способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми дефектами

Классы МПК:G01M17/00 Испытание транспортных средств
Автор(ы):, , , ,
Патентообладатель(и):ОАО "Всероссийский научно-исследовательский институт по эксплуатации атомных электростанций" (ОАО ВНИИАЭС) (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2013-05-31
публикация патента:

Изобретение относится к методам испытаний, в частности к методам неразрушающего контроля. Гамма-процентный ресурс изделия определяют по результатам ультразвукового, вихретокового, радиографического и прочих методов неразрушающего контроля дефектов материала изделия или группы изделий. Способ основан на оценке остаточной дефектности с использованием тест-образца со скрытыми дефектами. Достигается возможность оценки реальной дефектности изделия после контроля и ремонта выявленных дефектов и определения фактического уровня гамма-процентного ресурса изделия до того, как оно разрушится или повредится в эксплуатации. 1 з.п. ф-лы, 5 ил. способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409

Формула изобретения

1. Способ определения гамма-процентного ресурса изделия, включающий определение дефектности изделия методом неразрушающего контроля, отличающийся тем, что изготавливают тест-образец, предназначенный для определения характеристик неразрушающего контроля несплошностей в материале изделия, осуществляют контроль этого тест-образца методом неразрушающего контроля и контроль изделия, который производится тем же методом, что и контроль тест-образца, при этом тест-образец изготавливают в форме изделия или его наиболее ответственной части из того же материала и по той же технологии, что и изделие с расположенными случайным образом дефектами с различными характеристическими размерами способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , определяют для конкретного изделия или группы m однотипных изделий критические размеры способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 кр дефектов в режиме эксплуатации и допустимые в эксплуатации размеры [способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ]д.э. дефектов, результаты контроля представляют в виде гистограммы в координатах (Nобн, способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ), где Nобн - число обнаруженных при контроле дефектов, способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 - характеристический размер дефекта, причем при контроле m однотипных изделий результаты контроля суммируют и представляют в виде одной гистограммы, определяют вероятность обнаружения дефектов Pвод на упомянутом тест-образце, определяют исходную дефектность Nисх=f(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ), определяют остаточную дефектность Nост=способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 (способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ) как разность Nисх и Nобн, остаточную дефектность разделяют на достоверную часть способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 д и вероятностную часть способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 >способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 д, где способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 - характеристический размер дефекта, способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 д - размер дефектов на границе между достоверной и вероятностной частями, определяемый из

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ,

где способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 макс - максимально возможные размеры дефектов в данном изделии;

полученная вероятностная часть остаточной дефектности принимается за начальную кривую остаточной дефектности, которая сдвигается вправо на графике в координатах (lgPр; способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ), где Pр - вероятность разрушения, за счет развития дефектов в эксплуатации, при этом величину развития определяют расчетным путем в зависимости от механизма и условий эксплуатации; полученную новую кривую принимают за конечную кривую остаточной дефектности и по ней определяют значения гамма-процентного ресурса по критериям либо появления недопустимого в эксплуатации дефекта, либо по критерию разрушения, при этом в первом случае используют уравнение

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 t([способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ]д.э.)=[1-Pр(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 д.э.)]×100%,

а во втором случае уравнение

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 t(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 кр)=[1-Pр(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 кр)]×100%.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что в качестве характеристического размера способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 дефекта выбирается линейный размер дефекта, или комбинация линейных размеров дефекта, или площадь дефекта, или объем дефекта.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к способам испытаний, в частности, для оценки показателей долговечности изделия, точнее гамма-процентного ресурса изделия. Изобретение может применяться в транспорте, атомной и традиционной энергетике, авиации, судостроении, нефтехимии, нефте-, газо- и продуктопроводах, сельскохозяйственных машинах и других областях техники и машиностроения.

Гамма-процентный ресурс - это ресурс, в течение которого изделие не достигнет предельного состояния с вероятностью способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , выраженной в процентах (ГОСТ53480-2009 Надежность в технике. Термины и определения).

В качестве прототипа выбран способ определения качестве изделий, раскрытый в патенте RU 2243586 C1 (опубликован 27.12.2004). Данный способ позволяет определять остаточную дефектность. Однако данный способ не позволяет определять параметры надежности изделия, в частности гамма-процентный ресурс, и их изменение в ходе эксплуатации изделия.

