способ определения уровня низкочастотного электромагнитного излучения средств электронно-вычислительной техники

Классы МПК:G01R29/08 для измерения характеристик электромагнитного поля 
Автор(ы):,
Патентообладатель(и):Поволжская государственная академия телекоммуникаций и информатики
Приоритеты:
подача заявки:
2001-06-25
публикация патента:

Изобретение относится к технике радиоизмерений и может быть использовано при определении уровней электромагнитного излучения (ЭМИ), создаваемого радиоэлектронными средствами электронно-вычислительной техники (ЭВМ) различного назначения в полосе частот, включающей промышленную частоту 50 Гц. Технологическим результатом является повышение точности определения уровня ЭМИ ЭВМ за счет исключения влияния ЭМИ промышленной частоты 50 Гц на результат определения уровня исследуемого ЭМИ в полосе частот 5 Гц - 2 кГц. С помощью приемной антенны, фильтра и измерительного прибора измерение уровня исследуемого ЭМИ в полосе частот 5 Гц - 2 кГц производят дважды: в первом случае при отсутствии фильтра, во втором случае - при его наличии, а затем искомый результат определяется по приведенным в тексте формулам. 3 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3

Формула изобретения

Способ определения уровня низкочастотного электромагнитного излучения средств электронно-вычислительной техники, заключающийся тем, что с помощью приемной антенны, фильтра и измерительного прибора производится определение уровня электромагнитного излучения (ЭМИ), отличающийся тем, что измерение уровня исследуемого ЭМИ в полосе частот 5 Гц - 2 кГц, производят дважды: в первом случае при отсутствии фильтра, во втором случае - при его наличии, а затем искомый результат определяется по формулам

способ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825

способ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825

где Э0 - уровень исследуемого ЭМИ;

ЭФ - уровень ЭМИ промышленной частоты 50 Гц;

ЭI - результат измерения уровня ЭМИ при отсутствии фильтра;

ЭII - результат измерения уровня ЭМИ при наличии фильтра;

А=100,1 АdБ, А - затухание фильтра на частоте 50 Гц;

В=100,1 ВdБ, В - затухание фильтра на частотах выше 50 Гц;

способ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825 относительный "вес" первой гармоники Э1 энергетического спектра исследуемого ЭМИ из общего числа N гармоник, попадающих в полосу частот 5 Гц - 2 кГц;

n - номер гармоники с уровнем Эn, n [1;N].

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к технике радиоизмерений и можeт быть использовано при определении уровней электромагнитного излучения (ЭМИ), создаваемого радиоэлектронными средствами электронно-вычислительной техники (ЭВМ) различного назначения в полосе частот, включающей промышленную частоту 50 Гц.

Известны методы измерения ЭМИ, создаваемого ЭВМ, средствами офисной и бытовой техники в процессе их функционирования, целью которых является обеспечение максимально возможной метрологической точности определения характеристик ЭМИ в интересах экспертизы безопасности указанных средств [1-5].

Наиболее близким по технической сущности является способ измерения характеристик неионизирующего ЭМИ ЭВМ, который заключается в измерении уровней электрической напряженности поля Е, В/м; и магнитной индукции В, нТл; в двух полосах частот 5 Гц - 2 кГц и 2 - 400 кГц [6]. Известный способ позволяет определить уровни Е и В как в непосредственной близости от источника ЭМИ, так и в окружающем пространстве, чтобы затем на основе полученных данных произвести экспертизу. Например, если речь идет о безопасности ЭВМ для здоровья пользователей, результаты измерений следует сравнить с действующими нормативами [4-5] и сделать соответствующие выводы. В случае, если влиянием общего фона по ЭМИ (обычно определяемого ЭМИ промышленной частоты 50 Гц) в помещении, где размещены ЭВМ, на результаты измерений можно пренебречь, проведение экспертизы затруднений не вызывает (предельно допустимые уровни общего фона по ЭМИ приводятся в [6]).

В реальных условиях уровни общего фона по ЭМИ (за счет ЭМИ промышленной частоты 50 Гц) существенно превышают нормы [6] и правильная интерпретация полученных данных встречает трудности. Например, для ЭМИ ЭВМ согласно [4-6] нормами являются значения:

- ЕНЧ=25 В/м и ВНЧ=250 нТл при допустимых уровнях фона ЕНФ=2 В/м и

ВНФ=40 нТл в полосе частот 5 Гц - 2 кГц;

- ЕВЧ=2,5 В/м и ВВЧ=25 нТл при допустимых уровнях фона ЕВФ=0,2 В/м и

ВВФ=5 нТл в полосе частот 2 - 400 кГц.

