способ профилирования донных отложений

Классы МПК:G01V1/38 районов, покрытых водой
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем морских технологий Дальневосточного отделения Российской академии наук (ИПМТ ДВО РАН) (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2012-12-03
публикация патента:

Изобретение относится к области геофизики и гидроакустики и может быть использовано для изучения структуры донных отложений в шельфовой зоне мирового океана, а также для изучения особенностей распространения звука в придонном слое мелкого моря. Сущность: способ профилирования донных отложений включает установку приемоизлучающей антенны профилографа на буксируемый носитель, при этом излучающая и приемная антенны профилографа устанавливаются на носителе раздельно друг от друга, а в качестве приемной антенны используется ориентированная вдоль продольной оси носителя К - элементная приемная антенна. Буксируют носитель над дном, производят излучение импульсного акустического фазоманипулированного сигнала, модулируемого М-последовательностью, прием отраженного сигнала, его корреляционную обработку с копией излученного акустического фазоманипулированного сигнала, при этом усиление и корреляционную обработку принятых сигналов производят К- канальным приемным трактом. После усиления и корреляционной обработки сигналов, принятых каждым элементом К -элементной приемной антенны, формируют Q значений комплексной амплитуды принятого сигнала S(к)способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 qp, из Q элементов - строк формируют матрицу, для каждого момента времени излучения tpn и времени прихода tq вычисляют временные задержки. Повторяют операции временного сдвига и синфазного суммирования для всего массива данных для каждого элемента приемной антенны, для каждого момента времени прихода принятых сигналов tq и времени излучения tP, синфазно суммируют К сигналов, принятых К - элементной приемной антенной. Затем выполняют графическое построение профиля донных отложений по времени задержки отраженного сигнала. Технический результат: увеличение разрешающей способности способа профилирования в продольном направлении при сохранении достаточно большой глубины профилирования и высокой разрешающей способности в вертикальном направлении. 3 ил. способ профилирования донных отложений, патент № 2518023

Рисунки к патенту РФ 2518023

способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 способ профилирования донных отложений, патент № 2518023

Изобретение относится к области геофизики и гидроакустики и может быть использовано для изучения структуры донных отложений в шельфовой зоне мирового океана, а также для изучения особенностей распространения звука в придонном слое мелкого моря.

Известен способ профилирования донных отложений, реализованный в работе Касаткина Б.А., Косарева Г.В., Ларионова Ю.Г. Исследование дна Амурского залива профилографом высокого разрешения. Сборник трудов Российского акустического общества. М., ГЕОС, 2001, т.2, с.18-22. Известное решение основано на принципе отражения распространяющихся в воде и грунте широкополосных акустических импульсов от всех границ раздела, таких как граница раздела вода - морское дно, а также границы раздела между отдельными слоями морских осадочных пород.

Способ включает излучение широкополосных импульсных акустических сигналов в диапазоне частот 3-8 кГц, прием отраженных сигналов, их корреляционную обработку в режиме реального времени и построение профиля донных осадков по времени задержки отраженных сигналов от границ раздела слоев. Использование широкополосных импульсных акустических сигналов позволяет реализовать в данном способе достаточно высокую разрешающую способность метода профилирования. Недостатком данного способа является сравнительно малая глубина профилирования.

Известен способ профилирования донных отложений, в котором для увеличения глубины профилирования при сохранении высокой разрешающей способности в качестве импульсного акустического зондирующего сигнала используют фазоманипулированный сигнал, модулированный М-последовательностью (Патент РФ № 2356069, МПК G01V 1/38, 2007 г.). Данный способ является наиболее близким к заявляемому решению и принят за прототип.

Этот способ профилирования донных отложений включает установку приемоизлучающей антенны профилографа на буксируемый носитель и его буксировку над дном, излучение фазоманипулированного сигнала, модулированного М-последовательностью, прием отраженного сигнала, его корреляционную обработку с акустической копией излученного сигнала и последующее графическое построение профиля донных отложений по времени задержки отраженного сигнала. В этом способе для увеличения глубины профилирования используют фазоманипулированный сигнал с достаточно большой базой, обладающий достаточной энергией, а разрешающая способность данного способа в вертикальном направлении сохраняется высокой за счет высокого отношения сигнал / шум на входе приемного тракта, что также обеспечивается выбором фазоманипулированного сигнала с достаточно большой базой.

Недостатком данного способа профилирования является низкая разрешающая способность в продольном направлении, т.е. в направлении буксировки антенны профилографа. Это объясняется тем, что антенна профилографа на рабочих частотах профилирования обладает слабой направленностью в вертикальной плоскости, вследствие чего точечный объект профилирования изображается на профилограмме в виде характерной параболы, что затрудняет правильную идентификацию объектов профилирования. Для увеличения разрешающей способности в продольном направлении либо увеличивают апертуру антенны профилографа, что существенно увеличивает и массогабаритные характеристики профилографа, либо используют методику синтезирования апертуры. Такая методика применительно к задаче профилирования приведена, например, в работе: А.И.Захаров, В.И.Каевицер, В.М.Разманов, В.Н.Раскатов, Применение методов синтезирования апертуры в низкочастотных эхолотах-профилографах. Труды VIII международной конференции Прикладные технологии гидроакустики и гидрофизики. СПб, Наука, 2006, с.143-147. Однако алгоритмы синтезирования апертуры, описанные в этой работе, не учитывают различия в скорости распространения звука в воде и донных отложениях и связанного с этим преломления звуковых лучей на границе раздела вода - морское дно, а потому являются весьма приближенными. Как следствие, они являются достаточно эффективными только при малой величине синтезируемой апертуры и в случае, когда донные отложения являются неконсолидированным осадком, скорость звука в котором близка к скорости звука в воде.

