусируется сходящийся пучок света, и измеряют размер сечения пучка света в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы, затем изменяют (во времени или в пространстве) взаимное положение точки, в которой фокусируется сходящийся пучок света, относительно вершины передней поверхности измеряемой системы и измеряют размер сечения пучка в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы и по сравнению измеренных размеров сечений определяют требуемую характеристику измеряемой оптической системы по формулам

fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 = 2способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 (6)

-SF = способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 (7)

C = fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 (8) где f12 - фокусное расстояние измеряемой оптической системы;

- SF - передний фокальный отрезок измеряемой оптической системы;

D1", D2" - размер сечений пучка в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы для двух положений измеряемой оптической системы;

X1, X2 - расстояния от вершины передней поверхности измеряемой оптической системы до точки, в которой фокусируется сходящийся пучок света;

2 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 - угол между крайними лучами сходящегося пучка лучей;

f2" - фокусное расстояние вспомогательной линзы;

C - децентрировка измеряемой оптической системы;

(D")A, (D")B - размер сечения пучка света в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы от оси вспомогательной линзы до крайнего луча пучка света, измеренные в направлении децентрировки измеряемой системы и в противоположном направлении, для одного положения измеряемой оптической системы относительно точки, в которой фокусируется сходящийся пучок света.

Способ отличается от прототипа тем, что на измеряемую оптическую систему падает сходящийся пучок света, в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы измеряют сечение пучка лучей, близкого к параллельному (коллимированного), измерение сечений пучка проводят для двух положений измеряемых оптических систем, кроме того, этим способом определяется дополнительная характеристика оптической системы - фокальный отрезок.

На фиг. 1 представлена схема, по которой осуществляется способ измерения характеристик измерения оптических систем: фокусных расстояний, фокальных отрезков и децентрировки; на фиг. 2, 3 - варианты устройств, на которых может быть реализован способ измерения характеристик оптических систем.

Способ измерения характеристик оптических систем: фокусных расстояний и децентрировки, при котором сходящийся пучок с углом 2 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 между крайними лучами A и B фокусируется в точке F1" вблизи передней фокальной плоскости F2" вспомогательной линзы 2.

Измеряемую систему 1 с передним фокусным расстоянием -f и задним - f передним фокальным отрезком - -SF и децентрировкой C устанавливают вершиной передней поверхности вблизи точки F1" на расстоянии -Х, от вершины до F1" и измеряют размер сечения пучка в задней фокальной плоскости линзы 2.

Из расчета хода лучей A и B размер сечения пучка в плоскости F2" от оси линзы 2 до луча A будет

(-Dспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692)1= -способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 - fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 (9) и размер сечения пучка в плоскости от оси линзы до луча B будет

(Dспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692)1= -способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 + fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 (10)

Решая эти уравнения, получают

(Dспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692)1-(-Dспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692) = 2fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 (11) откуда децентрировка измеряемой системы будет

C = fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 (8) и далее

Dспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 = (Dспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692)1+(-Dспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692)1= 2способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 (12)

Затем изменяют взаимное положение точки F1 и вершины передней поверхности измеряемой системы на X2 и получают размер сечения D2" в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы 2

Dспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 = - 2способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 (13)

Из (12) и (13) следует

Fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 = 4способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692

-SF = способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 X или при симметричном расположении вершины передней поверхности оптической системы относительно т. е. F", т. е. при

X1=-X2=X, (14) будет

fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 = 4способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692fспособ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 (15)

Способ может быть реализован в устройстве (фиг. 2), в котором изменение взаимного положения точки, в которой фокусируется сходящийся пучок относительно вершины передней поверхности измеряемой линзы, происходит во времени.

Устройство содержит последовательно установленные источник 4 параллельного света, диафрагму 5 размером D и оптический канал, в котором установлены последовательно и соосно фокусирующая линза 6, базировочное приспособление 7, механизм 8 перемещения базировочного приспособления с отсчетным устройством 9, вспомогательная линза, передняя фокальная плоскость которой совпадает с задней фокальной плоскостью фокусирующей линзы, измерительное устройство 3, например матричный фотоприемник, чувствительная площадка, которая установлена в задней фокальной плоскости впомогательной линзы.