Предельные состояния изделий (механических изделий), как правило, связаны с дефектами металла (или другого конструкционного материала), из которого изготовлено изделие. В соответствие с существующими правилами и нормами в технике устанавливаются допустимые размеры несплошностей, превышение которых запрещено. Такие несплошности называются дефектами. Дефекты, в случае их обнаружения методами неразрушающего контроля, устраняются ремонтом. В процессе эксплуатации несплошности и дефекты материала изделия могут развиваться и увеличиваться в размере, приводя к окончательной поломке или разрушению изделия. Для своевременного выявления опасных несплошностей применяют неразрушающий контроль.

Гамма-процентный ресурс изделия настоящим изобретением предлагается определять по результатам неразрушающего контроля (далее НК) несплошностей, неоднородностей и других дефектов материала изделия или группы изделий (деталей, элементов конструкций и т.п.), в том числе ультразвукового, вихретокового, радиографического и других методов НК.

Считается, что после проведения неразрушающего контроля и ремонта по его результатам всех выявленных дефектов в изделии отсутствуют дефекты. При этом считается, что надежность и безопасность изделия в эксплуатации обеспечена (см., например, нормативные документы в области атомной энергетики: «Правила устройства и безопасной эксплуатации оборудования и трубопроводов атомных энергетических установок» ПНАЭГ-7-008-89, «Оборудование и трубопроводы атомных энергетических установок. Сварные соединения и наплавки. Правила контроля» ПНАЭГ-7-010-89, Госатомнадзор России, Энергоатомиздат, 1991 г.).

На самом деле в настоящее время в технике практически отсутствуют методы и средства неразрушающего контроля, гарантированно, со 100%-ной достоверностью выявляющие все дефекты. Поэтому всегда имеется определенная вероятность пропуска дефекта, в том числе и дефекта, представляющего опасность (то есть развитие которого во время эксплуатации приведет к повреждению изделия или его разрушению). Известно (например, Аркадов Г.В., Гетман А.Ф., Родионов А.Н. Надежность оборудования и трубопроводов АЭС и оптимизация их жизненного цикла, М., Энергоатомиздат, 2010; Гурвич А.К. «Надежность дефектоскопического контроля как надежность комплекса «Дефектоскоп - оператор - среда», Дефектоскопия, 1992 г., № 3, с.5-13), что практически во всех случаях НК имеется существенная вероятность пропуска дефекта больших размеров, существенно превышающих допустимые размеры. На практике оказывается, что практически всегда после НК и устранения выявленных дефектов в изделии еще остаются дефекты. Именно эти оставшиеся дефекты в конечном итоге и определяют надежность и долговечность изделия.

Существующие методы оценки гамма-процентного ресурса изделия основаны на формально-математических подходах, в которых не учитываются реальные оставшиеся в изделии дефекты. Например, в рамках существующих теорий надежности фактический уровень гамма-процентного ресурса изделия определяют по результатам математической обработки так называемого потока отказов однотипных изделий, находящихся в эксплуатации (Острейковский В.А. «Эксплуатация атомных станций», Москва, Энергоатомиздат, 1999 г., раздел 3.5: «Методы анализа несплошностей оборудования АЭС»). Недостаток таких подходов состоит в том, что находящиеся в эксплуатации изделия должны повредиться или разрушиться прежде чем можно будет оценить их фактический уровень надежности и безопасность.

Технический результат, на достижение которого направлено данное изобретение, заключается в том, что оно позволяет произвести оценку реальной дефектности изделия после контроля и ремонта выявленных дефектов и определить фактический уровень гамма-процентного ресурса изделия до того, как оно разрушится или повредится в эксплуатации.

Пример осуществления изобретения иллюстрируется следующими графическими материалами.

На фиг.1 представлены кривые остаточной дефектности до начала эксплуатации и в конце эксплуатации. На фиг.2 изображена схематизация дефекта в трубопроводе эллипсом с полуосями a и c. На фиг.3 показана совокупность дефектов критических и допустимых размеров. На фиг.4 показана гистограмма выявленных в изделии дефектов, кривые исходной и остаточной дефектности. На фиг.5 показан график для определения вероятности обнаружения дефектов.

