способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного пространства

Классы МПК:E21B47/00 Исследование буровых скважин
E21B47/06 измерение температуры или давления
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Шлюмберже Текнолоджи Б.В. (NL)
Приоритеты:
подача заявки:
2010-09-30
публикация патента:

Изобретение относится к области геофизических исследований нефтяных и газовых скважин, а именно к определению профиля притока флюидов и параметров призабойной зоны многопластовых скважин. В соответствии со способом определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного пространства после длительной работы скважины с постоянным дебитом в течение времени, достаточного для обеспечения минимального влияния продолжительности добычи на скорость последующего изменения температуры флюидов, поступающих из продуктивных пластов в скважину, изменяют дебит скважины. Измеряют давление на забое в скважине до и после изменения дебита. Для каждого пласта измеряют температуру притока флюидов, поступающих в скважину. Строят графики зависимости от времени температуры притока флюидов и производной от температуры притока по логарифму времени, прошедшего после изменения дебита. Из графиков зависимости производной от температуры по логарифму времени определяют времена, когда производная температуры выходит на постоянное значение, и рассчитывают относительные дебиты пластов по приведенному математическому выражению. Из графиков зависимости от времени температуры притока флюидов определяют изменение температуры притоков к этому времени и рассчитывают величины скин-факторов пластов по приведенному математическому выражению. 4 ил.

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

Формула изобретения

Способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного пространства, в соответствии с которым после длительной работы скважины с постоянным дебитом в течение времени, достаточного для обеспечения минимального влияния продолжительности добычи на скорость последующего изменения температуры флюидов, поступающих из продуктивных пластов в скважину, изменяют дебит скважины, измеряют давление на забое в скважине до и после изменения дебита, для каждого пласта измеряют температуру притока флюидов, поступающих в скважину, строят графики зависимости от времени температуры притока флюидов и производной от температуры притока по логарифму времени, прошедшего после изменения дебита, из графиков зависимости производной от температуры по логарифму времени определяют времена, когда производная температуры выходит на постоянное значение, и рассчитывают относительные дебиты пластов по формуле:

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

где Yi+1 - относительный дебит (i+l)-го пласта, i=1, 2,способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 , h1 - мощность первого пласта, td,1 - время, когда производная температуры выходит на постоянное значение на графике зависимости производной от температуры притока из первого пласта по логарифму времени, hi - мощность i-го пласта, td,i - время, когда производная температуры выходит на постоянное значение на графике зависимости производной от температуры притока из i-го пласта по логарифму времени, h i+1 - мощность (i+l)-го пласта, td,i+1 - время, когда производная температуры выходит на постоянное значение на графике зависимости производной от температуры притока из (i+1)-го пласта по логарифму времени, из графиков зависимости от времени температуры притока флюидов определяют изменение температуры притоков к этому времени и рассчитывают величины скин-факторов si (i=1, 2, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 ) пластов по формуле

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

где s - скин-фактор i-го пласта, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 =ln(re/rw), re - радиус внешней границы пласта, rw - радиус скважины, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 d=ln(rd/rw), rd - внешний радиус околоскважинной зоны, который определяется длиной перфорационных каналов, с - безразмерный коэффициент, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 0 - коэффициент Джоуля-Томсона флюида, P (1) и P(2) - давление на забое в скважине до и после изменения дебита, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 Тd,i - изменение температуры притока из i-го пласта к времени td,i, когда производная температуры притока выходит на постоянное значение.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области геофизических исследований нефтяных и газовых скважин, а именно к определению профиля притока флюидов и параметров призабойной зоны многопластовых залежей.

Известен способ определения относительного дебита продуктивных пластов по квазистационарным температурам потока, измеренным вдоль ствола скважины, описанный, например, в работе Череменский Г.А. Прикладная геотермия, Недра, 1977, стр.181. К недостаткам этого способа следует отнести малую точность определения относительного дебита пластов, обусловленную предположением о постоянной величине эффекта Джоуля-Томсона для различных пластов. На самом деле он зависит от величины пластовых давлений и от удельных дебитов пластов.