Источник параллельного света освещает диафрагму 5 размером D и падает на фокусирующую линзу 6 с фокусным расстоянием f1". Сходящийся пучок света с углом способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 = способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 проходит измеряемую оптическую систему 1, установленную на базировочном приспособлении 7 на известном расстоянии X1 от вершины передней поверхности измеряемой системы до передней фокальной плоскости вспомогательной линзы 2, и вспомогательную линзу. С помощью измерительного устройства 3 измеряют размер сечения D1" пучка лучей в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы.

Перемещают базировочное приспособление 7 с измеряемой оптической системой на некоторое расстояние вдоль оптической оси и по отсчетному устройству 9 определяют расстояние -X2 от вершины передней поверхности измеряемой оптической системы до передней поверхности измеряемой оптической системы до передней фокальной плоскости вспомогательной линзы 2.

С помощью измерительного устройства 3 измеряют размер сечения пучка D2" в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы 2.

Измеряемую оптическую систему желательно располагать вблизи переднего фокуса вспомогательной линзы, так как тогда на измерительное устройство падает пучок лучей, близкий к параллельному, и на измерительном устройстве (фотоприемнике) будет более контрастное пятно и точность измерения будет выше. Вместо отсчетного устройства 9 могут быть установлены два упора. В таком случае перемещение базировочного приспособления 7 не измеряется, а фиксируется в рабочих положениях по упорам.

Способ может быть реализован также в устройстве (фиг. 3), в котором изменение взаимного положения точки, в которой фокусируется сходящийся пучок относительно вершины передней поверхности измеряемой линзы, происходит в пространстве.

Устройство содержит последовательно установленные источник 4 параллельного света и два идентичных оптических канала, оси которых параллельны и смещены в осевом и поперечном направлениях друг относительно друга, и соосно установлена диафрагма 5, фокусирующая линза 6, вспомогательная линза 2, передний фокус которой совпадает с задним фокусом фокусирующей линзы, измерительное устройство 3, например матричный фотоприемник, чувствительная площадка, которая располагается в задней фокальной плоскости вспомогательной линзы, симметрично осей обеих каналов и вблизи передних фокальных плоскостей вспомогательных линз расположено базировочное приспособление 7.

Параллельный пучок света от источника 4 в каждом канале проходит диафрагму 5 размером D, фокусирующая линзу 6 с фокусным расстоянием f1" и превращается в сходящейся. Сходящийся пучок света с углом между осью и крайним лучом способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 = способ измерения характеристик оптических систем: фокусных   расстояний и децентрировки, патент № 2025692 проходит измеряемую оптическую систему 1, установленную на базировочном приспособлении 7, и вспомогательную линзу 2 и падает на измерительное устройство 3.

Класс G01M11/00 Испытание оптической аппаратуры; испытание конструкций или устройств оптическими способами, не отнесенными к другим классам или подклассам

установка для измерения углового поля зрения и контроля величины шага линий миры тест-объекта -  патент 2521152 (27.06.2014)
интерферометр для контроля телескопических систем и объективов -  патент 2518844 (10.06.2014)
волоконно-оптическая система и способ измерения множественных параметров турбомашинной системы -  патент 2513646 (20.04.2014)
способ оценивания очковой линзы, способ проектирования очковой линзы и способ изготовления очковой линзы -  патент 2511711 (10.04.2014)
способ оценивания очковых линз, способ проектирования очковых линз, способ изготовления очковых линз, система изготовления очковых линз и очковая линза -  патент 2511706 (10.04.2014)
устройство контроля, юстировки и сведения оптических осей каналов многоканальных приборов и широкополосный излучатель в видимой и ик-областях спектра -  патент 2511204 (10.04.2014)
способ оценки состояния контролируемого объекта -  патент 2508528 (27.02.2014)
способ контроля параметров оптико-электронных систем в рабочем диапазоне температур -  патент 2507495 (20.02.2014)
мира для настройки и определения параметров оптико-электронных систем с матричными фотоприемными устройствами и способ ее использования -  патент 2507494 (20.02.2014)
способ определения места повреждения оптического волокна -  патент 2503939 (10.01.2014)
Наверх