Технический результат достигается тем, что способ определения гамма-процентного ресурса изделия включает определение дефектности изделия методом неразрушающего контроля, при этом изготавливают тест-образец, предназначенный для определения характеристик неразрушающего контроля несплошностей в материале изделия, осуществляют контроль этого тест-образца методом неразрушающего контроля и контроль изделия, который производится тем же методом, что и контроль тест-образца, при этом тест-образец изготавливают в форме изделия или его наиболее ответственной части из того же материала и по той же технологии, что и изделие с расположенными случайным образом дефектами с различными характеристическими размерами способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , определяют для конкретного изделия или группы m однотипных изделий критические размеры способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 кр дефектов в режиме эксплуатации и допустимые в эксплуатации размеры [способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ]д.э. дефектов, результаты контроля изделия представляют в виде гистограммы в координатах (Nобн , способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ), где Nобн - число обнаруженных при контроле дефектов, способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 - характеристический размер дефекта, причем при контроле m однотипных изделий результаты контроля суммируют и представляют в виде одной гистограммы, определяют вероятность обнаружения дефектов Pвод на упомянутом тест-образце, определяют исходную дефектность Nисх=f(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ), определяют остаточную дефектность Nост=способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 (способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ) как разность Nисх и Nобн, остаточную дефектность разделяют на достоверную часть способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 д и вероятностную часть способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 >способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 д, где способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 - характеристический размер дефекта, способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 д - размер дефектов на границе между достоверной и вероятностной частями, определяемый из

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ,

где способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 макс - максимально возможные размеры дефектов в данном изделии;

полученная вероятностная часть остаточной дефектности принимается за начальную кривую остаточной дефектности, которая сдвигается вправо на графике в координатах (lgPр; способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ), где Pр - вероятность разрушения, за счет развития дефектов в эксплуатации, при этом величину развития определяют расчетным путем в зависимости от механизма и условий эксплуатации; полученную новую кривую принимают за конечную кривую остаточной дефектности и по ней определяют значения гамма-процентного ресурса по критериям либо появления недопустимого в эксплуатации дефекта, либо по критерию разрушения, при этом в первом случае используют уравнение

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 t([способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ]д.э.)=[1-Pp(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 д.э.)]×100%,

а во втором случае уравнение

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 t(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 кр)=[1-Pp(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 кр)]×100%.

Отличительной чертой данного способа является то, что для определения гамма-процентного ресурса используют тест-образец, фактически идентичный изделию.

По вероятностной части конечной остаточной дефектности определяют вероятность гамма-процентного ресурса изделия способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 t как вероятность отсутствия в изделии несплошности недопустимого размера по формуле:

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409

а гамма-процентный ресурс изделия по критерию разрушения можно определить как вероятность отсутствия в изделии несплошности, по размерам равной или большей способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 кр, по формуле:

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409

Для того чтобы гамма-процентный ресурс выразить в процентах, надо величину способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 t([способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ]д.э.) или способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 t(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 кр) умножить на 100%.

Как правило, в качестве характеристического размера способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 дефекта выбирается линейный размер a дефекта, или комбинация линейных размеров дефекта, или площадь дефекта, или объем дефекта.

В одном из вариантов аппроксимируют гистограмму (Nобн, способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ) уравнением

Nобн(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )=A1способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 -nспособ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 1{1-(1-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )exp[-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 (способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 -способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 0)]-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 } или

Nобн(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )=A2exp(-n2способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ){1-(1-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )exp[-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 (способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 -способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 0)]-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 },

где A1, А2, n 1, n2, способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 - постоянные, которые определяют из условия максимального приближения уравнения Nобн(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ) к результатам контроля, представленным в виде гистограммы, а способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 определяют с использованием тест-образца,

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 0 - минимально доступный для выявления размер дефекта,

исходную дефектность Nисх определяют по формуле:

Nисхспособ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 -n

а вероятность обнаружения дефекта Pвод аппроксимируют по результатам контроля тест-образца формулой:

Pвод=1-(1-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )exp[-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 (способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 -способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 0)]-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 .

В частном случае в качестве характеристического размера способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 принимают малую полуось a эллипса, которым схематизируют дефект, при этом соотношение а/с принимают постоянным для всех а, определяемым из условия максимальной скорости развития дефекта в эксплуатационных условиях.

При этом минимально доступный для выявления размер дефекта способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 0 определяют при настройке дефектоскопа, применяемого при контроле изделия, или как минимальный размер дефекта, который был выявлен при контроле.