Техническим результатом настоящего изобретения является повышение точности определения параметров скважины (профиль притока, значения скин-факторов отдельных продуктивных пластов).

Заявленный технический результат достигается тем, что после длительной работы скважины с постоянным дебитом в течение времени, достаточного для обеспечения минимального влияния продолжительности добычи на скорость последующего изменения температуры флюидов, поступающих из продуктивных пластов в скважину, изменяют дебит скважины, измеряют давление на забое в скважине до и после изменения дебита и для каждого пласта измеряют температуру притока флюидов, поступающих в скважину. Строят графики зависимости от времени температуры притока флюидов и производной от температуры притока по логарифму времени, прошедшего после изменения дебита. Из графиков зависимости производной от температуры по логарифму времени определяют время, когда производная температуры выходит на постоянное значение, и рассчитывают относительные дебиты пластов по формуле:

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

где Yi+1 - относительный дебит (i+1)-го пласта, i=1, 2,способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 , h1 - мощность первого пласта, td,1 - время, когда производная температуры выходит на постоянное значение на графике зависимости производной от температуры притока из первого пласта по логарифму времени, hi - мощность i-го пласта, td,i - время, когда производная температуры выходит на постоянное значение на графике зависимости производной от температуры притока из i-го пласта по логарифму времени, h i+1 - мощность (i+1)-го пласта, td,i+1 - время, когда производная температуры выходит на постоянное значение на графике зависимости производной от температуры притока из (i+1)-го пласта по логарифму времени. Из графиков зависимости от времени температуры притока флюидов определяют изменение температуры притоков к этому времени и рассчитывают величины скин-факторов si (i=l,2,..) пластов по формуле

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

где si - скин-фактор i-го пласта, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 ,

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 =ln(re/rw), re - радиус внешней границы пласта, rw - радиус скважины, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 d=ln(rd/rw), rd - внешний радиус околоскважинной зоны, который определяется длиной перфорационных каналов, с - безразмерный коэффициент, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 0 - коэффициент Джоуля-Томсона флюида, Р (1) и Р(2) - давление на забое в скважине до и после изменения дебита, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 Td,i - изменение температуры притока из i-го пласта к времени td,i, когда производная температуры притока выходит на постоянное значение.

Изобретение поясняется чертежами, где на фиг.1 показано влияние продолжительности добычи на скорость изменения температуры после изменения дебита скважины; на фиг.2 показано изменение производной температуры притока флюидов из различных продуктивных пластов по логарифму времени, прошедшего после изменения дебита скважины, и отмечены времена td,1 и td,2, когда данная величина выходит на постоянные значения (по этим величинам рассчитываются относительные дебиты пластов); на фиг.3 приведены зависимости температуры притока от времени и показано определение изменений температур притока способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 Td,1 и способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 Тd,2 (к временам td,1 и td,2 ), по которым рассчитываются скин-факторы пластов для модели двухпластовой скважины; на фиг.4 для рассматриваемого примера приведена зависимость забойного давления от времени, прошедшего после изменения дебита скважины.

Предлагаемый в изобретении способ обработки результатов измерений основан на упрощенной модели процессов тепло- и массопереноса в продуктивном пласте и скважине. Рассмотрим результаты использования этой модели для обработки результатов измерения температуры Tin,i (t) флюидов, поступающих в скважину из двух продуктивных пластов.