Задачей изобретения является увеличение разрешающей способности способа профилирования в продольном направлении при сохранении достаточно большой глубины профилирования и высокой разрешающей способности в вертикальном направлении.

Поставленная задача решается способом профилирования донных отложений, включающим установку приемоизлучающей антенны профилографа на буксируемый носитель и его буксировку над дном, при этом излучающая и приемная антенны профилографа устанавливаются на носителе раздельно друг от друга, причем в качестве приемной антенны используется ориентированная вдоль продольной оси носителя К-элементная приемная антенна, излучение импульсного акустического фазоманипулированного сигнала, модулируемого М-последовательностью, прием отраженного сигнала, его корреляционную обработку с копией излученного акустического фазоманипулированного сигнала и последующее графическое построение профиля донных отложений по времени задержки отраженного сигнала. Для компенсации пространственных искажений, связанных со слабой направленностью антенны профилографа, а следовательно для увеличения разрешающей способности в продольном направлении, прием отраженного сигнала производят К-элементной приемной антенной, ориентированной вдоль носителя антенны профилографа, а усиление и корреляционную обработку принятых сигналов производят К-канальным приемным трактом. После усиления и корреляционной обработки сигналов, принятых каждым элементом К-элементной приемной антенны, для каждой посылки импульсного сигнала, излученного в момент времени tp=t0+pT, Т - период следования импульсов излучения профилографа, р=1, 2, 3способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , из массива обработанных данных формируют Q значений комплексной амплитуды принятого сигнала S(K)способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 qp, в интервале времен прихода отраженного акустического фазоманипулированного сигнала tqспособ профилирования донных отложений, патент № 2518023 (t0, tMAX), q=l,2, Q, где способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , (с1, с2 - предварительно определенные эффективные скорости звука в воде и в донных отложениях соответственно, h - высота антенны профилографа над дном, способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 f - полоса частот акустического фазоманипулированного сигнала, H - предполагаемая глубина профилирования морского дна). Из Q элементов - строк формируют матрицу из Q×(2N+1) - значений комплексной амплитуды принятого сигнала S(K)способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 qpn, соответствующих временам прихода t q и временам излучения tpn=tp±nT, qспособ профилирования донных отложений, патент № 2518023 (1,Q); nспособ профилирования донных отложений, патент № 2518023 (0,N). Для каждого момента времени излучения tpn и времени прихода tq вычисляют временные задержки

способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 ,

способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 ,

способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 .

(U - предварительно определенная скорость носителя антенны профилографа, zq - глубина отражающего слоя). Для каждого момента времени прихода принятых сигналов tq и времени излучения tpn синфазно суммируют 2N+1 сигналов, сдвинутых по временной шкале на величину способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 tqn по формуле

способ профилирования донных отложений, патент № 2518023

повторяют операции временного сдвига и синфазного суммирования для всего массива данных р>N+1, qспособ профилирования донных отложений, патент № 2518023 Q для каждого элемента приемной антенны, для каждого момента времени прихода принятых сигналов tq и времени излучения tp синфазно суммируют К сигналов, принятых К-элементной приемной антенной, сдвинутых по временной шкале на величину kТ, по формуле

способ профилирования донных отложений, патент № 2518023

причем период следования импульсов излучения Т, длина отдельного элемента К-элементной приемной антенны L и скорость носителя антенны профилографа U - связаны соотношением L=TU.

Заявленное техническое решение поясняется чертежами, где на фиг.1 показана лучевая трактовка преломления лучей на границе раздела вода - морское дно: а) схема формирования синтезированной апертуры, б) z0=h, r n=nUT, на фиг.2 - профилограммы морского дна, полученные без обработки: а) с использованием предложенного способа профилирования донных отложений б).

В результате обработки всего массива данных пространственные искажения, связанные со слабой направленностью антенны профилографа и движением носителя профилографа, компенсируются, что равносильно увеличению направленности антенны профилографа в вертикальной плоскости и улучшению его разрешающей способности в продольном направлении. При такой структуре приемной антенны профилографа и предложенных алгоритмах обработки сигналов разрешающая способность профилографа в продольном направлении будет равна длине одного элемента антенны L, а эффективная синтезированная апертура равна (2N+1)KL. Геометрия формирования синтезированной апертуры поясняется фиг.1, на котором показана лучевая трактовка преломления лучей на границе раздела вода - морское дно: а) схема формирования синтезированной апертуры, б) z0=h, r n=nUT. На фиг.2а хорошо видны характерные пространственные искажения изображения локализованных в морских отложениях объектов в виде пересекающихся параболических структур. Эти искажения эффективно устраняются, как это видно на фиг.2б, при использовании предложенного способа профилирования и алгоритмов синтезирования апертуры.