Для упрощения вычислений постоянную способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 можно принимать равной 0.

Зависимость (N исх, способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ) апроксимируют уравнением типа Nисхспособ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 exp(-nспособ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ), или Nисх=Aaехр(-na a), или Nисх=Aa,cexp[-na,c (a2/c)], или Nисх=AFexp(-nF), или способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , или способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , или способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , или способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ,

где а, с - линейные размеры дефекта,

F - площадь дефекта,

n, A - коэффициенты, выбираемые из условия максимального приближения аналитической кривой к экспериментальным данным.

Способ может применяться для конкретного изделия или группы однотипных изделий, гамма-процентный ресурс которых надо определить, с применением известного метода НК при проведении контроля оператором известной квалификации с последующим ремонтом выявленных дефектов.

Методами механики разрушения определяют критические размеры дефектов в режиме эксплуатации для данного изделия способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 кр и предельно допустимые в эксплуатации дефекты [способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ]д.э. (нормы дефектов изделия), определяемые по действующим нормативным документам и/или ТУ на изготовление (например, для атомной техники - по нормативной методике М-02-91). способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 - характеристический размер дефекта, например, выбирается линейный размер дефекта, или комбинация линейных размеров дефекта, или площадь дефекта, или объем дефекта.

Фиг.1 иллюстрирует тот факт, что определенная указанным выше способом кривая остаточной дефектности принимается за исходную (то есть на момент оценки, например, до начала эксплуатации) остаточной дефектностью (кривая 1 на фиг.1), которая за время эксплуатации tэ (за счет того, что дефекты подрастут) сдвинется вправо (фиг.1, кривая 2). Новую кривую остаточной дефектности принимают за конечную кривую остаточной дефектности.

Совокупность дефектов критических размеров (кривая 3), допустимых в эксплуатации размеров (кривая 2), а также допустимые размеры несплошностей при изготовлении (кривая 1) изображены на фиг.3.

Проводят неразрушающий контроль изделия (НК) выбранным методом (ультразвуковым, вихретоковым, радиографическим и другими методами НК), техническими средствами контроля и операторами определенной квалификации и затем устраняют в нем обнаруженные дефекты (ремонтом).

Результаты контроля представляют в виде гистограммы в координатах «характеристический размер дефекта способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 - количество выявленных дефектов данного размера N обн изд».

Далее определяют исходную дефектность Nисх=f(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ) и остаточную дефектность Nост=способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 (способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ) по уравнению Nисх(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )=Nобн(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )/Pвод(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ) как разность Nисх и Nобн.

Указанные зависимости можно определять следующим способом. Результаты НК представляют в виде аналитических выражений. Структура уравнения, которое может описать результаты НК, представленные на гистограмме, фиг.4, следующая:

Nобн(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )=Nисх(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )Pвод(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )

где Nобн - число обнаруженных при контроле дефектов на единицу характеристического размера. Если в качестве характеристического размера выбрана малая полуось эллипса, которым схематизируют дефект, то размерность Nобн - мм-1;

Nисх - функция исходной (до НК и ремонта) дефектности с той же размерностью, что и Nобн;

Pвод - вероятность обнаружения дефекта данного размера способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 .

Вид функции Nисх определяется исходя из условия наибольшей простоты выражения, минимального числа констант и соответствия физически обусловленной зависимости Nисх от способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 .

В первом приближении могут быть использованы следующие уравнения:

Nисх=Aспособ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 -n,

Pвод=1-(1-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )exp[-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 (способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 -способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 0)]-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ,

Nобн(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )=Aспособ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 -n{1-(1-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )exp[-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 (способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 -способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 0)]-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 },

где A, n, способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 0 - постоянные.

Определяют численные значения постоянных A, n, способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 из условия максимального приближения уравнения Nобн (способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ) к результатам НК, представленным в виде гистограммы. При этом способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 и способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 определили ранее на тест-образце.

При этом способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 0 - минимально доступный для выявления размер дефекта - определяют при настройке дефектоскопа, применяемого при контроле изделия, или как минимальный размер дефекта, который был выявлен при контроле; способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 в первом приближении можно принять равной 0. В результате остается две неизвестных, что существенно облегчает задачу их определения.