В приближении быстрого установления давления в продуктивных пластах, скорость изменения температуры флюида, втекающего в скважину после изменения дебита, описывается формулой:

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

где способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 0 - коэффициент Джоуля-Томсона флюида, Р e - пластовое давление, P(1) и Р(2) - давление на забое в скважине до и после изменения дебита, s - скин-фактор пласта, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 =ln(re/rw), re - радиус дренажа (внешней границы пласта), rw - радиус скважины, t - время, отсчитываемое с момента изменения дебита скважины, tp - продолжительность добычи при давлении на забое скважины Р(1), способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 - относительная проницаемость околоскважинной зоны,

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 d=ln(rd/rw), rd - внешний радиус околоскважинной зоны с измененной проницаемостью и профилем потока флюида по сравнению со свойствами пласта вдали от скважины, который определяется совокупностью факторов, таких как свойства перфорационных отверстий, распределением проницаемости в поврежденной зоне вокруг скважины и неполнотой вскрытия, t d(1)=t(1)·D и td(2)=t(2) ·D, D=(rd/rw)2-1 - безразмерный параметр, характеризующий размер околоскважинной зоны,

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 - характерные времена, определяемые удельными дебитами q(1) и q(2) - до и после изменения дебита, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 , Q(1),(2), h и k - объемные дебиты, мощность и проницаемость пласта, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 ,

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 - пористость пласта,

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 cспособ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 - объемная теплоемкость флюида,

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 mcm - объемная теплоемкость матрицы горной породы,

µ - вязкость флюида.

Согласно формуле (1), при достаточно большой продолжительности tp добычи до изменения дебита ее влияние на динамику изменения температуры после изменения дебита стремиться к нулю. Оценим это влияние количественно. По порядку величины способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 0.7, rwспособ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 0.1 м, и для rdспособ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 0.3, q(2)=100 [м3/день]/3 м способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 4·10-4 м3/ с мы имеем: t (2)способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 0.03 часа, td(2)способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 0.25 часа. Если продолжительность t измерений составляет tспособ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 2÷3 часа (т.е. t>>t(2),td(2) и f(t,td(2))=1), можно оценить, какую относительную погрешность в величину производной (1) вносит конечная продолжительность добычи до начала измерений:

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

На фиг.1 приведены результаты расчета по формуле (3) для Ре=100 бар, P(1)=50 бар, P(2)=40 бар и tp=5, 10 и 30 дней. На фигуре видно, например, что если продолжительность добычи с постоянным дебитом была 10 и более дней, то в течение времени t=3 часа после изменения дебита влияние величины tp на скорость изменения температуры притока не превысит 6%. Существенно, что увеличение продолжительности t измерений приводит к пропорциональному увеличению необходимой продолжительности добычи с постоянным дебитом до проведения измерений для сохранения величины погрешности, вносимой величиной tp в величину производной (1).

Далее предполагается, что продолжительность добычи tp достаточно велика и формула (1) может быть записана в виде (ниже, для упрощения формул, принято, что td(2) способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 td и q(2)способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 q):

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

Из формулы (4) видно, что при достаточно больших временах t>td, где

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

скорость изменения температуры со временем описывается очень простой зависимостью:

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

Численное моделирование процессов тепло- и массопереноса в продуктивных пластах и в добывающей скважине показывает (фиг.2), что время t=td можно выделить на графике зависимости способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 от времени как начало участка постоянного значения логарифмической производной.

Если предположить, что размеры призабойных зон в различных пластах приблизительно равны (D1способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 D2), то по временам td,1 u t d,2, найденным для двух различных пластов, можно определить их относительные дебиты:

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

или

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

В общем случае относительные дебиты второго, третьего и т.д. пластов рассчитывают по формулам:

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

То есть в общем случае относительные дебиты Yi+1 пластов Yi+1=Qi+1 /(Q1+Q2+способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 +Qi+1), Qi+1 - дебит (i+1)-го пласта (i=1, 2,способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 ) рассчитывают по формуле:

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

где h1 - мощность первого пласта, td,1 - время, когда производная температуры выходит на постоянное значение на графике зависимости производной от температуры притока из первого пласта по логарифму времени, hi - мощность i-го пласта, td,i - время, когда производная температуры выходит на постоянное значение на графике зависимости производной от температуры притока из i-го пласта по логарифму времени, hi+1 - мощность (i+1)-го пласта, td,i+1 - время, когда производная температуры выходит на постоянное значение на графике зависимости производной от температуры притока из (i+1)-го пласта по логарифму времени.