Способ профилирования донных отложений реализуется следующим образом.

При профилировании осадочного слоя морского дна предварительно измеряются или вычисляются эффективные значения скорости звука в воде и осадочном слое морского дна, которые входят в качестве параметров в алгоритмы обработки сигналов. Излучающая и приемная антенны профилографа устанавливаются на носителе раздельно друг от друга. В качестве приемной антенны используется ориентированная вдоль продольной оси носителя К-элементная приемная антенна. Процесс профилирования включает в себя установку приемоизлучающей антенны профилографа на буксируемый носитель, движение носителя антенны профилографа над дном со скоростью U, которая находится в определенном соотношении с длиной отдельного элемента антенны L и периодом следования импульсов излучения Т, излучение импульсного акустического фазоманипулированного сигнала, модулируемого М-последовательностью, прием отраженного сигнала К-элементной приемной антенной, ориентированной вдоль носителя антенны профилографа. Усиление и корреляционную обработку принятых сигналов К-канальным приемным трактом. Для увеличения разрешающей способности способа профилирования в продольном направлении производят обработку всего массива данных, полученных на выходе К-канального приемного тракта методом синтезирования апертуры с учетом преломления лучей на границе раздела вода - морское дно по формуле (1) для каждого элемента К-элементной приемной антенны и синфазное сложение сигналов, принятых отдельными элементами К-элементной приемной антенны, по формуле (2) с последующим графическим построением профиля донных отложений по времени задержки отраженного сигнала. При такой структуре приемной антенны профилографа, приемного тракта профилографа и предложенных алгоритмах обработки сигналов разрешающая способность профилографа в продольном направлении будет равна длине одного элемента антенны L, а эффективная синтезированная апертура равна (2N+1)KL.

Таким образом, предложенный способ отличается от известных новизной решения поставленной задачи и позволяет существенно увеличить разрешающую способность в продольном направлении при профилировании донных отложений.

ФОРМУЛА ИЗОБРЕТЕНИЯ

Способ профилирования донных отложений, включающий установку приемоизлучающей антенны профилографа на буксируемый носитель и его буксировку над дном, излучение импульсного акустического фазоманипулированного сигнала, модулируемого М-последовательностью, прием отраженного сигнала, его корреляционную обработку с копией излученного акустического фазоманипулированного сигнала и последующее графическое построение профиля донных отложений по времени задержки отраженного сигнала, отличающийся тем, что излучающая и приемная антенны профилографа устанавливаются на носителе раздельно друг от друга, причем в качестве приемной антенны используется ориентированная вдоль продольной оси носителя К - элементная приемная антенна, а усиление и корреляционную обработку принятых сигналов производят К - канальным приемным трактом, после усиления и корреляционной обработки сигналов, принятых каждым элементом К - элементной приемной антенны, для каждой посылки импульсного сигнала, излученного в момент времени tp=t0+pT, Т - период следования импульсов излучения профилографа, р=1, 2, 3способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , из массива обработанных данных формируют Q значений комплексной амплитуды принятого сигнала S(k)способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 qp, в интервале времен прихода отраженного акустического фазоманипулированного сигнала tqспособ профилирования донных отложений, патент № 2518023 (t0, tMAX), q=l,2, Q, где способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 ,12 - предварительно определенные эффективная скорость звука в воде и в донных отложениях соответственно, h - высота антенны профилографа над дном, способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 f - полоса частот акустического фазоманипулированного сигнала, H - предполагаемая глубина профилирования морского дна), из Q элементов - строк формируют матрицу из Q×(2N+1) - значений комплексной амплитуды принятого сигнала S(k)способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 qpn, соответствующих временам прихода t q и временам излучения tpn=tp±nT qспособ профилирования донных отложений, патент № 2518023 (1,Q); nспособ профилирования донных отложений, патент № 2518023 (0,N), для каждого момента времени излучения tpn и времени прихода tq вычисляют временные задержки

способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 ,

способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 ,

способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 , способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 .

(U - предварительно определенная скорость носителя антенны профилографа, Zq - глубина отражающего слоя), синфазно суммируют 2N+1 сигналов, сдвинутых по временной шкале на величину способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 tqn по формуле

способ профилирования донных отложений, патент № 2518023 ,

повторяют операции временного сдвига и синфазного суммирования для всего массива данных р>N+1,qспособ профилирования донных отложений, патент № 2518023 Q для каждого элемента приемной антенны, для каждого момента времени прихода принятых сигналов tq и времени излучения tp синфазно суммируют К сигналов, принятых К - элементной приемной антенной, сдвинутых по временной шкале на величину кТ, по формуле

способ профилирования донных отложений, патент № 2518023

причем период следования импульсов излучения Т, длина отдельного элемента К - элементной приемной антенны L и скорость носителя антенны профилографа U-связаны соотношением L=TU.


Скачать патент РФ Официальная публикация
патента РФ № 2518023

patent-2518023.pdf


Наверх