Определить постоянные A и n можно либо решая систему двух уравнений относительно A и n, которые получают, если взять две точки на гистограмме, либо их определяют с использованием метода наименьших квадратов.

Остаточную дефектность Nост определяют как разность Nисх и Nобн:

Nост (способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )=Nисх(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )-Nобн(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ).

При этом число оставшихся после НК и ремонта дефектов в изделии определяют в трех диапазонах: остаточную дефектность способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 в области дефектов, важных для безопасности, определяют в виде числа дефектов в изделии, размеры которых равны или больше критических размеров способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 кр в режиме эксплуатации изделия: способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ; при способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 имеется вероятность неразрушения изделия; при способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 изделие не имеет запаса безопасности и не может быть допущено к эксплуатации;

остаточную дефектность способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 в области дефектов, важных для надежности, определяют в виде числа дефектов, размеры которых превышают размеры дефектов [способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ]д.э., предельно допустимых в эксплуатации изделия:

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ; при способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 изделие не имеет запаса надежности;

где m - число однотипных изделий.

При построении гистограммы горизонтальная ось способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 должна включать критический размер дефекта, даже если в результате контроля все выявленные дефекты не достигали критических размеров.

В случае контроля нескольких однотипных изделий все результаты контроля суммируют и представляют в виде одной гистограммы. Чем большее количество изделий было проконтролировано, тем достовернее получаемый окончательный результат.

Кривую вероятности выявления дефектов от размеров дефектов " a" и "с" (любой дефект в материале консервативно можно описать эллипсом с полуосями a и с) можно аппроксимировать наиболее близко описывающим экспериментальные результаты контроля уравнением, например

Pвод=1-(1-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )exp[-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 НК(a-a0)(c-c0 )]-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , или

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , или

Pвод=1-(1-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )exp[-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 НК(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 -способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 0)]-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409

где способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 НК - коэффициент достоверности НК, характеризует увеличение выявляемости дефектов в зависимости от его размера;

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 - постоянная, характеризующая предельную выявляемость контроля данным методом при сколь угодно большом размере дефекта; если размеры детали небольшие, то данной величиной можно пренебречь, введя соответствующую корректировку величины способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 НК;

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 -характеристический размер дефекта, например его площадь;

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 0 - минимальный характеристический размер дефекта;

а0, c0 - минимальные размеры дефектов, доступные для выявления НК.

Далее проводят контроль изделия, а результаты контроля представляют в виде гистограммы в координатах «характеристический размер дефекта способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 - количество выявленных дефектов данного размера N обн изд».

Исходную дефектность N исх определяют как отношение Nобн изд/P вод(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ); полученную гистограмму апроксимируют уравнением типа Nисх=Aспособ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 exp(-nспособ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ), или способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , или способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , или способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , или способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , или

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , или способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409

где а, с - линейные размеры дефекта,

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 c - функция распределения величины с, например, нормальный закон распределения,

F - площадь дефекта,

n, A, D, способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 - коэффициенты, выбираемые из условия максимального приближения аналитической кривой к экспериментальным данным, при этом способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 - среднее значение с, а D - дисперсия.

В качестве характеристического размера можно принять малую полуось a эллипса, которым схематизируют дефект, при этом соотношение а/с принимают постоянным для всех а исходя из условия максимальной скорости роста дефекта в условиях эксплуатации; при этом

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 , например, в случае однородного поля напряжений a /с=2 и нормального закона для распределения с со средним значением с=2a и дисперсией D=a/2 получаем

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409

Остаточную дефектность получают как разность между Nисх и Nобн изд. При этом Nобн изд определяют из аналитического выражения N исх·Pвод(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ), т.e. остаточную дефектность Nост можно представить в виде уравнения

Nост=Nисх (1-Pвод).

Далее остаточную дефектность разделяют на достоверную часть способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 д, в которой дефекты с размерами способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 д существуют достоверно, и вероятностную часть способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 >способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 д, в которой дефекты с размерами способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 >способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 д могут быть, а могут и не быть.

Границу между достоверной и вероятностной частями остаточной дефектности определяют из условия:

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ,

где способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 макс - максимально возможные размеры дефектов в данном изделии.