В то же время в помещениях, где размещены ЭВМ, за счет дефектов электропроводки, других радиоэлектронных офисных и бытовых средств уровни общего фона достигают соответственно 40 - 100 В/м; 150 - 400 нТл в полосе частот 5 Гц - 2 кГц и 0,5 - 2 В/м; 1 - 1,5 нТл в полосе частот 2 - 400 кГц [1]. Особенно сложной при этом становится экспертиза безопасности по характеристикам ЕНЧ и ВНЧ в полосе частот 5 Гц - 2 кГц, поскольку нормы для ЭМИ ЭВМ [4-5] и ЭМИ промышленной частоты 50 Гц [7-9] не совпадают между собой.

Действительно, если приведенные уровни ЭМИ ЕНЧ и ВНЧ созданы ЭВМ, их следует считать опасными для людей со всеми вытекающими отсюда последствиями. Однако если они создаются источниками ЭМИ промышленной частоты, их же следует признавать безопасными, поскольку согласно [7] нормой для ЕНЧ является 500 В/м; согласно [8] - 5000 В/м; а согласно [9] норма для ВНЧ в течение 8-часового рабочего дня составляет 100 мкТл. Методические указания [10] ясности в ситуацию не вносят, поскольку рекомендация признавать безопасными ЭМИ, для которых разность значений ЕНЧ при включенных и выключенных ЭВМ не превышает 20 В/м, является научно необоснованной.

Решение проблемы состоит в разделении (расфильтровке) ЭМИ промышленной частоты 50 Гц и исследуемого ЭМИ (создаваемого ЭВМ) в полосе частот 5 Гц - 2 кГц. Однако указанная операция встречает трудности ввиду близости значений промышленной частоты f0=50 Гц и частот спектра исследуемого ЭМИ (например, частоты 1 первой гармоники сигнала кадровой развертки дисплея ЭВМ).

Техническим результатом предлагаемого изобретения является исключение влияния ЭМИ промышленной частоты 50 Гц на результат определения уровня исследуемого ЭМИ в полосе частот 5 Гц - 2 кГц.

Сущность предлагаемого способа заключается в том, что с помощью приемной антенны, фильтра и измерительного прибора измерение уровня исследуемого ЭМИ в полосе частот 5 Гц - 2 кГц производят дважды: в первом случае при отсутствии фильтра, во втором случае - при его наличии, а затем искомый результат определяют по формулам

способ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825

способ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825

где Э0 - уровень исследуемого ЭМИ;

ЭФ - уровень ЭМИ промышленной частоты 50 Гц;

ЭI - результат измерения уровня ЭМИ при отсутствии фильтра;

ЭII - результат измерения уровня ЭМИ при наличии фильтра;

А=100,1АdБ, А - затухание фильтра на частоте 50 Гц;

В=100,1ВdБ, В - затухание фильтра на частотах выше 50 Гц;

способ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825 - относительный "вес" первой гармоники Э1 энергетического спектра исследуемою ЭМИ из общего числа N гармоник, попадающих в полосу частот 5 Гц - 2 кГц;

n - номер гармоники с уровнем Эn, n [1; N].

На фиг. 1 приведена структурная схема аппаратурной реализации предлагаемого способа.

На фиг. 2 приведены идеальная (штриховая кривая) и реальная (сплошная кривая) частотные характеристики затухания фильтра.

На фиг. 3 представлены нормированные временные зависимости пилообразного тока кадровой развертки i0(t) и его первой производной i1(t).

Способ осуществляется следующим образом.

Антенна 1 ориентируется на источник исследуемого ЭМИ (см. фиг.1) и с помощью измерительного прибора 3 определяется ЭI - результат измерения уровня ЭМИ при отсутствии фильтра 2. Затем аналогичным образом определяется ЭII - результат измерения уровня ЭМИ при наличии фильтра 2, частотная характеристика затухания которого считается известной (см. фиг.2). В полосу пропускания 5 Гц - 2 кГц измерительного прибора 3 попадают N гармоник исследуемого ЭМИ, поэтому

ЭI 20 2Ф 2, (1)

где способ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825 - уровень исследуемого ЭМИ,

n - номер гармоники с уровнем Эn из общего числа N гармоник, попадающих в полосу частот 5 Гц... 2 кГц, n [1; N];

Эф - уровень ЭМИ промышленной частоты 50 Гц.

Аналогичным образом, поскольку частота первой гармоники исследуемого ЭМИ близка значению промышленной частоты 50 Гц

ЭII 2=АЭФ 2+АЭI 2-ВЭI 2+ВЭ0 2=АЭФ 2+(А-В)ЭI 2+ВЭ0 2, (2)

где А=100,1AdБ, А - затухание фильтра на частоте 50 Гц;

В=100,1ВdБ, В - затухание фильтра на частотах выше 50 Гц;

способ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825 - относительный "вес" первой гармоники ЭI энергетического спектра исследуемого ЭМИ из общего числа N гармоник, попадающих в полосу частот 5 Гц - 2 кГц.

