пенальный экспонометрический калькулятор

Классы МПК:G01J1/00 Фотометрия, например фотографические экспозиметры
Патентообладатель(и):Виноградов Александр Иванович[BY]
Приоритеты:
подача заявки:
1991-02-20
публикация патента:

Использование: фотография, экспонометрия. Сущность изобретения: калькулятор состоит из основания с нанесенными на него шкалами значений экспозиции и значений характеристической кривой с двумя или одной метками, и трех пластинок, установленных с возможностью перемещения относительно основания со шкалами значений диафрагмы, выдержек, яркости белого и черного эталонов, а на шкале значений яркости белого и черного эталонов нанесены одна или две метки соответственно нанесению меток на основании. 4 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4

Формула изобретения

ПЕНАЛЬНЫЙ ЭКСПОНОМЕТРИЧЕСКИЙ КАЛЬКУЛЯТОР для расчета значений выдержки и диафрагмы фотоаппарата по значениям яркости белого и черного эталонов, включающий основание и две пластинки со шкалами значений диафрагмы и выдержек соответственно, установленных с возможностью перемещения относительно основания, отличающийся тем, что, с целью повышения точности за счет учета характеристической кривой используемого фотоматериала, в него дополнительно введена пластинка со шкалой значений яркости белого и черного эталонов и одной или двумя метками, установленная с возможностью перемещения относительно основания, а на основание нанесены шкала значений экспозиции, шкала значений характеристической кривой с двумя или одной метками соответственно.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к фотографической экспонометрии и может найти применение в фотографии.

Известен калькулятор-экспонометрическая линейка, предназначенная для проведения экспонометрии по характеристической кривой фотоматериала (Гордийчук И.Б., Пепль В.Г. Справочник кинооператора, М., 1979, с.343-344; Головня А.Д. Экспонометрия киносъемки. М., 1966, с.56-61).

Указанный калькулятор состоит из шкал физических значений диафрагм, освещенности объекта, коэффициента отражения объекта. В обойму калькулятора вставляется экспонометрический бланк, показывающий значения освещенности фотопленки для сенситометрического ряда экспозиций при выдержке 1/60 с.

Этот калькулятор больше подходит для экспонометрии, применяемой в кино. При применении этого калькулятора в фотографии необходимо для каждой выдержки иметь свой экспонометрический бланк. Шкалы освещенности фотослоя не откорректированы на различие освещенности в сенситометре и аппарате.

Известен механизм для определения экспозиции в зеркальной камере, снабженной объективом (патент США N 3461783, кл. G 01 J 1/10, 1983).

Калькулятор (механизм) экспозиции состоит из дисков, на которые нанесены шкалы выдержек, диафрагм и чувствительности пленки. Диски насажены на общую ось и связаны фрикционно между собой.

Вращение от диска чувствительности пленки при помощи зубчатой передачи передается на движок потенциометра, включенного в цепь гальванометра и фотоэлементов, и на дополнительную вращающуюся шкалу диафрагм, числа которой наблюдаются в поле зрения видоискателя. Перемещение шкал калькулятора передается на кольцо регулирования экспозиции.

Недостатки этого калькулятора состоят в том, что он не позволяет использовать характеристическую кривую для расчета экспозиции, а также предвидеть плотность (с некоторым отклонением) отдельных деталей кадра.

Целью изобретения является повышение точности определения экспозиции, обеспечение возможности расчета плотности (с некоторой точностью) негативного изображения полей черно-белого эталона, относительно которой будут представляться плотности отдельных деталей кадра, получение негативов с минимально необходимой плотностью и тем самым повышение выхода регенерированного серебра из фиксажного раствора.

Поставленная цель достигается тем, что составлен калькулятор плотностей негативного изображения полей черно-белого эталона по характеристической кривой фотоматериала. Для этого введены подвижная шкала яркостей черно-белого эталона и соответствующая ей шкала освещенности фотослоя в фотоаппарате для нормального объекта при диафрагме 4, замеренная фотометрически по плотностям характеристической кривой фотопленки с номинальной чувствительностью.

Шкала экспозиций характеристической кривой (при выдержке 1 с) используется и как шкала освещенности фотослоя.

Калькулятор имеет подвижные шкалы диафрагм и выдержек, шкалу значений характеристической кривой. Шкалы имеют метки для проведения вычислений.

На фиг. 1 изображен калькулятор в плане; на фиг.2 представлена схема передвижки шкал калькулятора; на фиг.3 - черно-белый эталон в плане; на фиг.4 - эталон плотностей в плане.

Собственно калькулятор (фиг.1) выполнен в виде пластины 1 с продольными углублениями типа "ласточкина хвоста", в которых перемещаются пластинки 2-5. На пластинках нанесены шкалы диафрагм (Дф), выдержек (В), яркостей черно-белого эталона (Св-2, Л-8) (в обозначениях конкретных шкал экспонометров-яркометров "Свердловск-2; Ленинград-8"), шкалы характеристической кривой D = f(bgH) (в табличном виде). Шкала характеристической кривой слегка приклеивается к пластине 2. Шкала экспозицией Н, лкхС неподвижна. Она используется и как шкала освещенности фотослоя, так как при выдержке 1 с экспозиция численно равна освещенности фотослоя.

