способ измерения аберраций оптических систем и устройство для его осуществления
Классы МПК: | G01M11/02 испытание оптических свойств |
Автор(ы): | Герловин Б.Я., Дубенсков В.П., Романов Ю.И. |
Патентообладатель(и): | Акционерное общество "ЛОМО" |
Приоритеты: |
подача заявки:
1994-05-11 публикация патента:
20.04.1997 |
1. Способ измерения аберраций оптических систем, заключающийся в тем, что путем диафрагмирования выделяют из пучков лучей, проходящих через контролируемую оптическую систему, узкие пучки, регистрируют изображение, сформированное узкими пучками лучей, измеряют смещения элементов этого изображения и преобразуют смещения элементов изображения в характеристики аберраций, отличающийся тем, что на контролируемую оптическую систему направляют излучение от протяженного неоднородного объекта, регистрируют также сформированное недиафрагмированными пучками лучей изображение, диафрагмирование пучков лучей производят с помощью экрана с отверстием, устанавливаемого в плоскость, в которой диаметр сечения каждого из пучков лучей, формирующих изображения точек объекта, не превышает ширины зоны изопланатизма, а смещения элементов изображения, сформированного узкими пучками лучей, оценивают относительно этих же элементов в изображении, сформированном недиафрагмированными пучками лучей. 2. Устройство для измерений аберраций оптических систем, содержащее диафрагмирующий экран с отверстиями, регистратор изображения, расположенный за экраном в плоскости изображения контролируемой оптической системы или вблизи нее, и систему обработки регистрируемых изображений, отличающееся тем, что оно снабжено расположенными перед экраном светоделителем, формирующим недиафрагмированное изображение, и регистратором этого изображения, диаметр d отверстий экрана и расстояние S от экрана до плоскости изображения контролируемой оптической системы удовлетворяет условиям
где - длина волны излучения;
F - относительное отверстие контролируемой оптической системы;
l - ширина зоны изопланатизма в изображении контролируемой оптической системы;
D - диаметр выходного зрачка контролируемой оптической системы,
а радиус r непрозрачной зоны экрана вокруг каждого отверстия удовлетворяет условию
r FS.
где - длина волны излучения;
F - относительное отверстие контролируемой оптической системы;
l - ширина зоны изопланатизма в изображении контролируемой оптической системы;
D - диаметр выходного зрачка контролируемой оптической системы,
а радиус r непрозрачной зоны экрана вокруг каждого отверстия удовлетворяет условию
r FS.
Описание изобретения к патенту
Класс G01M11/02 испытание оптических свойств