Так как форма энергетического спектра исследуемого ЭМИ, соответствующего, например, пилообразному сигналу, последовательности прямоугольных импульсов и т. д. (см. фиг. 3) является типовой, детерминированное значение способ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825 известно точно. Тогда из (2) следует

ЭII 2=АЭФ 2+[В+(А-В)С]Э0 2 (3)

Формулы (1) и (3) представляют собой систему двух уравнений с двумя неизвестными, поскольку значения параметров фильтра А и В также известны. Поэтому однозначным образом

способ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825

способ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825

Согласно [1] в ближней зоне элементарного рамочного излучателя (модель дисплея ЭВМ с электронно-лучевой трубкой) напряженность поля Е и плотность потока магнитной индукции В можно представить как

Е=Еmспособ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825i0(t); В=Bmспособ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825i1(t), (6)

где Em и Вm - максимальные значения соответственно для Е и В; графики i0(t) и i1(t) см. на фиг.3.

Энергетические спектры составляющих ЭМИ, соответствующие (6), подробно проанализированы в [1]. Из этих данных следуют расчетные формулы:

- при определении в качестве Э плотности магнитного потока

способ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825

- при определении в качестве Э напряженности электрического поля E

способ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825

В случае f1= f0=50 Гц; N=40 при (способ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 2187825/Т)<<1 из (7) и (8) получаем СBспособ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 21878250,6; СЕспособ определения уровня низкочастотного электромагнитного   излучения средств электронно-вычислительной техники, патент № 21878250,025. Предлагаемый способ прост, эффективен и удобен для практической реализации.

ЛИТЕРАТУРА

1. Маслов О.Н. Электромагнитная безопасность радиоэлектронных средств. М.: МЦНТИ, Мобильные коммуникации, 2000. - 82 с.

2. Готовский Ю. В., Перов Ю.Ф. Электромагнитная безопасность и офисе и дома (видеодисплейные терминалы и сотовые телефоны). М.: "Имедис". 1998. - 17 с.

3. Обеспечение электромагнитной безопасности при эксплуатации компьютерной техники. Справочное руководство. Под ред. Туркевича А.А. М.: ГНПП "Циклон-Тест", 1998. - 112 с.

4. Гигиенические требования к видеодисплейным терминалам, персональным электронно-вычислительным машинам и организация работы. СанПиН 2.2.2.542-96. М.: Госкомсанэпиднадзор России, 1996.

5. ГОСТ Р 50948-96. Средства отображения информации индивидуального пользования. Общие эргономические требования и требования безопасности. Введен 11.09.96. 576.

6. ГОСТ Р 50949-96. Средства отображения информации индивидуального пользования. Методы измерений оценки эргономических параметров и параметров безопасности. Введен 11.09.96. 577.

7. Санитарные нормы допустимых уровней физических факторов при применении товаров народного потребления в бытовых условиях. МСанПиН 001-96, Госкомсанэпиднадзор России, 1996.

8. Санитарные нормы и правила выполнения работ в условиях воздействия электрических полей промышленной частоты (50 Гц). СНиП 5802-91. Госкомсанэпиднадзор РФ. 1993.

9. Переменные магнитные поля промышленной частоты (50 Гц) в производственных условиях. СанПиН 2.2.4.723-98. Федеральный центр Госсанэпиднадзора Минздрава РФ. 1999.

10. Методические материалы по измерению электромагнитных полей от видеомониторов и ПЭВМ. Федеральный центр Госсанэпиднадзора Минздрава РФ. исх. 12 РУ/1437 от 02.09.97.

Класс G01R29/08 для измерения характеристик электромагнитного поля 

устройство контроля электромагнитного поля вторичных излучателей -  патент 2527315 (27.08.2014)
способ и система мониторинга электромагнитных помех во временной области -  патент 2516201 (20.05.2014)
радиометр с трехопорной модуляцией -  патент 2510513 (27.03.2014)
устройство для определения, по меньшей мере, одной величины, связанной с электромагнитным излучением тестируемого объекта -  патент 2510512 (27.03.2014)
устройство и способ для определения, по меньшей мере, одной величины, характеризующей электромагнитное излучение исследуемого объекта -  патент 2510511 (27.03.2014)
способ динамического обнаружения малогабаритных скрытых средств, способствующих утечке информации, несанкционированно установленных на подвижном объекте -  патент 2503023 (27.12.2013)
способ определения местоположений и мощностей источников излучения однопозиционной локационной станцией -  патент 2499273 (20.11.2013)
сканирующий радиометр -  патент 2495443 (10.10.2013)
индикатор поля свч излучения -  патент 2485670 (20.06.2013)
радиометр для измерения глубинных температур объекта (радиотермометр) -  патент 2485462 (20.06.2013)
Наверх