Для четкой фиксации шкал на каждой ступени в пластинках 2-5, имеются углубления, в которые немного утоплены четыре шарика 6, находящихся в четырех отверстиях основной пластины 1, как в сепараторе. Шарики прижимаются плоской изогнутой пружиной 7, которая накрывается коробчатой крышкой 8. Крышка крепится к основанию двумя винтами 9.

Базовое положение шкал. При экспонировании по белому полю черно-белого эталона отметка 4Б шкалы Дф, отметка 1Б шкалы В и отметка 500 Б шкалы Св-2, Л-8 стоят напротив отметки 320Б шкалы Н.лкхс.

При экспонировании по черному полю черно-белого эталона вышеуказанные отметки 4Б, 1Б и 500 Б ставят напротив отметки 40ч шкалы Н, лкхс.

Черно-белый эталон (фиг.3) представляет собой карту 10 с одной стороны которой наклеена черная защитная фотобумага, матовой стороной наружу, на другой стороне наклеена белая подложка фотобумаги. На черной стороне эталона нанесены тонкие белые метки 11, на белой стороне эталона - тонкие черные метки 11.

Эталон плотностей (фиг.4) представляет собой сенситограмму 12, которая зажата между двумя тонкими стеклами 13. Сверху сенситограммы, между стеклами, зажата полоска бумаги 11 с обозначениями плотностей полей сенситограммы. Ниже сенситограммы между стеклами оставлена сквозная щель, в которую вставляется сравниваемый образец 15 и перемещается вдоль сенситограммы.

Экспонометрическим калькулятором пользуются следующим образом. В начале производят замер яркости черно-белого эталона, а затем калькулируют необходимую экспозицию по калькулятору.

Примерно на вытянутой руке, по нормали к фотоаппарату и объекту съемки, держат черно-белый эталон. Видоискатель экспонометра "Сверловск-2" совмещают светящиеся метки видоискателя с метками 11 на черно-белом эталоне и производят замер яркости белого или черного поля эталона.

Например, получили яркость белого поля эталона 125. Вначале контролируют, чтобы отметка 500 Б шкалы Св-2, Л-8 стояла напротив отметки 320 Б шкалы Н (базовое положение шкалы Св-2, Л=8 относительно шкалы Н при экспонировании по белому полю эталона).

Отметку 4Б шкалы диафрагм ставят напротив числа 125 шкалы яркостей Св-2, Л-8 (фиг.2). Если поставить отметку 1Б (1с) шкалы выдержек напротив отметки 4Б шкалы диафpагм, то это будет означать, что при яркости белого поля эталона 125, диафрагме 4 и выдержке 1 с получают экспозицию 80 лкхс - шкалы Н.

Выбирают диафрагму 8. Напротив числа 8 шкалы Дф ставят отметку 1Б шкалы В. Напротив необходимой выдержки шкалы В выбирают, двигаясь по вертикали, необходимую предполагаемую плотность белого поля эталона, шкала Д. Например, выбрали выдержку 1/32, напротив на шкале D читают предполагаемую плотность 1,2.

Если экспонируют по черному полю эталона, то устанавливают шкалу Св-2, Л-8 относительно шкалы Н так, чтобы отметка 500Б шкалы Св-2, Л-8 стала напротив отметки 50ч шкалы Н. Далее калькуляцию экспозиции и плотности производят, как и при экспонировании по белому полю эталона.

Отклонение плотности негативного изобретения черно-белого эталона от заданной при пробной съемке определяют, используя эталон плотностей (фиг. 4).

Если полученная плотность черно-белого эталона отличается от заданной (с некоторым отклонением) на определенное число ступеней плотности, согласно линейному участку характеристической кривой для фотопленки с номинальной чувствительностью, то вводят текущую коррекцию и калькуляцию экспозиции для данной партии фотопленки, т.е. меняют базовое положение шкалы яркости Св-2, Л-8 относительно шкалы Н (она же шкала освещенности фотослоя) на нужное число ступеней в ту или другую сторону.

Использование предлагаемого калькулятора экспозиции позволяет получать негативы с минимально необходимой плотностью и, как следствие, увеличить выход регенерированного серебра из фиксажного раствора.

Класс G01J1/00 Фотометрия, например фотографические экспозиметры

способ получения инфракрасного излучения -  патент 2529755 (27.09.2014)
способ термостабилизации фотодиода для измерения его электрических характеристик -  патент 2525151 (10.08.2014)
способ сканирования поля яркости и фотооптическая система для его осуществления -  патент 2524054 (27.07.2014)
ультрафиолетовое устройство разведки целей -  патент 2520726 (27.06.2014)
фотоприемное устройство для измерения энергетических параметров вакуумного ультрафиолетового излучения -  патент 2519519 (10.06.2014)
оптический солнечный датчик -  патент 2517979 (10.06.2014)
калибруемое устройство для измерения чувствительности и пороговой энергии фотоприемных устройств с оптической системой -  патент 2515132 (10.05.2014)
устройство подачи воздуха в фотометре пламенном -  патент 2511966 (10.04.2014)
устройство визуализации источников терагерцового излучения -  патент 2511070 (10.04.2014)
приемник импульсного оптического излучения -  патент 2511069 (10.04.2014)
Наверх