Полученная таким образом вероятностная часть остаточной дефектности будет начальной кривой остаточной дефектности. За время эксплуатации tэ (за счет того, что дефекты подрастут) эта кривая сдвинется вправо (кривая 2 на фиг.1). Величины сдвигов вправо можно определить по известным формулам в зависимости от исходного размера дефекта, например по нормативному документу в атомной энергетике РД ЭО-0330 или упоминавшейся выше монографии Аркадова Г.В., Гетмана А.Ф. и Родионова А.Н. Полученная новая кривая остаточной дефектности будет конечной остаточной дефектностью.

По вероятностной части конечной остаточной дефектности определяют вероятность гамма-процентного ресурса изделия способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 t как вероятность отсутствия в изделии несплошности недопустимого размера по формуле:

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ,

а гамма-процентный ресурс изделия по критерию разрушения можно определить как вероятность отсутствия в изделии несплошности, по размерам равной или большей способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 кр, по формуле:

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 .

Для того чтобы гамма-процентный ресурс выразить в процентах, надо величину способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 t([способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ]д.э.) или способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 t(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 кр) умножить на 100%.

Изобретение иллюстрируется следующим примером.

Необходимо определить гамма-процентный ресурс на конец проектного срока эксплуатации трубопровода внутренним диаметром D=800 мм, толщиной стенки S=34 мм из перлитной стали. Критические размеры дефектов в поперечных сварных швах представлены на фиг.3 (кривая 3). Допустимые в эксплуатации дефекты определили с использованием уравнений механики разрушения и коэффициентов запаса прочности (кривая 2 на фиг.3). Нормы дефектов при изготовлении представлены на фиг.3 кривой 1.

В результате НК штатным методом и средствами до начала эксплуатации (после монтажа) было обнаружено 71 несплошность.

Все выявленные несплошности (дефекты) представлены в виде гистограммы на фиг.4.

При этом в качестве характеристического размера дефекта выбрана ширина дефекта в направлении толщины стенки, а точнее - малая полуось эллипса, которыми схематизировали все выявленные дефекты.

При соотношении aспособ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 0,5 критическому размеру дефекта соответствует a кр=28 мм, [a]д.э.=11 мм, [a ]изг.=1,15 мм (фиг.2).

Несмотря на то, что максимальный размер выявленного дефекта составил a макс=13 мм, ось абсцисс содержит критический размер a=28 мм.

Уравнение, описывающее число выявленных дефектов Nобн в зависимости от размеров a:

Nобн=Aa-n [1-exp[-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 (a-a0)]].

По результатам контроля минимальный выявленный дефект имел a=0,6 мм, то есть a0=0,6 мм.

Вероятность обнаружения дефектов определяют с использованием тест-образца и аппроксимируют выражением Pвод=1-exp[-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 (1-0,6)].

Для определения постоянных А, n решают систему из двух уравнений относительно этих постоянных:

1-е уравнение получают для точки с координатами (a=1 мм, Nобн=20) по фиг.4:

20=A·1-n[1-exp[-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 (1-0,6)]];

2-е уравнение получают для точки с координатами (a=5 мм, Nобн=4) по фиг.4:

4=A·5-n[1-exp[-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 (5-0,6)]];

3-е уравнение получают для точки с координатами (a=13 мм, Nобн=0,66) по фиг.4 и его можно использовать для уточнения коэффициентов A и n:

0,66=A·13-n[1-exp[-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 (13-0,6)]].

Для 3-го уравнения Nобн =0,66 получено как осреднение числа выявленных дефектов в интервале от 11 до 13 мм, что составило 2/3, где 2 - число выявленных дефектов, 3 - число интервалов.

Окончательно система уравнений имеет вид:

20=A·[1-exp(-0,4способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )]

4=A·5-n[1-exp(-4,4способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )]

0,66=A·13-n[1-exp(-12,4способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )]

Решение системы уравнений относительно A и n дало следующие результаты:

А=1000 мм, n=2,56. Коэффициент способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 =0,05 мм-1 определен ранее экспериментально из тест-образца.

Подставляя постоянные A, n, а в соответствующие уравнения, получают уравнение исходной дефектности:

Nисх=1000a-2,56;

уравнение вероятностей обнаружения дефекта:

Pвод=1-exp[-0,05(a-0,6)];

уравнение остаточной дефектности

Nост(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )=Nисх(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )-Nобн(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ).

Полученные уравнения представлены на фиг.4 и фиг.5.