Формула (1) получена для случая цилиндрически симметричного потока в пласте и околоскважинной зоны, которая имеет внешний радиус rd. Характер распределения температуры в околоскважинной зоне отличается от распределения температуры вдали от скважины. После смены дебита это распределение температуры сносится потоком флюида в скважину, в результате чего характер зависимости Tin(t) при малых временах (после изменения дебита) отличается от зависимости Тin(t), наблюдаемой при больших (t>td) временах. Из формулы (7) видно, что с точностью до коэффициента способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 объем добытого флюида, который требуется для перехода к новому характеру зависимости от времени температуры притекающего флюида Tin(t), определяется объемом околоскважинной зоны:

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

В случае проперфорированной скважины всегда имеется (независимо от распределения проницаемостей) околоскважинная зона, где характер распределения температуры отличается от распределения температуры в пласте вдали от скважины. Это область, где течение флюида не симметрично по отношению к оси скважины и размер этой области определяется длиной перфорационных каналов (Lp ):

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

Если предположить, что длины перфорационных каналов в различных продуктивных пластах приблизительно равны (Dp1способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 Dp2), то относительные дебиты пластов также определяются формулой (6). Формула (8) может быть уточнена путем введения численного коэффициента порядка 1.5-2.0, величина которого может быть определенна из сравнения с численными расчетами или с полевыми данными.

Для определения скин-фактора s пласта используется изменение способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 Td температуры притекающего в скважину флюида за время от начала изменения дебита до момента времени t d:

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

Используя формулу (4), находим:

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

здесь способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 Td - изменение температуры притока к времени t=td, (Р(1)(2)) - установившаяся разность между прежним и новым забойным давлением, которое устанавливается в скважине спустя несколько часов после изменения дебита скважины. Поскольку соотношение (4) не учитывает влияние конечной скорости перестройки поля давления в пласте, в формулу (10) добавлен безразмерной коэффициент с (приблизительно равный единице), величина которого уточняется путем сравнения с результатами численного моделирования.

Согласно (10) значение скин-фактора s рассчитывается по формулам

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

где способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

То есть скин-фактор si (i=1,2,способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 ) пластов рассчитывают по формуле

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878

где si - скин-фактор i-го пласта, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 ,

способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 =ln(re/rw), re - радиус дренажа, rw - радиус скважины, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 d=ln(rd/rw), rd - внешний радиус околоскважинной зоны, который определяется длиной перфорационных каналов, с - безразмерный коэффициент. способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 0 - коэффициент Джоуля-Томсона флюида, Р (1) и P(2) - давление на забое в скважине до и после изменения дебита, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 Td,i - изменение температуры притока из i-го пласта к времени td,i, когда производная температуры притока выходит на постоянное значение.

Таким образом, определение профиля притока и скин-факторов продуктивных пластов по результатам измерения температуры притока из различных продуктивных пластов включает в себя следующие операции:

1. В течение продолжительного времени (от 5 до 30 дней в зависимости от планируемой продолжительности и требований к точности измерений) из скважины осуществляют добычу с постоянным дебитом.

2. Изменяют дебит скважины, при этом измеряют изменение забойного давления и температуры Tin,i(t) флюидов, поступающих в скважину из различных продуктивных пластов.

3. Рассчитывают производные от температур притока dTin,i /dlnt и строят соответствующие графики.

4. Из этих графиков находят величины td,i как времена, начиная с которых производные dTin,i/dlnt принимают постоянные значения, и по формуле (6) рассчитывают относительные дебиты пластов.

5. Из графиков Tin,i(t) находят величины изменения температур способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 Td,i к временам td,i и из формулы (11) находят величины скин-факторов пластов.