Решают уравнения

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409

где способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 (способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )=способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 (способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 )=Nост(a)=Nисх(a)-N обн(a), а m=1

При этом aмакс =S, где S - толщина стенки трубопровода. Результаты решения представлены на фиг.1 в виде кривой 1. Допустимые в эксплуатации и критические дефекты отмечены соответственно [a] и aкр .

Результаты расчета в координатах {lg(1-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ); a} наносим на график (кривая 1 на фиг.1). Полученная кривая 1 является начальной кривой вероятностной части остаточной дефектности.

Во время эксплуатации дефекты будут расти. Механизм роста может быть различным в зависимости от условий эксплуатации. В нашем случае превалирует рост дефектов под действием циклических нагрузок. В этом случае используем уравнение типа:

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ,

в котором

C и m - постоянные, зависящие от материала и условий эксплуатации;

R - коэффициент асимметрии цикла, для цилиндра давления равен 0;

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 K1 - размах коэффициента интенсивности напряжений.

Коэффициент интенсивности напряжений при неоднородном распределении напряжений в районе трещины определяют по уравнению:

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ,

где

Y=(2-0,82(a /c))/[1-(0,89-0,57(a/c)0,5)3( a/c)l,5]3,25,

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 кр=0,61 способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 A+0,39способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 B+[0,11(a/с)-0,28(a/s)(1-(a /c)0,5)](способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 A-способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 B), (5)

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 A - напряжение в вершине трещины;

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 B - напряжение на поверхности детали в корне трещины.

Для частного случая способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 .

Интегрируя приведенное выше выражение, его можно представить в виде:

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409

Подставляя в выражение предыдущие выражения и решая его относительно конечного размера трещины a к, можно определить подрост трещины способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 aN под воздействием N циклов нагружения.

Определяя указанным способом подрост дефектов для верхней, средней и нижней частей начальной кривой остаточной дефектности для числа циклов нагружения на конец проектного срока эксплуатации, получим конечную кривую остаточной дефектности (кривая 2 на фиг.1).

По конечной кривой остаточной дефектности определяем гамма-процентный ресурс трубопровода по критериям обнаружения недопустимого дефекта и по критерию разрушения (разрыва), соответственно

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 t([способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ]д.э.)=1-Pр(aд.э. ) и способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 t(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 кр)=1-Pр(aкр),

или для представления вероятностей в процентах величины способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 t необходимо умножить на 100%. Проводя указанные вычисления, окончательно получим:

- гамма-процентный ресурс на конец проектного срока эксплуатации по критерию появления недопустимого в эксплуатации дефекта

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 t([способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 ]д.э.)=1-Pр(aд.э. )=1-(2×х10Е-2)×100%=98%;

- гамма-процентный ресурс на конец проектного срока эксплуатации по критерию разрушения трубопровода

способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 t(способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам   неразрушающего контроля с использованием тест-образцов со скрытыми   дефектами, патент № 2518409 кр)=1-Pр(aкр)=1-(3×10E-6)×100%=99,9997%.

Как следует из приведенного примера, способ позволяет определять гамма-процентный ресурс с высокой степенью достоверности.

Класс G01M17/00 Испытание транспортных средств

стенд для исследования автомобильной шины -  патент 2529562 (27.09.2014)
способ повышения гамма-процентного ресурса изделия -  патент 2529096 (27.09.2014)
способ исследования автомобильной шины -  патент 2527617 (10.09.2014)
стенд для исследования и выбора параметров вибрационного конвейера с увеличенной производительностью -  патент 2524274 (27.07.2014)
стенд ударный маятниковый для испытания защитных устройств транспортного средства -  патент 2523728 (20.07.2014)
способ измерения шума производимого шинами автотранспортного средства находящегося в движении -  патент 2520701 (27.06.2014)
способ определения крутильной податливости гидромеханической трансмиссии -  патент 2520648 (27.06.2014)
способ автоматизированного магнитолюминесцентного контроля железнодорожных колес и устройство для его осуществления -  патент 2518954 (10.06.2014)
способ гидравлических или пневматических испытаний изделий, работающих под давлением, во время их эксплуатации -  патент 2518688 (10.06.2014)
способ оценки гамма-процентного ресурса изделия по результатам неразрушающего контроля -  патент 2518413 (10.06.2014)
Наверх