Температура флюидов, втекающих в скважину из продуктивных пластов, может быть измерена с помощью, например, устройства, описанного в заявке WO 96/23957. Возможность определения профиля притока и скин-факторов продуктивных пластов с помощью предлагаемого способа проверялась на синтетических примерах, подготовленных с помощью численного симулятора добывающей скважины, который моделирует нестационарное поле давлений в системе скважина-пласты, неизотермическое течение сжимаемых флюидов в неоднородной пористой среде, смешение потоков в скважине и теплообмен скважина-пласт и т.д.

На Фиг.2-4 приведены результаты расчета для следующей модели двухпластовой скважины:

k1=100 мД, s1=0.5, h1=4 м;

k2 =500 мД, s2=7, h2=6 м.

Продолжительность добычи с дебитом Q1=300 м3/день tp =2000 часов; Q2=400 м3/день. Из Фиг.4 видно, что в рассматриваемом случае давление в скважине продолжает заметно изменяться даже через 24 часа. На Фиг.2 приведены графики производной температуры притока Тin,1 и Tin,2 от логарифма времени, прошедшего после изменения дебита скважины. На фигуре видно, что производные dT/dlnt выходят на постоянные значения соответственно при td,1=0.5 часа и td,2 =0.3 часа. По этим величинам находим относительный дебит верхнего пласта 0.72, что близко к истинному значению (0.77). Из графика зависимости температуры притока от времени (Фиг.3) по этим величинам находим способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 Td,1=0.064К, способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 Тd,2=0,152К. При расчете скин-факторов пластов по формуле (11) по полученным значениям способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 Td,1, и способ определения профиля притока флюидов и параметров околоскважинного   пространства, патент № 2460878 Td,2 расчетные значения скин-факторов при с=1.1 отличаются от истинных значений скин-факторов менее чем на 20%.

Класс E21B47/00 Исследование буровых скважин

способы и системы для скважинной телеметрии -  патент 2529595 (27.09.2014)
способ передачи информации из скважины по электрическому каналу связи и устройство для его осуществления -  патент 2528771 (20.09.2014)
способ исследования скважины -  патент 2528307 (10.09.2014)
наложение форм акустических сигналов с использованием группирования по азимутальным углам и/или отклонениям каротажного зонда -  патент 2528279 (10.09.2014)
гироинерциальный модуль гироскопического инклинометра -  патент 2528105 (10.09.2014)
устройство и способ доставки геофизических приборов в горизонтальные скважины -  патент 2527971 (10.09.2014)
способ наземного приема-передачи информации в процессе бурения и устройство для его реализации -  патент 2527962 (10.09.2014)
способ исследования скважины -  патент 2527960 (10.09.2014)
способ газодинамического исследования скважины -  патент 2527525 (10.09.2014)
способ гидродинамических исследований газонасыщенных пластов без выпуска газа на поверхность -  патент 2527089 (27.08.2014)

Класс E21B47/06 измерение температуры или давления

устройство для пофазного замера физических параметров флюида в горизонтальной скважине -  патент 2523335 (20.07.2014)
способ определения давления насыщения нефти газом -  патент 2521091 (27.06.2014)
система и способ оптимизирования добычи в скважине -  патент 2520187 (20.06.2014)
способ определения забойного давления в нефтяной скважине, оборудованной погружным электронасосом -  патент 2515666 (20.05.2014)
способ мониторинга внутрискважинных параметров (варианты) и система управления процессом добычи нефти -  патент 2509888 (20.03.2014)
способ определения профиля притока и параметров околоскважинного пространства в многопластовой скважине -  патент 2505672 (27.01.2014)
способ исследования технического состояния скважины -  патент 2500886 (10.12.2013)
аппаратура для исследования скважин -  патент 2500885 (10.12.2013)
способ гидрогазодинамических исследований скважин -  патент 2490449 (20.08.2013)
способ вызова притока пластового флюида из скважины -  патент 2485305 (20.06.2013)
Наверх